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公开(公告)号：CN105841839B
公开(公告)日：2018-09-21
申请号：CN201610165571.X
申请日：2016-03-22
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01K11/32
Abstract: 本发明提供了一种利用光纤萨格纳克干涉仪测量温度场的方法，所述方法包括如下步骤：a)搭建级联Sagnac干涉仪测量系统，所述系统包括宽带光源泵浦源、第一掺杂稀土元素光纤、第二掺杂稀土元素光纤、一支波分复用器、第一光耦合器、第二光耦合器、第一光纤Sagnac环、隔离器、第二光纤Sagnac环、光谱仪；b)将第一光纤Sagnac环和第二光纤Sagnac环置于可控温度的环境中，进行温度标定；c)逐渐改变环境中的温度，光谱仪采集第二光纤Sagnac环输出的光谱，记录梳状谱移动的长度，拟合梳状谱波长偏移随温度变化的关系曲线；d)利用所拟合的梳状谱波长偏移随温度变化的关系曲线对待测环境进行温度测量。
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公开(公告)号：CN105911023B
公开(公告)日：2018-09-07
申请号：CN201610217014.8
申请日：2016-04-08
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明提供了一种基于超声脉冲诱发光栅变形的用于测量折射率的方法，所述测量折射率的方法包括如下步骤：a)搭接光纤传感器折射率测量系统，所述系统包括一段带有连续均匀光栅的光纤、超声波发生器和解调仪，所述的带有连续均匀光栅的光纤具有多段光栅，每段光栅栅格均匀分布，所述光栅之间间隔相同；b)将所述光纤传感器折射率测量系统置于待测折射率的溶液中，记录所述解调仪采集到的离峰偏离主峰的间距；c)将步骤b)中所述的离峰偏离主峰的间距与离峰偏离主峰的间距随折射率变化的关系曲线比对，得到待测折射率溶液的折射率大小。
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公开(公告)号：CN108426594A
公开(公告)日：2018-08-21
申请号：CN201810045986.2
申请日：2016-05-24
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提供了一种相关算法的光纤光栅反射谱解调系统，所述系统包括宽带光源、50:50耦合器、传感光纤和光纤光栅解调仪，其中传感光纤中串有多个不同反射中心波长的FBG传感器，光宽带光源的光通过具有一定带宽的50:59耦合器入射到传感光纤中，不同反射中心波长的FBG传感器因布拉格条件的作用，满足其条件的波长被反射，不满足的波长的光透射；外界的参量就被调制到反射波长中，经由耦合器进入解调仪中进行解调。
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公开(公告)号：CN106932118A
公开(公告)日：2017-07-07
申请号：CN201710196243.0
申请日：2017-03-29
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01K11/32
CPC classification number: G01K11/3206
Abstract: 一种适用于真空环境下的封装气体的光纤光栅传感器，其特征在于：包括温度传感器设计、温度传感器封装以及温度传感器标定，其中将铝合金材料加工成片状结构，并选取裸光纤光栅两端用调整架固定，用环氧树脂将塑料套管粘结在光纤光栅两端，以作为防护层使用，然后将光纤光栅与APC/FC熔接，并接于调整好的光纤光栅解调仪用于监控固化时中心波长的变化，将栅区置于封装结构深槽中央，待中心波长值稳定后，使用环氧树脂对光纤光栅进行封装，并固化24小时，完成固化后，检查光纤光栅温度传感器中心波长数值。
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公开(公告)号：CN106840454A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201710075457.2
申请日：2017-02-13
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01K11/32
CPC classification number: G01K11/32
Abstract: 本发明提供了一种光纤光栅温度测量方法，所述方法包括如下步骤：a、搭建光纤光栅温度测量系统，所述系统包括光纤光栅解调仪、光纤光栅温度传感器、恒温箱以及光源；b、将光纤光栅传感器置于所述恒温箱中，控制恒温箱的温度在某一温度范围内变化，采集光纤光栅随恒温箱温度变化的光纤光栅信号X；c、构建正交基字典矩阵ψ，将所述光纤光栅信号X在所述正交字典矩阵下展开；d、构建观测矩阵Φ，对所述光纤光栅信号X执行压缩观测；e、构造信息算子矩阵A；f、重构光纤光栅信号X。本发明温度测量方法对光纤光栅传感器测量温度时，有效准确地提取出待测环境的温度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106767488A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201710133314.2
申请日：2017-03-08
Applicant: 北京信息科技大学
CPC classification number: G01K11/32 , G01B11/161
Abstract: 本发明提供了一种基于长周期光纤光栅和细芯光纤的温度与应变测试方法，包括以下步骤：在细芯光纤上采用飞秒激光直写的方法刻写长周期光纤光栅(LPFG)；利用刻有LPFG的细芯光纤与普通单模光纤(SMF‑28E)熔接构成的马赫曾德结构对LPFG进行调制；得到温度和应变的变化量与谐振峰强度与波长的变化矩阵；通过光谱仪检测细芯光纤马赫曾德透射谱谐振峰的波长变化值△λ和强度变化值△P，代入变化矩阵中，得出环境温度和应变的改变情况。本发明利用马赫曾德透射光谱被长周期光纤光栅调制的特性，通过监测其线性测量区某个透射谐振峰的波长与强度变化，可以实现温度与应变两个参数的区分测量。
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公开(公告)号：CN106546355A
公开(公告)日：2017-03-29
申请号：CN201610972065.1
申请日：2016-11-03
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01K11/32
CPC classification number: G01K11/32
Abstract: 本发明提供了一种全金属化的耐低温光纤光栅温度传感器的封装方法，其中，包括如下步骤：S110，开启加热平台，将所述平台温度设定一个阈值范围；S120，将特种光纤光栅放置于带凹槽的金属细棒中，将两者放置于步骤S110中所述的加热平台上加热；S130，对步骤S120中的所述光纤光栅两端施加一定的拉应力；S140，将金属合金填入步骤S120中的所述凹槽，采用超声加热的方式使得所述金属合金、光纤光栅以及带有凹槽的金属细棒间有效的结合在一起；S150，关闭所述加热平台，使所述加热平台自然冷却；S160，将所述光纤光栅一端的多余尾签切断，将步骤S150中得到所述带有凹槽的金属细棒涂覆导热硅脂并固定于金属管中得到全金属化的耐低温光纤光栅温度传感器。
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公开(公告)号：CN106441658A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201610885808.1
申请日：2016-10-11
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01L1/24
CPC classification number: G01L1/246
Abstract: 本发明提供了一种用于杆件应力测量的光纤光栅测量系统，所述测量系统包括光源、信号解调仪、耦合器以及光纤光栅组，所述光纤光栅组包括串联连接的第一光纤光栅、第二光纤光栅、第三光纤光栅和第四光纤光栅，所述第一光纤光栅粘贴在杆件的上表面，其中所述第一光纤光栅的栅区轴向与待测应力方向一致；所述第二光纤光栅与所述第一光纤光栅对应的粘贴在所述杆件的下表面，所述第三光纤光栅与所述第一光纤光栅垂直，并且所述第三光纤光栅的两侧边以所述第一光纤光栅的中心线为对称轴对称的粘贴在所述杆件的上表面。本发明从结构上消除了温度对光纤光栅应变测量的交叉串扰，并且补偿了杆件弯矩载荷的影响。
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公开(公告)号：CN106289407A
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201610755869.6
申请日：2016-08-29
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明提供了一种利用纤芯气泡光纤同时测量温度和磁场的方法，所述方法包括如下步骤：a)在两段光纤纤芯端面进行刻槽处理；b)将步骤a)中两段光纤带有刻槽的端面相互熔接，熔接的两端面刻槽相互对应，所述熔接过程中刻槽发生膨胀，纤芯位置产生气泡，得到纤芯气泡光纤；c)将所述纤芯气泡光纤与光纤光栅熔接，进行温度标定和磁场标定；d)采集纤芯气泡光纤与光纤光栅的波长漂移量，拟合纤芯气泡光纤与光纤光栅的波长漂移量随温度和磁场变化量的关系曲线；e)利用步骤d)的关系曲线对待测环境中的温度和磁场同时测量。
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公开(公告)号：CN105866711A
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201610165587.0
申请日：2016-03-22
Applicant: 北京信息科技大学
IPC: G01R33/032 , G01D5/26
CPC classification number: G01R33/032 , G01D5/266 , G01D5/268
Abstract: 本发明提供了一种利用光纤萨格纳克干涉仪测量磁场的方法，所述方法包括如下步骤：a)搭建级联Sagnac干涉仪测量系统，所述系统包括宽带光源泵浦源、第一掺杂稀土元素光纤、第二掺杂稀土元素光纤、一支波分复用器、第一光耦合器、第二光耦合器、第一光纤Sagnac环、隔离器、第二光纤Sagnac环、光谱仪；b)将第一光纤Sagnac环和第二光纤Sagnac环与可控磁伸缩材料贴合，进行磁场标定；c)逐渐增加磁场的大小，光谱仪采集第二光纤Sagnac环输出的光谱，记录梳状谱移动的长度，拟合梳状谱波长偏移随磁场变化的关系曲线；d)利用所拟合的梳状谱波长偏移随磁场变化的关系曲线对待测磁场进行测量。
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