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公开(公告)号:CN114486827B
公开(公告)日:2023-07-28
申请号:CN202210009243.6
申请日:2022-01-06
Applicant: 暨南大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明提供提高结构照明共焦显微成像效率和性能的方法及系统,方法包括:计算机生成高频条纹图案,将该图案依次传到空间光调制器上,以使其通过图案将光源发出的均匀光束调制成空间分布不均匀的结构光;高频条纹图案为傅里叶变换基底图案中对应高频傅里叶系数的条纹图案;将结构光投影到样品以使其与结构光作用后发出的光束成像到相机光敏面;从相机拍摄的每张样品与结构光作用后的图像中提取坐标相同的光强值组成光强序列以重建弥散斑图像;确定光敏像元在空间光调制器上的共轭点的坐标,从弥散斑图像中抽取与该光敏像元共轭的点的信号,按照光敏像元的像素坐标重组。该方法能够提高共焦显微图像的对比度和光切片效果,测量次数也大大减少。
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公开(公告)号:CN112804513B
公开(公告)日:2023-02-17
申请号:CN202110020754.3
申请日:2021-01-05
Applicant: 暨南大学
IPC: H04N13/128 , H04N13/15 , H04N13/324 , H04N13/365
Abstract: 本发明公开了一种光场相机及成像方法,过程如下:目标物体发出的光束经透镜组在空间光调制器的调制平面处形成图像;计算机生成一系列调制图案,控制空间光调制器对目标物体的图像进行调制;调制后的光束在透镜的后焦面形成傅里叶谱图;计算机控制二维图像探测器拍摄傅里叶谱图,并存储到计算机内;对二维图像探测器的像元进行重组,将相邻的若干个像元组合为一个宏像元;利用单像素成像算法重建每个宏像元对应的视角图;根据目标物体的深度计算每幅视角图需要平移的像素数;将每幅图像平移后叠加得到该深度目标物体的图像。本发明不使用微透镜阵列,光线的空间信息与角度信息分开采样,有利于提高成像分辨率和消色差,获取高质量光场相机图像。
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公开(公告)号:CN112505044B
公开(公告)日:2022-06-07
申请号:CN202011342856.9
申请日:2020-11-26
Applicant: 暨南大学
Abstract: 本发明公开了一种宽场照明共焦显微成像系统及方法,过程如下:计算机控制照明光源并通过反射器、空间光调制器,产生空间分布不同的结构光,再通过分光器、第一管镜和物镜照明样品;样品被物镜、分光器和第二管镜成像到相机光敏面被记录,存储计算机内;利用单像素成像算法重建不同的弥散斑图像;根据相机的光敏像元和空间光调制器的调制单元点之间的物像共轭坐标对应关系,提取弥散斑图像中共轭物点灰度值,获得一层样品的共焦显微图像;移动样品,重复上述步骤可获得样品不同层的共焦显微图像。本发明采用全场照明方式,相对传统点扫描荧光共焦显微镜,无需三维扫描,可以有效减弱光漂白和光毒性,有望在生物医学等领域获得应用。
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公开(公告)号:CN111242993B
公开(公告)日:2022-04-26
申请号:CN202010016355.5
申请日:2020-01-08
Applicant: 暨南大学
Abstract: 本发明公开了一种基于基材纹理图像和外观特征图像的物品真伪鉴别方法,步骤如下:拍摄真实物品和待鉴定物品的外观特征图像和基材纹理图像;利用真伪物品的外观特征的相似性,和物品基材纹理相对于外观特征的分布具有唯一性来表征物品基材的唯一性;利用真伪物品图像中的相似外观特征进行定位,选定真品和待鉴定物品图像中包含相似外观特征的两个区域,通过计算这两个区域内纹理图像的相关性来判别这两个图像的物品是否使用同一基材,从而进行真伪鉴别。本发明对物品基材纹理的分布特性没有要求,不管是随机分布还是条形纤维状等分布都可以鉴别;真实物品的图像和待鉴定物品的图像可以使用不同的拍摄装置在不同时间不同地点拍摄。
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公开(公告)号:CN112804513A
公开(公告)日:2021-05-14
申请号:CN202110020754.3
申请日:2021-01-05
Applicant: 暨南大学
IPC: H04N13/128 , H04N13/15 , H04N13/324 , H04N13/365
Abstract: 本发明公开了一种光场相机及成像方法,过程如下:目标物体发出的光束经透镜组在空间光调制器的调制平面处形成图像;计算机生成一系列调制图案,控制空间光调制器对目标物体的图像进行调制;调制后的光束在透镜的后焦面形成傅里叶谱图;计算机控制二维图像探测器拍摄傅里叶谱图,并存储到计算机内;对二维图像探测器的像元进行重组,将相邻的若干个像元组合为一个宏像元;利用单像素成像算法重建每个宏像元对应的视角图;根据目标物体的深度计算每幅视角图需要平移的像素数;将每幅图像平移后叠加得到该深度目标物体的图像。本发明不使用微透镜阵列,光线的空间信息与角度信息分开采样,有利于提高成像分辨率和消色差,获取高质量光场相机图像。
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公开(公告)号:CN112505044A
公开(公告)日:2021-03-16
申请号:CN202011342856.9
申请日:2020-11-26
Applicant: 暨南大学
Abstract: 本发明公开了一种宽场照明共焦显微成像系统及方法,过程如下:计算机控制照明光源并通过反射器、空间光调制器,产生空间分布不同的结构光,再通过分光器、第一管镜和物镜照明样品;样品被物镜、分光器和第二管镜成像到相机光敏面被记录,存储计算机内;利用单像素成像算法重建不同的弥散斑图像;根据相机的光敏像元和空间光调制器的调制单元点之间的物像共轭坐标对应关系,提取弥散斑图像中共轭物点灰度值,获得一层样品的共焦显微图像;移动样品,重复上述步骤可获得样品不同层的共焦显微图像。本发明采用全场照明方式,相对传统点扫描荧光共焦显微镜,无需三维扫描,可以有效减弱光漂白和光毒性,有望在生物医学等领域获得应用。
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公开(公告)号:CN108594418B
公开(公告)日:2021-02-05
申请号:CN201810271062.4
申请日:2018-03-29
Applicant: 暨南大学
IPC: G02B21/36
Abstract: 本发明公开了一种基于阵列单像素探测器的光场显微成像系统及其方法,该系统包括准直的LED光源、反射镜、数字微镜、管镜(Tube lens)、显微物镜、样本和阵列单像素探测器。LED光源发出的准直光束经反射镜后倾斜照射到数字微镜上,数字微镜加载由计算机产生的傅里叶基底图案,再通过管镜和显微物镜照射到样本上,最后利用阵列单像素探测器采集经样本衍射后的光场强度。由于每个探测器相对样本的空间位置不同,根据每个探测器采集的信号可以重建样本在不同视角下的视差图像,利用所述视差图像对样本实现数字重聚焦,获得样本在不同深度的强度图像和差分对比度图像。本发明的光场显微成像系统结构紧凑,能够实现压缩采样,并且无需增加测量次数。
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公开(公告)号:CN108709874B
公开(公告)日:2020-09-04
申请号:CN201810412684.4
申请日:2018-05-03
Applicant: 暨南大学
IPC: G01N21/552 , G01N21/45
Abstract: 本发明公开了一种基于自混合干涉的表面等离子体共振传感装置及方法,线偏振激光束入射到激励棱镜内部,并在该棱镜内部经设置有金属膜的棱镜面反射后进入匹配棱镜,从匹配棱镜射出,成为物光束,被测样品通过样品池与金属膜接触,物光束经反射镜反射后,成为反馈光,并经原路返回激光腔,反馈光与腔内的激光产生自混合干涉效应,纳米平移台驱动反射镜做平移运动以改变反馈光的光程,实现对自混合干涉信号的调制,通过光电探测器将调制的自混合干涉信号采集到计算机,由计算机软件系统进行处理得到干涉信号的位相和强度信息。本发明以自混合干涉的方式获取表征SPR生物芯片的位相和强度信息,简化光路结构、提高信息获取速度、降低数据处理量。
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公开(公告)号:CN109059754B
公开(公告)日:2020-06-16
申请号:CN201810891814.7
申请日:2018-08-07
Applicant: 暨南大学
Abstract: 本发明公开了一种激光自混合干涉测量装置及测量方法,旋转平台承载平行平晶置于激光外腔,激光束透过平晶入射到目标反射物,反射后成为反馈光,并经原路返回激光腔,反馈光与腔内的激光产生自混合干涉效应,旋转平台驱动平晶做旋转运动以改变激光束在平晶内外的光程,实现对自混合干涉信号的调制,通过光电探测器将调制的自混合干涉信号采集到计算机,由计算机软件系统进行处理得到干涉信号的相位信息,可精确测量目标反射物的振动、位移等多个物理量。本发明以平晶旋转的方式调制外腔光程,构建了一种调制范围大、精度高、操作简单、成本低的自混合干涉测量仪。
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公开(公告)号:CN108267094B
公开(公告)日:2020-04-14
申请号:CN201810029231.3
申请日:2018-01-12
Applicant: 暨南大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种基于旋转CGH的非圆柱面干涉拼接测量系统及方法,该系统包括菲索平面干涉仪、CGH柱面波转换器、待测非圆柱面、非圆柱面调整装置和精密转台;所述CGH柱面波转换器安装在精密转台上,并位于菲索平面干涉仪和待测非圆柱面之间,所述精密转台控制CGH柱面波转换器转动,使CGH柱面波转换器绕着自身的中心轴线旋转;所述待测非圆柱面安装在非圆柱面调整装置上;所述菲索平面干涉仪的光轴与CGH柱面波转换器的光轴重合,调整非圆柱面调整装置使待测非圆柱面的最佳拟合圆柱轴线与CGH柱面波转换器衍射的柱面波前的焦轴线重合。另外本发明的测量方法能够显著降低非圆柱面离轴子孔径的像差,准确测量非圆柱光学元件的面形误差。
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