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公开(公告)号：CN104409310B
公开(公告)日：2017-04-26
申请号：CN201410685726.3
申请日：2014-11-25
Applicant: 中国计量科学研究院
Inventor： 熊行创
Abstract: 本发明涉及质谱仪器离子透镜系统领域，本发明公开了一种离子透镜系统的调谐方法及装置，该方法包括：获取所述离子透镜系统中离子能够通过的所有离子透镜组合区间，所述离子透镜组合区间包括离子透镜电压值组合和调谐区间值；对每个所述离子透镜组合区间进行回归分析，获取每个所述离子透镜组合区间的回归系数，根据所述回归系数，计算每个所述离子透镜组合区间的极值；按照最大所述极值对应的所述离子透镜组合区间，对所述离子透镜系统进行调谐，本发明能够快速获得离子通过率的全局最优离子透镜组合电压值，能够作为一种广泛应用的质谱仪器离子光学调谐方法。
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公开(公告)号：CN104882352B
公开(公告)日：2017-04-05
申请号：CN201510254326.1
申请日：2015-05-18
Applicant: 中国计量科学研究院
CPC classification number: H01J49/26 , H01J49/0077 , H01J49/04 , H01J49/10
Abstract: 本发明公开了气相分子‑离子反应的质谱装置及分析方法，该装置包括反应气体引入装置、气相分子‑离子反应质谱分析装置，其中，所述反应气体引入装置与所述气相分子‑离子反应质谱分析装置相连；所述反应气体引入装置，用于将反应气体引入到所述气相分子‑离子反应质谱分析装置；所述气相分子‑离子反应质谱分析装置，用于分子或离子进行反应，及对反应结果进行质谱分析；其中所述反应气体引入装置包括反应气容器，所述反应气容器用于盛装气体或挥发性的液体、固体，产生反应所需的气体分子；反应气体定量装置，用于对所述气体分子进行流量控制；所述气相分子‑离子反应质谱分析装置包括真空系统、离子源、离子透镜、离子阱、检测器、控制系统。
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公开(公告)号：CN105185688B
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201510532107.5
申请日：2015-08-26
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种自动调节离子阱内气压的质谱装置，包括离子阱、用于检测离子阱内离子分离检测的检测器、缓冲气流量控制器、离子阱内真空测量计和自动调节阱内真空度的运算功能模块，缓冲气流量控制器与离子阱后端通过气体导管连通，离子阱内真空测量计与离子阱前端通过气体导管连通，运算功能模块分别与离子阱内真空测量计和缓冲气流量控制器通信连接。该自动调节离子阱内气压的质谱装置在离子注入存储阶段，增大缓冲气流量实现阱内高气压，有效降低注入离子的动能，之后有序降低缓冲气流量实现低气压，保证在离子分离检测阶段具有低气压获得最佳的检测环境。该质谱装置具有更好的离子存储效率、更佳的分析性能。
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公开(公告)号：CN104201086B
公开(公告)日：2016-09-14
申请号：CN201410390648.4
申请日：2014-08-08
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: H01J49/42
Abstract: 本发明公开了一种分子离子反应质谱系统及分子离子反应、清洗方法，该系统包括分子试剂容器，用于存储该分子的液态反应试剂分子；分子试剂容器加热装置，用于加热该分子试剂容器，产生该分子的气态反应试剂分子；矩形离子阱系统，用于产生感兴趣的试剂离子；分子离子反应容器，用于该气态反应试剂分子，与该试剂离子进行反应，并检测反应后的产物；离子阱加热系统，用于加热该分子离子反应容器，增加该分子与该离子的反应活性、控制反应条件；该矩形离子阱系统内的气压高于该分子离子反应容器内的气压，及将高纯气充入该分子离子反应容器内。
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公开(公告)号：CN105931943A
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201610307268.9
申请日：2016-05-10
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: H01J49/42
CPC classification number: H01J49/426 , H01J49/4275
Abstract: 本发明提供的基于线性离子阱的离子反应控制方法和离子反应控制装置，包括通过在线性离子阱内先施加射频电场和偏置电场，以使得正负离子在同时导入时彼此分离并存储于离子阱中，然后通过保持、改变电场强度等参数或是反复施加和撤销电场，实现对离子存储和反应状态的精确控制，最后通过施加激发电场将待测离子射出，通过检测设备完成对正负离子的同时检测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105632864A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201610009328.9
申请日：2016-01-07
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及分析测量仪器技术领域，尤其涉及一种复合检测器及具有该检测器的四极质谱仪。本发明的复合检测器包括能收集离子的离子接收极，离子接收极外设有至少两个用于放大离子信号的电子倍增器，进入复合检测器的离子能由离子接收极接收，或者能进入其中一个电子倍增器内，经过电子倍增器放大后由离子接收极接收。该复合检测器及设有具有该检测器的四极质谱仪利用法拉第杯作为离子接收极，并搭配至少两个电子倍增器，既能保证四极质谱仪的使用效果，又能提高四极质谱仪的连续无障碍工作时间，以提高其环境适用性。
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公开(公告)号：CN105428199A
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201511001447.1
申请日：2015-12-28
Applicant: 中国计量科学研究院
CPC classification number: H01J49/0095 , H01J49/0422 , H01J49/26
Abstract: 本发明公开了一种质谱分析方法，包括：接收离子源释放出的正离子与负离子；将正离子与负离子分离，引入不同的离子输送通道，并通过不同的离子输送通道送入质量分析器中。本发明提供的另一种质谱分析方法，包括接收离子源释放出的正离子、负离子及未离子化物质；将正离子与负离子分离；以及对未离子化物质进行离子化处理，然后送入质量分析器中；所述正离子、负离子和未离子化物质在大气压下产生。本发明还提供了基于上述方法的具有大气压接口的质谱分析装置。
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公开(公告)号：CN104409310A
公开(公告)日：2015-03-11
申请号：CN201410685726.3
申请日：2014-11-25
Applicant: 中国计量科学研究院
Inventor： 熊行创
CPC classification number: H01J49/00 , H01J49/06 , H01J49/067 , H01J49/42
Abstract: 本发明涉及质谱仪器离子透镜系统领域，本发明公开了一种离子透镜系统的调谐方法及装置，该方法包括：获取所述离子透镜系统中离子能够通过的所有离子透镜组合区间，所述离子透镜组合区间包括离子透镜电压值组合和调谐区间值；对每个所述离子透镜组合区间进行回归分析，获取每个所述离子透镜组合区间的回归系数，根据所述回归系数，计算每个所述离子透镜组合区间的极值；按照最大所述极值对应的所述离子透镜组合区间，对所述离子透镜系统进行调谐，本发明能够快速获得离子通过率的全局最优离子透镜组合电压值，能够作为一种广泛应用的质谱仪器离子光学调谐方法。
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公开(公告)号：CN103149283A
公开(公告)日：2013-06-12
申请号：CN201310036515.2
申请日：2013-01-30
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01N30/02
Abstract: 本发明公开了一种有机纯物质中痕量杂质分析装置及分析方法。所述装置包括：液相色谱仪、切割阀、基于等离子体的电离源和质谱仪，所述基于等离子体的电离源包括雾化器和电晕放电针；液相色谱仪依次连接切割阀、雾化器、电晕放电针和质谱仪。所述方法包括：样品送入液相色谱仪，依次通过切割阀、基于等离子体的电离源，样品中的杂质被离子化，送入质谱仪分析。本发明采用基于等离子体的化学电离源不仅能够电离极性和弱极性的杂质分子，同时可电离非极性的分子；将主成分切割后的杂质离子进入质谱仪后可进行相应的质量分析，从而获得杂质分子的定性信息。
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公开(公告)号：CN101975818B
公开(公告)日：2012-12-26
申请号：CN201010164194.0
申请日：2010-04-29
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及特征物质的检测系统及方法。该方法包括：步骤1，对被测样品进行质谱分析得到每个样品点的质谱数据，并确定被测样品的感兴趣区域；步骤2，对于同一个m/z所表征的物质，分别计算感兴趣区域内和感兴趣区域外所有样品点的总离子强度、感兴趣区域内和感兴趣区域外所有样品点的平均强度和/或感兴趣区域内该m/z所表征的物质的空间聚集度，依据预置的规则判定该m/z所表征的物质是否为特征物质。本发明使研究人员准确、精确分析检测出样品中感兴趣区域内能够检测到哪些是样品的特有物质、哪些是背景噪声，所有特征物质离子的相对含量以及其在样品内的空间分布情况。
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