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公开(公告)号:CN1447193A
公开(公告)日:2003-10-08
申请号:CN03108247.5
申请日:2003-03-21
Applicant: 关东化学株式会社 , 恩益禧电子股份有限公司
IPC: G03F7/42 , H01L21/027 , H05K3/06
CPC classification number: H01L21/02063 , G03F7/423
Abstract: 本发明提供一种光致抗蚀剂残渣除去液组合物,其在半导体电路元件的制造过程中,对干蚀刻后残留的光致抗蚀剂残渣的除去性优良,且可以不腐蚀配线材料和不对阻挡层金属、层间绝缘膜材料产生损伤地进行光致抗蚀剂残渣的除去。该光致抗蚀剂残渣除去液组合物含有:一种或两种以上氟化合物、和从乙醛酸、抗坏血酸、葡萄糖、果糖、乳糖和甘露糖组成的组中选择的一种或两种以上,但是该组合物不包括氟化铵、极性有机溶剂、水和抗坏血酸所组成的组合物。
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公开(公告)号:CN1575057A
公开(公告)日:2005-02-02
申请号:CN200410055016.9
申请日:2004-05-31
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G02F1/13439 , G02F1/133553 , H01L27/1214 , H01L27/3211 , H01L27/322 , H01L27/3244 , H01L51/5218 , H01L51/5228 , H01L51/5234 , H01L51/5243 , H01L51/5246 , H01L51/5253 , H01L51/5265 , H01L51/56 , H01L2251/5315
Abstract: 本发明提供一种制造叠层结构的方法,其能够通过防止侧面蚀刻构图成所需形状。将由ITO等制成的粘接层、由银或含银合金制成的反射层、由ITO等制成的阻挡层依次层叠在基材上,其间具有作为基底层的平面化层,之后,在阻挡层上形成掩模,并利用该掩模同时蚀刻粘接层、反射层和阻挡层,以形成叠层结构。作为蚀刻气体的实例,优选包含甲烷(CH4)的气体。该叠层结构用作阳极,并在叠层结构上依次层叠绝缘膜、包括发光层的有机层和作为阴极的公共电极,以便形成有机发光器件。该叠层结构可以用作液晶显示器的反射电极、反射膜或配线。
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公开(公告)号:CN100405633C
公开(公告)日:2008-07-23
申请号:CN200410055016.9
申请日:2004-05-31
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G02F1/13439 , G02F1/133553 , H01L27/1214 , H01L27/3211 , H01L27/322 , H01L27/3244 , H01L51/5218 , H01L51/5228 , H01L51/5234 , H01L51/5243 , H01L51/5246 , H01L51/5253 , H01L51/5265 , H01L51/56 , H01L2251/5315
Abstract: 本发明提供一种制造叠层结构的方法,其能够通过防止侧面蚀刻构图成所需形状。将由ITO等制成的粘接层、由银或含银合金制成的反射层、由ITO等制成的阻挡层依次层叠在基材上,其间具有作为基底层的平面化层,之后,在阻挡层上形成掩模,并利用该掩模同时蚀刻粘接层、反射层和阻挡层,以形成叠层结构。作为蚀刻气体的实例,优选包含甲烷(CH4)的气体。该叠层结构用作阳极,并在叠层结构上依次层叠绝缘膜、包括发光层的有机层和作为阴极的公共电极,以便形成有机发光器件。该叠层结构可以用作液晶显示器的反射电极、反射膜或配线。
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