一种改进的柔性基板封装装置

    公开(公告)号:CN103311161A

    公开(公告)日:2013-09-18

    申请号:CN201310237582.0

    申请日:2013-06-17

    Inventor: 张博 陆原 尹雯

    Abstract: 本发明提供了一种改进的柔性基板封装装置,可以有效减小柔性基板封装后封装体的体积,其包括两侧的U形封装头,所述两侧的封装头可以相向运动,其特征在于:所述两侧的U形封装头大小不等,所述两侧的U形封装头中一端对应,所述小封装头的另一端与所述大封装头中的凹槽对应。

    一种柔性基板多层封装装置

    公开(公告)号:CN203312274U

    公开(公告)日:2013-11-27

    申请号:CN201320343575.4

    申请日:2013-06-17

    Inventor: 张博 陆原 尹雯

    Abstract: 本实用新型提供了一种柔性基板多层封装装置,可以有效减小封装后柔性基板的整体体积,其技术方案是这样的:一种柔性基板多层封装装置,其包括两侧的U形封装头,所述两侧的封装头可以相向运动,其特征在于:所述U形封装头纵向交错布置,所述一侧U形封装头的一端与另一侧U形封装头凹槽配合。

    一种柔性基板封装的装置
    63.
    实用新型

    公开(公告)号:CN203312266U

    公开(公告)日:2013-11-27

    申请号:CN201320343573.5

    申请日:2013-06-17

    Inventor: 张博 陆原 尹雯

    Abstract: 本实用新型提供了一种柔性基板封装的装置,可以适用于自动化的封装,使得封装工艺简单、强度较小,提高封装效率,大大降低封装成本,其特征在于:其包括两侧的一定形状的封装头,所述封装头通过滑动装置连接,所述两侧的封装头可以相向运动。

    用于集成无源器件的测试板以及测试系统

    公开(公告)号:CN203950019U

    公开(公告)日:2014-11-19

    申请号:CN201420307393.6

    申请日:2014-06-10

    Abstract: 本实用新型公开了一种用于集成无源器件的测试板以及测试系统。一种用于集成无源器件的测试板,包括测试结构和校准结构,其特征在于:所述校准结构与所述测试结构位于同一块PCB板上,并且与所述测试结构的布局相同。依照本实用新型的用于集成无源器件的测试结构,在测试板上设计了IPD芯片的高频测试连接端口和误差校准结构,实现了测试点的连接,又通过校准结构的设计巧妙地消除测试链路中的误差,方便地进行IPD高频测试的校准和测试,提供了一种便捷准确的测量方式,满足IPD芯片研发工作中的测试需求。

    一种改进的柔性基板封装装置

    公开(公告)号:CN203312273U

    公开(公告)日:2013-11-27

    申请号:CN201320343533.0

    申请日:2013-06-17

    Inventor: 张博 陆原 尹雯

    Abstract: 本实用新型提供了一种改进的柔性基板封装装置,可以有效减小柔性基板封装后封装体的体积,其包括两侧的U形封装头,所述两侧的封装头可以相向运动,其特征在于:所述两侧的U形封装头大小不等,所述两侧的U形封装头中一端对应,所述小封装头的另一端与所述大封装头中的凹槽对应。

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