一种制备塑料闪烁体薄膜的方法

    公开(公告)号:CN108407171B

    公开(公告)日:2019-12-27

    申请号:CN201810054849.5

    申请日:2018-01-19

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明涉及一种制备塑料闪烁体薄膜的方法,将塑料闪烁块体在室温条件下溶于甲苯中,搅拌至完全溶解并密封静置12‑24小时;清洗基底;用提拉机将洗净的基底的一端夹住且保持竖直,同时将装有塑料闪烁体溶液的烧杯放在基底的正下方,让基底浸入溶液中进行浸渍,然后将基底慢速从溶液中提拉出来,待完全离开溶液后基底表面形成一层湿膜,保持基底静止不动挥发掉甲苯使薄膜初步固化,重复上述步骤将基底倾斜避光放置在干燥环境下3‑4天,薄膜中的甲苯溶剂完全挥发后固化,将延薄膜边缘划出开口使薄膜与基底分离,制备得到塑料闪烁体薄膜。与现有技术相比,本发明可以制备自支撑厚度为10‑200微米的塑料闪烁体薄膜。

    像素化结构ZnO:Ga单晶纳米棒阵列α粒子闪烁转换屏及其制备方法和应用

    公开(公告)号:CN110359023A

    公开(公告)日:2019-10-22

    申请号:CN201910682302.4

    申请日:2019-07-26

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明涉及一种像素化结构ZnO:Ga单晶纳米棒阵列α粒子闪烁转换屏及其制备方法和应用,该α粒子闪烁转换屏包括镀有ZnO种子层薄膜的基片、垂直于基片在ZnO种子层薄膜上生长出的ZnO:Ga单晶纳米棒阵列和蒸镀于ZnO:Ga单晶纳米棒阵列上的铝膜,ZnO:Ga单晶纳米棒阵列的ZnO的晶格中掺杂有氢原子;可应用于高空间和时间分辨率、高信噪比的α粒子探测与成像,尤其是氘氚反应快中子伴随α粒子探测与成像的探测器中。与现有技术相比,本发明的α粒子闪烁转换屏具有发光衰减时间快,空间分辨率高,信噪比高,组份稳定、厚度均匀,附着基底牢固,结构简单、易制备且成本低等优点。

    一种用于闪烁探测系统的光子晶体移波器件

    公开(公告)号:CN105204114B

    公开(公告)日:2018-08-28

    申请号:CN201510598133.8

    申请日:2015-09-18

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明涉及一种用于闪烁探测系统的光子晶体移波器件,包括基底层和基底层上面布置的发光薄膜层,还包括布置在发光薄膜层上面的光子晶体层,所述的光子晶体层由排列呈周期阵列的介质柱构成,介质柱垂直布置于发光薄膜层上表面,介质柱的材料对发光薄膜层发射的光透明。与现有技术相比,本发明具有高的转换效率和高度的光发射方向调控能力,而且能够提高对紫外等闪烁荧光的探测效率。

    一种复合光子晶体结构闪烁体

    公开(公告)号:CN106842384A

    公开(公告)日:2017-06-13

    申请号:CN201710146652.X

    申请日:2017-03-13

    Applicant: 同济大学

    CPC classification number: G02B1/118 G02B1/005

    Abstract: 本发明涉及一种复合光子晶体结构闪烁体,包括闪烁体基底、布置在闪烁体基底上的减反射层、布置在减反射层上的光子晶体层,减反射层由具有梯度折射率的锥形体或锥台体呈周期阵列或无序阵列构成,光子晶体层为内部形成周期性空气孔洞的高折射率材料层。与现有技术相比,本发明利用特定的减反层和光子晶体层相互结合,将菲涅尔反射和全内反射通盘考虑加以克服,最大限度提高光输出的效率,所采用技术方案易于低成本制备大面积样品,有利于实际应用和推广。

    一种复合结构光子晶体闪烁体

    公开(公告)号:CN106094003A

    公开(公告)日:2016-11-09

    申请号:CN201610338660.X

    申请日:2016-05-20

    Applicant: 同济大学

    CPC classification number: G01T1/2008

    Abstract: 本发明涉及一种复合结构光子晶体闪烁体,由底部闪烁体(101),布置于底部闪烁体(101)上的光子晶体层(102)和布置于光子晶体层(102)上的顶部闪烁体(103)构成,底部闪烁体(101)为BGO闪烁晶体或CsI:Tl闪烁晶体,顶部闪烁体(103)为塑料闪烁体。与现有技术相比,本发明通过光子晶体调控两种不同波长的闪烁体发光,实现两种闪烁体发光在空间角度上的分离,从而可以采用两套光电探测器分别采集来自伽马射线和中子的闪烁光,从而提升探测系统的甄别测量能力。

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