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公开(公告)号:CN114858820A
公开(公告)日:2022-08-05
申请号:CN202210544678.0
申请日:2022-05-19
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明提供一种用于丝网检测的多动子扫描方法及系统,包括:X轴导轨、多个Z轴导轨、多个相机动子、Y轴导轨、支撑机台以及工控机;每个相机动子包括:相机和激光传感器;相机用于拍摄丝印网版的图像,激光传感器用于测量相机的高度,以辅助Z轴导轨完成相机的对焦;工控机根据待检测丝印网版的面积大小,以及每个相机的视场大小,划分每一个相机动子的扫描成像区域;根据每个相机动子的扫描成像区域,设置相机动子的扫描起点和扫描路径;并模拟所有相机动子的扫描路径,确保任意两个相机动子不会发生碰撞,之后通过控制X轴导轨和Y轴导轨使每个相机动子按照对应的扫描起点和扫描路径采集丝印网版对应区域的图像。本发明可以提高检测效率。
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公开(公告)号:CN114858083A
公开(公告)日:2022-08-05
申请号:CN202210544594.7
申请日:2022-05-19
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明提供了一种光学无接触式扫描大深径比小孔的测量装置及方法,属于扫描测量领域,方法为:将入射光分成第一子光束和第二子光束;在二维振镜系统中添加电压控制信号,使第一子光束到达待测小孔区域,通过调节准直器和场镜的搭配,调节第一子光束的光斑大小和准直距离,对待测小孔区域进行扫描,经反射形成反射光;将第二子光束反射形成参考光;反射光与参考光发生干涉,对干涉信号进行光谱分析后依次进行傅里叶变换和寻峰处理,获取小孔的深度信息和小孔底部的表面形貌信息。本发明提供的光学无接触式扫描大深径比小孔的测量装置可以测量孔径大于或等于300μm,同时深度小于或等于2.3cm,深径比达到75以下的底部形貌信息。
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公开(公告)号:CN112557344B
公开(公告)日:2022-04-08
申请号:CN202011371090.7
申请日:2020-11-30
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开一种双折射率的测定装置,属于光学与晶体学领域,其包括测量光源、扩束镜、汇聚物镜、棱镜、波片、载物台组件、物镜、镜筒、滤波片、偏振片、针孔光阑,扩束镜设置在测量光源的出射方向上,汇聚物镜设置在扩束镜出射光方向上,棱镜设置在汇聚物镜出射光方向上,棱镜的底面设置待测样品,待测样品设置在载物台组件上,物镜末端设置有镜筒,在镜筒和物镜之间设置有滤波片,镜筒内依次设置有偏振片和针孔光阑,载物台组件能升降、旋转、X方向和Y方向的移动,采集从针孔光阑出射的携带有待测样品折射率信息的出射光,从而能获得折射率。本发明装置能精确、方便地测量获得物体的双折射率信息。
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公开(公告)号:CN110376596B
公开(公告)日:2021-05-18
申请号:CN201910648603.5
申请日:2019-07-18
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种物体表面三维坐标测量系统以及测量方法,属于激光测距领域,其包括激光测距装置、二维位移平台以及处理器,测距装置包括光源、光隔离器、F‑P滤波器、光谱仪、第一、二耦合器、第一、二参考臂和测量臂,第一、二参考臂间具有固定的光程差,光隔离器设置在光源出射光方向上,光谱仪连接处理器,处理器用于对测量臂、第一参考臂和第二参考臂返回的激光之间的干涉信号进行分析处理,以获得待测物体在Z轴方向的深度,同时还用于结合二维位移平台反应的待测物体在XY平面坐标生成待测物体三维坐标。本发明还提供物体表面三维坐标测量方法。本发明方法和装置结构简单,价格低廉,还解决了死区问题,还能进行高精度和大幅面测量。
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公开(公告)号:CN112731345A
公开(公告)日:2021-04-30
申请号:CN202011517751.2
申请日:2020-12-21
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开一种具有主动光学防抖功能的抗振型面阵扫频测距/厚的装置,涉及激光测距领域,包括第一二向色镜、分束器、第二二向色镜、镜头、相机、光谱仪、采集控制单元、可运动的部分反射元件,第一二向色镜的透射光方向上设分束器,分束器反射光方向上设载物台,在载物台和分束器之间设置可运动的部分反射元件,分束器具有四个端口,第一端口正对第一二向色镜,第二端口正对可运动的部分反射元件,第四端口的方向上设有第二二向色镜,第二二向色镜透射光方向上设置镜头,镜头与相机相连,相机与采集控制单元相连,第二二向色镜反射光方向上设置光谱仪,光谱仪连通采集控制单元。本发明装置能减小测量误差,其结构简单、测量快速、测量精度高。
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公开(公告)号:CN112729135A
公开(公告)日:2021-04-30
申请号:CN202011517746.1
申请日:2020-12-21
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开一种具有主动光学防抖功能的面阵扫频测距/厚的装置,属于测距/厚领域,包括第一、二二向色镜、分束器、远心镜头、相机、光谱仪、采集控制单元和可运动反射器件,第一二向色镜的透射光方向上设置分束器,分束器反射光方向上设置有载物台,分束器透射光方向上设置可运动反射器件,分束器具有四个端口,第一端口和第三端口位于相对的两个边上,第一端口正对第一二向色镜,第二端口正对载物台,第三端口正对可运动反射器件,第四端口的方向上设置有第二二向色镜,第二二向色镜透射光方向上设置远心镜头,远心镜头连接有相机,第二二向色镜反射光方向上设置光谱仪,光谱仪连通采集控制单元。本发明装置结构简单、测量快速、测量精度高。
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公开(公告)号:CN112557344A
公开(公告)日:2021-03-26
申请号:CN202011371090.7
申请日:2020-11-30
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开一种双折射率的测定装置,属于光学与晶体学领域,其包括测量光源、扩束镜、汇聚物镜、棱镜、波片、载物台组件、物镜、镜筒、滤波片、偏振片、针孔光阑,扩束镜设置在测量光源的出射方向上,汇聚物镜设置在扩束镜出射光方向上,棱镜设置在汇聚物镜出射光方向上,棱镜的底面设置待测样品,待测样品设置在载物台组件上,物镜末端设置有镜筒,在镜筒和物镜之间设置有滤波片,镜筒内依次设置有偏振片和针孔光阑,载物台组件能升降、旋转、X方向和Y方向的移动,采集从针孔光阑出射的携带有待测样品折射率信息的出射光,从而能获得折射率。本发明装置能精确、方便地测量获得物体的双折射率信息。
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公开(公告)号:CN110763305B
公开(公告)日:2021-01-05
申请号:CN201810850019.3
申请日:2018-07-28
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01F23/292
Abstract: 本发明公开了一种光电式液位测量方法,属于光电检测技术领域,其采用导光板与待测量液位的液体相面接触或者相邻设置,导光板上用于与待测量液位的液体相面接触或者相邻设置的面为导光板液位面,待测液体液位线落于导光板液位面内,通过待测液体液位改变导光板内光束的传输,使导光板内一部分的光束不发生全反射,从而改变导光板采光面出射光的光场,通过检测该出射光光场的变化,进而检测获得待测液体的液位,导光板上与导光板液位面相对且平行的面为导光板采光面。该方法基于已有的光学原理,利用导光板设计一种新型的光电式液位测量方法,该方法测量精确可靠,操作便利,能较好地在工程实践中运用。
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公开(公告)号:CN109142272B
公开(公告)日:2020-06-09
申请号:CN201810850002.8
申请日:2018-07-28
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种提高光电传感阵列测量折射率过程中数据处理精度的方法,属于测量与光学领域,其包括如下步骤,S1光电传感阵列器件探测得到光强数据,根据光强数据计算获得临界角对应的像素,S2取临界角对应的像素位置前后m个像素,一共为(2m+1)个像素,采集该(2m+1)个像素对应的反射率,以作为拟合数据,S3采用高斯拟合公式,对步骤S2获取的拟合数据进行高斯拟合,得到高斯拟合函数,S4:对步骤S3获得的高斯拟合函数求导,导函数为0即为高斯拟合峰值处,该峰值处对应为亚像素位置处。本发明方法在光电阵列器件测量折射率的自动化、快速的特点基础上,进一步地提高了折射率测量的精度。
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公开(公告)号:CN108572160B
公开(公告)日:2020-05-19
申请号:CN201710148080.9
申请日:2017-03-14
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种折射率分布测量的折光计,属于测量与光学领域,其包括光源单元、光路调节单元、探测单元以及图像采集及处理单元,其中,光源单元用于产生平行光,光路调节单元用于根据设定的测量范围调节平行光光束大小,还用于调节平行光光束方向以使光束垂直入射至探测单元,探测单元包括棱镜和透镜阵列,透镜阵列贴合设置在棱镜的一个侧面上,其用于接受来自光路调节单元的平行光束,棱镜的底面贴合于待测对象的界面上,图像采集及处理单元用于接收从棱镜的另一个侧面出射的光斑,还用于对光斑进行图像处理,进而获得待测对象的折射率。本发明装置结构简单紧凑,能对折射率分布进行测量,测量精度较高。
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