-
公开(公告)号：CN1255804C
公开(公告)日：2006-05-10
申请号：CN01112398.2
申请日：2001-04-06
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B19/04 , G11B27/36 , G11B2220/20
Abstract: 一种用于检验在不进行认证的情况下执行初始化时光盘的缺陷管理区(DMA)信息的方法及执行该方法的测试设备。该方法包括：产生缺陷管理信息作为测试信息，该信息是在对其上未写入数据的空白测试盘在不进行认证的情况下执行初始化之后产生的；和使用用于在不进行认证的情况下执行初始化的基准测试信息来检验测试信息，以提供测试结果。因此，可容易地采用空白测试盘来检验记录和再现设备是否正确地翻译和处理在不进行认证的情况下执行初始化之后产生的DMA信息。
-
公开(公告)号：CN1757062A
公开(公告)日：2006-04-05
申请号：CN200480005578.0
申请日：2004-06-11
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/004
CPC classification number: G11B7/1267 , G11B7/00736 , G11B7/0953 , G11B7/24038 , G11B2007/0013
Abstract: 一种能够控制最佳记录功率的信息存储介质，一个层中的最佳功率控制(OPC)区不影响不同层中的OPC区。所述信息存储介质包括至少一个信息存储层，所述信息存储层包括用于获得光记录条件的最佳功率控制区。相邻的信息存储层中的OPC区被布置在所述信息存储介质的不同半径之内。因此，即使当所述信息存储介质被偏心或具有制造误差时，也可以防止由一个信息存储层中的OPC区对相邻的信息存储层中的OPC区的影响所导致的所述信息存储介质的记录性质的降低。
-
公开(公告)号：CN1754212A
公开(公告)日：2006-03-29
申请号：CN200480005000.5
申请日：2004-03-11
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 一种允许数据区的管理的一次写入式盘、一种管理一次写入式盘的数据区的方法、一种将数据记录在一次写入式盘上的设备、一种从一次写入式盘中再现数据的设备和方法。一次写入式盘包括：导入带、数据区、和导出带。一次写入式盘包括存储指示数据区的至少一个扇区是否被分配用于盘缺陷管理的区分配信息的预定区。在盘和方法中，指定数据区的结构的区分配信息被记录在盘上，因此允许记录/再现设备识别数据区结构。因此，可将除用于存储用户数据的区之外的用于盘缺陷管理的诸如备用区的区分配至数据区。将用于盘缺陷管理的区分配至数据区保证一次写入式盘的有效使用。
-
公开(公告)号：CN1708791A
公开(公告)日：2005-12-14
申请号：CN200380102288.3
申请日：2003-10-27
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/004 , G11B7/0945 , G11B2007/0006
Abstract: 一种光盘包括跟踪极性信息。所述的光盘包括夹紧区、导入区、数据区和烧录区(BCA)。所述的BCA存在于夹紧区和导入区之间，并且在所述的BCA中记录关于所述光盘的信息，在数据区中执行跟踪之前读取所述的信息。因此，可获得跟踪极性信息和/或反射率信息，而没有试错，并且可直接在所述光盘的数据区中记录或再现用户数据。
-
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1694171A
公开(公告)日：2005-11-09
申请号：CN200510068326.9
申请日：2005-05-08
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B19/04 , G11B19/02 , G11B19/12 , G11B20/00086 , G11B20/00702 , G11B20/1217 , G11B20/1883 , G11B2020/1278 , G11B2020/1826 , G11B2220/20
Abstract: 一种信息记录介质、一种记录/再现方法和设备、以及一种主机设备，被提供以确保具有新标准和现有标准驱动器系统的功能的信息记录介质之间的兼容性。该信息记录介质包括：数据区域；缺陷管理区域，用于管理在数据区域中发生的缺陷；和访问控制区域，其中记录关于由该介质被载入其中的记录/再现设备可识别的功能的访问控制数据和关于由该记录/再现设备不可识别的功能的访问控制数据，其中，记录在缺陷管理区域中的写保护标志和记录在访问控制区域中的访问控制数据提供用于核查该介质是否可重新初始化的重新初始化核查信息。
-
公开(公告)号：CN1675708A
公开(公告)日：2005-09-28
申请号：CN03818993.3
申请日：2003-08-11
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B20/18
CPC classification number: G11B7/005 , G11B20/1883 , G11B2007/0013 , G11B2020/1873 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/235 , G11B2220/2537
Abstract: 一种具有临时缺陷管理信息区域和缺陷管理区域的盘，包括：缺陷管理区域，位于引入区域、引出区域和外部区域中的至少一个中；临时缺陷信息区域，形成于数据区域中，并且在其中记录临时缺陷信息；和临时缺陷管理信息区域，位于引入区域和引出区域中的至少一个中。因此，可以将用户数据记录在可记录盘尤其是一次写入盘，同时对其执行缺陷管理，从而实现具有有限记录容量的缺陷管理区域的有效使用。
-
公开(公告)号：CN1675692A
公开(公告)日：2005-09-28
申请号：CN03819548.8
申请日：2003-03-19
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B19/122 , G11B20/10 , G11B20/1883 , G11B2020/1285 , G11B2220/20 , G11B2220/21
Abstract: 提供了一种光学信息存储介质和在所述光学信息存储介质上记录信息的方法。所述光学信息存储介质包括导入区、在其中记录用户数据的用户数据带、和导出区。在导入区和导出区的至少一个中记录写保护信息连同缺陷管理信息。
-
公开(公告)号：CN1672196A
公开(公告)日：2005-09-21
申请号：CN03818077.4
申请日：2003-07-23
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B7/00736 , G11B20/10 , G11B20/10009 , G11B20/1217 , G11B20/1833 , G11B27/329 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 一种信息存储介质(盘)，包括区域和用户数据区域。该区域包括具有关于驱动器的信息和关于盘的状态的信息被记录在其中的驱动器和盘区的可记录区。该驱动器和盘区包括多个物理簇或ECC块，并且关于驱动器的信息和关于盘的状态的信息被记录在相同物理簇或ECC块中或者不同的物理簇或ECC块中。
-
公开(公告)号：CN1656441A
公开(公告)日：2005-08-17
申请号：CN03811861.0
申请日：2003-04-11
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F3/06
CPC classification number: G11B27/329 , G11B2220/2562
Abstract: 提供一种支持交互模式信息存储介质和一种从该信息存储介质再现数据的方法和装置。该方法包括：(a)将访问标记语言文档所必需的至少部分搜索信息高速缓冲在存储器中；和(b)通过参照高速缓冲的搜索信息来读取标记语言文档。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
599
records
(took 0.092 seconds)
