荧光计
    61.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1714288A

    公开(公告)日:2005-12-28

    申请号:CN200380103827.5

    申请日:2003-12-10

    CPC classification number: G01N21/645 G01N2021/6421 G01N2021/6471

    Abstract: 光源(1)发射的光激发测量物质(2),该物质(2)产生的荧光按顺序照射到透射型带通滤光片(4,6,8),特定波长的光穿过带通滤光片(4,6,8),由光接收部件(5,7,9)探测。测量由各个光接收部件(5,7,9)所探测到的信号光强之间的差异或相对比率,以测定荧光光谱的峰值波长,从而鉴别物质(2)。使用这种配置,能够获得尺寸小巧、价格低廉、探测迅速的荧光计。

    半导体激光器的检测装置和方法及相干光源检测方法

    公开(公告)号:CN1482437A

    公开(公告)日:2004-03-17

    申请号:CN02131599.X

    申请日:2002-09-10

    Abstract: 本发明的课题是提供一种简单而高速地评价波长可变半导体激光器的波长可变特性的方法。所用检测装置是由对具有有源区、相位调整区和DBR区的波长可变DBR半导体激光器1供给电流的电源;检测从波长可变DBR半导体激光器1射出的激光的输出强度的光接收元件3;以及可插入从波长可变DBR半导体激光器1至光接收元件3的光路上的透射型波长选择元件6构成的检测装置。在从波长可变DBR半导体激光器1至光接收元件3的光路上插入了透射型波长选择元件6的状态下,对于向有源区供给的规定的有源电流,改变对相位调整区供给的相位电流和对DBR区供给的DBR电流的至少一方,用光接收元件3检测透过透射型波长选择元件6后的激光的输出强度。

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