跌落测试系统
    82.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102735414A

    公开(公告)日:2012-10-17

    申请号:CN201110094635.9

    申请日:2011-04-15

    CPC classification number: G01M7/08 G01M1/00

    Abstract: 一种跌落测试系统,包括一跌落机及一跌落平台,所述跌落机包括一底座及一垂直固定于该底座上的支撑杆,所述跌落平台固定于所述支撑杆上,所述跌落平台包括一底板、若干装设于所述底板上的限位板和滚珠、及位于所述滚珠上用于承载待测产品的活动板,所述活动板安装于限位板之间并可在所述滚珠上滑动,当待测产品的重力作用线与所述活动板对待测产品的支持力作用线位于同一条直线时,所述活动板受力平衡而相对于底板处于一静止状态;当待测产品的重力作用线与所述活动板对待测产品的支持力作用线位于不同的直线时,所述活动板受力不平衡而相对于底板处于一运动状态。

    测试装置
    83.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102411109A

    公开(公告)日:2012-04-11

    申请号:CN201010288808.6

    申请日:2010-09-21

    CPC classification number: G01M99/007 F16B2/065 F16B5/0628

    Abstract: 一种测试装置,用于待测产品与电子装置的接口之间的插拔测试,包括有支架、推动结构、及用以夹持待测产品的夹持结构,所述推动结构包括有与所述支架固定在一起的套设件、活动收容于套设件中的驱动件、及固定在套设件与驱动件之间的弹性元件,所述驱动件与所述夹持结构固定在一起,并可沿一靠近所述接口的方向移动,同时驱使弹性元件弹性变形,以使所述待测产品插入所述接口内,所述弹性元件可弹性回复以使所述驱动件带动所述夹持结构沿一远离所述接口的方向移动,以使所述待测产品脱离所述接口。

    计算机开关机测试电路
    85.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101576840B

    公开(公告)日:2013-02-13

    申请号:CN200810301426.5

    申请日:2008-05-06

    CPC classification number: G06F11/24

    Abstract: 一种计算机开关机测试电路,用于测试待测计算机的开关机性能,包括一与所述待测计算机相连以控制所述待测计算机开关机状态的开关模组,所述计算机开关机测试电路还包括一与所述开关模组相连以控制所述开关模组的开合状态的控制芯片,所述控制芯片内烧录有测试程序且在所述测试程序运行时发出周期性的高/低电平信号至所述开关模组以控制所述开关模组重复切换所述待测计算机的开关机状态,所述测试程序设定所述高/低电平信号的切换频率及保持时间。本发明计算机开关机电路可按照测试要求自动地对计算机进行开关机测试,测试效率高。

    测试装置
    86.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102479558A

    公开(公告)日:2012-05-30

    申请号:CN201010566395.3

    申请日:2010-11-30

    CPC classification number: G06F11/2733 G11B25/043 G11B33/12

    Abstract: 一种用于电子产品插拔测试的测试装置,包括一推动结构及一夹持结构,推动结构包括一导气管及收容于导气管中的一活动杆及一弹性元件,弹性元件的一端连接活动杆,弹性元件的另一端连接在导气管中,活动杆与夹持结构固定在一起,导气管用于接收外部输入的气压而驱动活动杆,活动杆用于在被气压驱动后使夹持结构中的待测产品沿一第一方向插入接口,并驱使弹性元件弹性变形,弹性元件用于在气压消退时弹性回复使活动杆带动夹持结构沿一与第一方向相反的第二方向移动而使待测产品与接口分离。本发明测试装置提高了产品插拔测试的效率。

    温度控制系统
    87.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102129262A

    公开(公告)日:2011-07-20

    申请号:CN201010300479.2

    申请日:2010-01-20

    Abstract: 一种温度控制系统,包括一用于感测一环境温度的温度感测模组,所述温度控制系统还包括一与所述温度感测模组相连的温度控制模组、一与所述温度控制模组相连的脉宽调制控制模组及一调温模组,所述温度控制模组将环境温度与一预设温度比较后,根据环境温度与预设温度之间的差值输出一控制信号至所述脉宽调制控制模组,所述脉宽调制控制模组根据所述控制信号输出一控制调温模组调温速率的脉宽调制信号。本发明防止了加热与散热过程中的过冲现象,节约了电能并减少了噪声。

    计算机开关机测试电路
    88.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101576840A

    公开(公告)日:2009-11-11

    申请号:CN200810301426.5

    申请日:2008-05-06

    CPC classification number: G06F11/24

    Abstract: 一种计算机开关机测试电路,用于测试待测计算机的开关机性能,包括一与所述待测计算机相连以控制所述待测计算机开关机状态的开关模组,所述计算机开关机测试电路还包括一与所述开关模组相连以控制所述开关模组的开合状态的控制芯片,所述控制芯片内烧录有测试程序且在所述测试程序运行时发出周期性的高/低电平信号至所述开关模组以控制所述开关模组重复切换所述待测计算机的开关机状态,所述测试程序设定所述高/低电平信号的切换频率及保持时间。本发明计算机开关机电路可按照测试要求自动地对计算机进行开关机测试,测试效率高。

    电脑开关机测试装置
    89.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102650963A

    公开(公告)日:2012-08-29

    申请号:CN201110044754.3

    申请日:2011-02-24

    CPC classification number: G06F11/2284

    Abstract: 一种电脑开关机测试装置,用以对电脑开关机过程中电脑主机的稳定性进行测试,包括一控制模块、一开关模块、一显示模块及一供电模块,所述控制模块用以发出控制信号,所述开关模块接收控制信号,并根据所述控制信号为电脑主机提供一第一电压信号,所述供电模块用以为控制模块、开关模块和显示模块提供工作电压,所述控制模块内设有电脑开关机测试次数,所述控制模块在电脑反复开关机过程中记录电脑主机的开关机时间和当前开关机测试次数,并将电脑主机的异常开关机次数和异常开关机时的时间信息显示在所述显示模块上。

    检测装置
    90.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102621017A

    公开(公告)日:2012-08-01

    申请号:CN201110028267.8

    申请日:2011-01-26

    Abstract: 一种检测装置,用于检测一旋转挡片的耐疲劳度,包括一用于推动所述旋转挡片转动的推动模组,所述检测装置还包括一用于夹持所述旋转挡片的夹持模组,所述推动模组包括一抵接所述夹持模组的弹性推杆,所述弹性推杆内装有一弹性件,所述弹性件被压缩时推动所述夹持模组以使所述旋转挡片转动,所述弹性件被释放后带动所述旋转挡片转回初始位置。本发明检测装置可利用所述推动模组及夹持模组的联动机构反复推动待测旋转挡片转动以测试旋转挡片的耐疲劳度。

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