一种跳闸线路雷电自动查询诊断及诊断结果发布方法

    公开(公告)号:CN103278736B

    公开(公告)日:2016-04-27

    申请号:CN201310126703.4

    申请日:2013-04-12

    Abstract: 本发明是一种跳闸线路雷击自动查询诊断及诊断结果发布的实现方法,包括EMS系统跳闸线路信息筛选方法、不同应用系统之间线路名称匹配方法、跳闸线路雷电自动查询诊断规则及结果发布方法。本发明能够充分发挥信息系统的信息效能,提高雷击跳闸故障点定位的快速性和准确性,能够更好地服务于电网的安全运行。本发明基于能量管理系统、继电保护信息系统与雷电定位系统的实时共享数据,是一种应用效果好,具有跳闸线路雷击自动查询、诊断及发布功能,能为电网安全运行提供更好服务的跳闸线路雷击自动查询诊断及诊断结果发布的实现方法。

    一种电流分布试验装置和试验方法

    公开(公告)号:CN103941125A

    公开(公告)日:2014-07-23

    申请号:CN201410163713.X

    申请日:2014-04-23

    Abstract: 本发明涉及一种电流分布试验装置和试验方法,试验装置包括发电机、变压器、第一及第二开关、第一及第二分压器、分流器、第一及第二测量单元,其中发电机通过第一开关与变压器的初级线圈连接,第一分压器连接在变压器的次级线圈的两端,第二分压器通过第二开关接在变压器的次级线圈的两端,第二测量单元与第一分压器及第二分压器连接,若干由试品与分流器串接组成的电路通过第二开关连接在变压器的次级线圈的两端,且试品与分流器连接的公共端和第一测量单元连接。本发明通过控制开关的分闸时间来控制施加到试品上的工频电压时间,解决在工频电压下串补装置MOV元件的多柱并联电阻片柱的工频电流分布测量问题,为MOV的可靠运行提供了有力的试验数据和保证。

    雷击输电线路引起特高压直流系统发生闭锁的分析方法

    公开(公告)号:CN103530453A

    公开(公告)日:2014-01-22

    申请号:CN201310457779.5

    申请日:2013-09-30

    CPC classification number: Y02E60/76 Y04S40/22

    Abstract: 本发明是一种雷击输电线路引起特高压直流系统发生闭锁的分析方法,包括如下步骤:1)归纳出雷击闭锁过程中电气量特征及直流线路保护的动作特征;2)建立特高压直流系统雷击仿真模型;3)建立换流站测量系统仿真模型;4)建立控制系统和线路保护仿真模型;5)将上述三个仿真模型结合起来构成一个闭环实时仿真系统;6)利用上述仿真系统研究雷击引起特高压直流的闭锁情况。本发明提出了包括长达数千公里线路的特高压直流输电系统雷击仿真建模方法,并实现了雷击仿真模型和线路保护模型的耦合实时仿真,从而为特高压直流系统雷击闭锁机理研究以及直流输电线路保护定值优化提供了一种有效的手段。

    一种跳闸线路雷电自动查询诊断及诊断结果发布方法

    公开(公告)号:CN103278736A

    公开(公告)日:2013-09-04

    申请号:CN201310126703.4

    申请日:2013-04-12

    Abstract: 本发明是一种跳闸线路雷击自动查询诊断及诊断结果发布的实现方法,包括EMS系统跳闸线路信息筛选方法、不同应用系统之间线路名称匹配方法、跳闸线路雷电自动查询诊断规则及结果发布方法。本发明能够充分发挥信息系统的信息效能,提高雷击跳闸故障点定位的快速性和准确性,能够更好地服务于电网的安全运行。本发明基于能量管理系统、继电保护信息系统与雷电定位系统的实时共享数据,是一种应用效果好,具有跳闸线路雷击自动查询、诊断及发布功能,能为电网安全运行提供更好服务的跳闸线路雷击自动查询诊断及诊断结果发布的实现方法。

    薄膜电容器寿命预测方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN119375587A

    公开(公告)日:2025-01-28

    申请号:CN202411553442.9

    申请日:2024-11-02

    Abstract: 本申请属于电子元器件老化测试技术领域,具体公开了一种薄膜电容器寿命预测方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括:获取老化试验工况下待测薄膜电容器两端在当前预测周期时段的电压信息;提取电压信息中的电压直流分量和电压谐波分量,并基于电压谐波分量确定老化加速因子;基于电压直流分量、当前预测周期时段的热点温度和老化加速因子,确定待测薄膜电容器在当前预测周期时段的老化速率;在确定老化速率满足预设寿命终止阈值条件的情况下,根据当前预测周期时段对应的总时长确定待测薄膜电容器的寿命。通过本申请,实现了对薄膜电容器寿命的自动预测,而无需人工参与,可以大大提高薄膜电容器寿命预测的准确性和效率。

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