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公开(公告)号：CN110470385A
公开(公告)日：2019-11-19
申请号：CN201810435084.X
申请日：2018-05-09
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及光学测试技术领域，公开了一种光阑式真空紫外辐射亮度计。其中，该亮度计包括依次设置在光路中的光阑、探测器、放大器和采集器，所述光阑用于获取待测光源发出的待测光的光辐射，所述探测器用于对所述光辐射进行光电转换后输出电信号，所述放大器用于对所述电信号进行放大，所述采集器用于对放大后的电信号进行采集，并根据采集的电信号计算待测光的光谱辐射亮度值。由此，能够获取例如真空紫外光源的光谱辐射亮度值，为真空紫外空间载荷的地面标定提供准确的输入量值。
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公开(公告)号：CN106885632B
公开(公告)日：2019-01-29
申请号：CN201710125038.5
申请日：2017-03-03
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明涉及一种真空紫外光谱辐射计校准方法及装置，所述方法包括：光谱辐射亮度响应度校准、光谱辐射照度响应度校准和/或波长准确度校准，上述校准均是在无油真空仓中进行的。所述装置包括光谱辐射亮度响应度校准机构、光谱辐射照度响应度校准机构和波长准确度校准机构。国内目前尚无适用于真空紫外光谱辐射计的校准装置，采用本发明的真空紫外光谱辐射计校准方法及装置，可在发射前即在地面实验室真空紫外光谱辐射计的多个参数进行校准，有效保证了真空紫外光谱辐射计获取数据的准确性，对获取太阳和地球表面等日地空间环境的光谱信息等均有着重大意义。
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公开(公告)号：CN105889843B
公开(公告)日：2018-07-17
申请号：CN201410753606.2
申请日：2014-12-11
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种复合光目标模拟器，包括：光源模块，用于发射至少两种光；合束模块，用于对所述至少两种光进行合束处理形成复合光；投影模块，用于对所述复合光进行共口径准直处理，形成目标复合光并进行输出；通过合束模块的合束处理再经过共口径准直处理，输出的目标复合光能够为复合光探测设备提供标准目标，以实现复合光探测设备的性能测试，结构简单，体积小。
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公开(公告)号：CN106908144A
公开(公告)日：2017-06-30
申请号：CN201710192198.1
申请日：2017-03-28
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J1/00
CPC classification number: G01J1/00
Abstract: 本发明提供了一种超微弱星光照度测量装置及方法，装置包括光学镜头、分束器、测量通道Ⅰ、测量通道Ⅱ和数据处理器；光学镜头与分束器相连，测量通道Ⅰ和测量通道Ⅱ分别连接于分束器和数据处理器之间；测量通道Ⅰ包括光电探测器Ⅰ、前置放大器Ⅰ和光子计数器Ⅰ；测量通道Ⅱ包括单色器、光电探测器Ⅱ、前置放大器Ⅱ、光子计数器Ⅱ。本装置使用两条测量通道对光子数进行计数测量，得到光子计数总量的同时获得单色光的光子数，可得到光子计数总量中不同波长光子的比例，同时计数准确，且不必重复进行测量，同时对光束中的光能光谱分布进行测量，可提高光照度测量精度，能够实现10‑13lx超微弱星光照度的测量。
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公开(公告)号：CN106644070A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201510731548.8
申请日：2015-11-02
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/0297 , G01J3/10
Abstract: 本发明提供一种真空紫外成像光谱仪校准装置，包括：真空紫外光源，用于产生不同波段的紫外光；真空紫外光处理模块，用于将所述紫外光进行分光和均匀处理；真空紫外靶标模块，用于提供特征靶标，将所述紫外光转换为具有相应特征的紫外光，并发送至标准紫外成像光谱仪或被校准紫外成像光谱仪；标准紫外成像光谱仪，用于接收靶标模块输出的紫外光并输出标准光辐射功率；控制模块，用于接收所述标准光辐射功率和被校准紫外成像光谱仪输出的光辐射功率，并输出校准结果；本发明提供的真空紫外成像光谱仪校准装置，能够在发射前对真空紫外成像光谱仪进行校准，保证真空紫外成像光谱仪在空间站的正常运行。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104374474B
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：CN201410535632.8
申请日：2014-10-11
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明提供了一种高精度紫外光谱辐照度测量系统，包括紫外漫透射片、汇聚透镜组、入射狭缝、消偏振器、折反镜、紫外分光系统和线阵紫外探测器。所述紫外漫透射片是一片圆形玻璃；所述汇聚透镜组由一块凸透镜和一块凹透镜组成，两块透镜中心轴线重合，组成一个汇聚光学系统用来收集漫透射光,两块透镜前后表面均镀紫外增透膜；所述入射狭缝高度范围为1mm～40mm；所述消偏振器由两块依次放置的延迟器组合而成；所述折反镜表面镀紫外高反膜。所述紫外分光系统采用光栅分光方式。本发明可对紫外光谱辐射照度进行高精度的测量。
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公开(公告)号：CN103677011B
公开(公告)日：2016-01-27
申请号：CN201310626223.4
申请日：2013-11-28
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种适用于真空条件下面源黑体宽温度范围控制系统。本系统包括温度控制仪表、程控电源、温度传感器、制冷装置、加热片和面源黑体辐射源；其中，所述加热片、所述温度控制仪表分别设置于所述面源黑体辐射源上，所述温度控制仪表的第一路控制信号输出端经所述程控电源与所述加热片连接，所述温度控制仪表的第二路控制信号输出端与所述制冷装置的控制端连接，所述制冷装置与所述面源黑体辐射源连接；所述温度传感器所述温度控制仪表的信号输入端连接。本系统可以有效的提高面源黑体的温度控制范围，特别是制冷方式，能够使得面源黑体控制温度下限达到190K，能逼真的模拟真空低温红外辐射标准源。
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公开(公告)号：CN103018010B
公开(公告)日：2016-01-13
申请号：CN201210499382.8
申请日：2012-11-30
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 一种光源光谱调制装置，包括光源、第一汇聚光学单元、色散单元、数字微镜阵列、第二汇聚光学单元和均匀混光单元；其中，第一汇聚光学单元，汇聚光源的光辐射；色散单元，将经所述第一汇聚光学单元汇聚的光辐射色散成像；数字微镜阵列，位于所述色散单元的焦面处，通过对每个微小反射镜的翻转状态的控制从而对不同光谱位置和光谱带宽进行选择；第二汇聚光学单元，将经所述数字微镜阵列反射的光辐射再次汇聚使其进入均匀混光单元；均匀混光单元，将分离的单色光辐射再次混合重组。本发明通过对光源光谱重新分布，能够对光源的光谱分布特性进行更改，可以应用到光学仪器校准和仿真测试领域，该技术可以提升光学仪器的校准精度和仿真测试能力。
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公开(公告)号：CN103148939B
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201310062603.X
申请日：2013-02-28
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明涉及光学测试技术领域，具体的讲是一种抑制二级光谱的紫外光谱测量方法及系统，其中包括当进行110nm-200nm波段的紫外光谱测量时，将真空仓抽真空，紫外辐射透过所述真空仓的氟化镁窗口进入到检测设备，其中所述氟化镁窗口用于吸收波段在110nm以下的紫外辐射；当进行200nm-400nm波段的紫外光谱测量时，向所述真空仓中注入气体，所述紫外辐射通过所述真空仓中的空气和所述氟化镁窗口进入到检测设备，其中所述空气吸收波段在200nm以下的紫外辐射。通过本发明的实施例，在紫外光谱测量时光源光谱辐射度校准和探测器响应度校准中，将二级光谱的杂散辐射有效滤除，减少测量误差，提升测量精度。
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公开(公告)号：CN103017899B
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201210478694.0
申请日：2012-11-23
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种汇聚摆镜，包括摆镜和旋转位移平台，其中，摆镜包括两块非反射面贴合的凹面反射镜，两块反射镜中心轴线重合，所述凹面反射镜曲面半径范围为50mm～5000mm，其中一块反射镜的反射面A镀30nm～200nm高反射膜，另一块反射面B镀60nm～200nm高反射膜，低于60nm光谱反射率较低。所述摆镜通过旋转位移平台进行平移和旋转运动。本发明可实现标准光源与待测光源的快速切换；并且可实现在光源光谱辐射度校准和探测器响应度校准中高级次光谱杂散辐射的有效滤除，减少测量误差，提升测量精度。
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