一种GIL局部放电源定位方法和系统

    公开(公告)号:CN112147470B

    公开(公告)日:2021-07-20

    申请号:CN202011021369.2

    申请日:2020-09-25

    Abstract: 本发明公开了一种GIL局部放电源定位方法,包括步骤:(1)建立与实际GIL尺寸相同的仿真模型,并进行光学信号仿真,构建局部放电仿真指纹库Ψ(2)拟合出GIL中所有位置局部放电指纹,以将Ψ扩展为Ψ’(3)构建有若干个基分类器的Bagging‑KELM模型,用Bagging算法对扩展后光学局部放电仿真指纹库Ψ’进行重新采样,获得随机选择的若干个子指纹库,各子指纹库与个基分类器对应,采用各子指纹库对各基分类器进行训练,以使每一个基分类器均输出局部放电源位置坐标,Bagging‑KELM模型的输出为各基分类器输出局部放电源位置坐标的平均值(4)将实际检测的GIL局部放电光学指纹输入到经过训练的Bagging‑KELM模型中,得到实际局部放电源位置。此外,本发明还公开了一种GIL局部放电源定位系统。

    基于局部放电光学信号的GIL局部放电源定位方法和系统

    公开(公告)号:CN111929549A

    公开(公告)日:2020-11-13

    申请号:CN202010837938.4

    申请日:2020-08-19

    Abstract: 本发明公开了一种基于局部放电光学信号的GIL局部放电源定位方法:(1)建立光学定位仿真指纹库:建立与实际GIL尺寸完全相同的仿真模型,并对所述仿真模型的局部放电源进行光学信号仿真,以构建局部放电源的光学定位仿真指纹库;(2)采用光学传感器采集实际GIL发生局部放电时发出的光信号,以得到实际局部放电源所对应的实际局部放电的光学指纹 (3)构建PSO-KELM网络模型;(4)采用PSO-KELM网络模型将实际局部放电的光学指纹 与所述光学定位仿真指纹库中的光学指纹进行匹配,以确定GIL上的实际局部放电源的位置。此外,本发明还公开了一种基于局部放电光学信号的GIL局部放电源定位系统。

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