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公开(公告)号:CN102323538B
公开(公告)日:2013-09-11
申请号:CN201110191557.4
申请日:2011-07-08
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/3181 , G01R31/3185
Abstract: 基于改进测试向量集的部分扫描的扫描单元的设计方法,涉及数字集成电路SOC测试技术领域。本发明解决了现有在线测试的方法中存在的测试延迟、硬件冗余以及所需要的存储器容量较大的问题。本发明首先采用对时序电路组合部分的等效输出引脚进行故障仿真的方法获取对故障检测重要的重要等效输出引脚;然后采用对时序电路组合部分的等效输入引脚进行故障仿真的方法获得改进测试向量集;最后根据改进测试向量集和对故障检测不重要的等效输出引脚,将触发器分成定输入触发器和重要触发器,并将重要触发器串联形成部分扫描链。采用本发明的方法获得的扫描单元在达到较高故障覆盖率的同时,减小测试电路的硬件冗余、缩短测试向量的位数、减小了存储空间。
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公开(公告)号:CN102081141A
公开(公告)日:2011-06-01
申请号:CN201010565763.2
申请日:2010-11-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/28 , G01R31/317
Abstract: 一种分时测试的SOC测试调度方法,本发明涉及集成电路测试领域,具体涉及片上系统SOC测试调度的方法。能够使IP核测试存取机制的分配方式更加灵活,更好的实现IP核的并行测试,从而缩短测试总线上没有被利用的空余测试时间。它包括下述步骤:根据BFD算法,找出待测SOC内部各个IP核的pareto-point;根据vt-1产生N个随机样本;利用B*-Tree二叉树结构计算各个IP核的布局;选择部分IP核进行分时测试;利用CE方法求解各个IP核的总线分配和时间分配,直到满足CE收敛的条件。本发明用于SOC的测试。
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