Invention Grant
- Patent Title: 主干控制器的测试系统及测试方法
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Application No.: CN201710055591.6Application Date: 2017-01-25
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Publication No.: CN106547268BPublication Date: 2023-07-28
- Inventor: 刘超
- Applicant: 常州今创电工有限公司
- Applicant Address: 江苏省常州市武进高新技术产业开发区人民东路158号2号楼
- Assignee: 常州今创电工有限公司
- Current Assignee: 常州今创电工有限公司
- Current Assignee Address: 江苏省常州市武进高新技术产业开发区人民东路158号2号楼
- Agency: 常州格策知识产权代理事务所
- Agent 徐静
- Main IPC: G05B23/02
- IPC: G05B23/02

Abstract:
本发明公开了一种主干控制器的测试系统及测试方法,测试系统包括硬件部分和软件部分,硬件部分包括工控机、数显张力计、数显推力计、电子塞规、转换开关、开关量采样模块、电阻测试仪和打印机,软件部分是系统人工交互接口和控制功能的实现部分,测试方法包括通过硬件部分和软件部分分别对主干控制器进行手柄档位推力检测、触点张力检测、触点间隙检测和触点电阻检测,然后将数据记录在相应表格里。通过上述方式,本发明主干控制器的测试系统及测试方法能够对主干控制器进行半自动检测,自动完成测试数据的记录和报表的生成与打印,减少了检验出错的可能性,减少了检验人员的工作量,提高了主干控制器的检测准确度。
Public/Granted literature
- CN106547268A 主干控制器的测试系统及测试方法 Public/Granted day:2017-03-29
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