基于SERDES协议验证的检查器、功能验证系统及方法

    公开(公告)号:CN106991027A

    公开(公告)日:2017-07-28

    申请号:CN201710217905.8

    申请日:2017-04-05

    Inventor: 王鹏 高鹏 吴涛

    Abstract: 本发明提供一种基于SERDES协议验证的检查器、功能验证系统及方法,包括:被测设计模块;发送指令的指令收发模块;对编码的被测数据流进行解码的解码模块;存储非编码数据的存储模块;以及读取非编码数据并进行功能验证的检验模块。接收被测数据流,若为编码数据则进行解码处理得到非编码数据,同时输出码流中所含的控制字信息,若为非编码数据则直接接收;存储非编码数据;读取非编码数据,并根据外部指令对非编码数据进行功能验证。本发明可复用于任一被测设计模块的数据输出端口,支持多种码流序列或不同帧格式的数据包的验证,支持对编码/非编码功能模块的验证,提高了验证的灵活性和不同设计复用性,降低实现成本,同时提高了验证的功能覆盖率。

    一种基于MIPI D-PHY协议的回路测试系统

    公开(公告)号:CN106370999A

    公开(公告)日:2017-02-01

    申请号:CN201610807744.3

    申请日:2016-09-07

    Inventor: 王鹏 吴涛 高鹏

    Abstract: 本发明提供一种基于MIPI D-PHY协议的回路测试系统,包括:封装于同一块测试片中的D-PHY受控模块、D-PHY主控模块、回路模块和控制模块;所述D-PHY受控模块和所述D-PHY主控模块分属不同时钟域,分别通过PPI总线与所述回路模块相连;所述回路模块通过PPI总线在所述D-PHY受控模块和所述D-PHY主控模块之间接收和转发数据;所述控制模块分别与所述D-PHY受控模块、所述D-PHY主控模块和所述回路模块连接,控制所述D-PHY受控模块、所述D-PHY主控模块和所述回路模块的参数配置。本发明的测试系统良好地实现了跨时钟域的集成测试,同时将两个单独使用的芯片模块集成于一款测试片中的设计,简化了D-PHY芯片验证的复杂度。

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