恒温全内反射微流控芯片检测一体机

    公开(公告)号:CN205593923U

    公开(公告)日:2016-09-21

    申请号:CN201620404729.X

    申请日:2016-05-08

    Abstract: 本实用新型公开了一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机,由主机箱体和处理显示器组成,其特征在于:主机箱体内部分为下层箱室和上层箱室两层,下层箱室安装有倒置荧光显微镜,在上层箱室内安装有全内反射光源及接收器。上层箱室的里侧箱体壁有加热室。处理显示器与主机箱体内的倒置荧光显微镜和全内反射光源及接收器线路相连。本实用新型相既能够用全内反射检测,又能够用倒置荧光显微镜检测,实现一机多用,一机联测不同因子的要求。并且实现了检测区域的温度均匀与恒定,湿度的均匀与恒定。

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