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公开(公告)号：CN111081323A
公开(公告)日：2020-04-28
申请号：CN201911319827.8
申请日：2019-12-19
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于Tersoff力场的石墨烯多级粗粒化方法，属于石墨烯的分子动力学模拟领域。本发明的目的是为了解决大规模石墨烯结构的高效快速准确计算问题，所述方法为：调整原Tersoff势函数参数；探索一级粗粒化石墨烯模型Tersoff势函数；探索二级粗粒化石墨烯模型Tersoff势函数。该计算方法参数选取简单、计算速度快、计算精度高，可以解决大型石墨烯结构的计算问题。本发明的方法参数选取思路简单，无需其他复杂的理论知识与数学推导，符合大型工程计算的要求。该粗粒化方法可以实现多级粗粒化模拟计算，对于具有对称结构的石墨烯材料而言通过选取合适的势函数参数，可以极大地减少计算成本，优化效率可以不断升高。
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公开(公告)号：CN106052549B
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201610643663.4
申请日：2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域与光学工程领域，具体涉及一种组合调零高动态精度大工作距自准直装置与方法；该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成；该方法通过调整反射镜，使反射光束回到反馈成像系统像面中心，再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化；由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜，因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题，进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围，或在相同工作范围下增加工作距离的优势；此外，准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计，使本发明还具有结构简单、制作成本低；同时能够全程监测被测物装配过程；以及快速测量的技术优势。
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公开(公告)号：CN106323197B
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201610638787.3
申请日：2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域和光学工程领域，具体涉及便携式阵列调零高精度激光大工作距自准直装置与方法；该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成；该方法通过调整反射镜，使反射光束回到反馈成像系统像面中心，再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化；由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜，因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题，进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围，或在相同工作范围下增加工作距离的优势；此外，准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计，使本发明还具有小型便携、测量精度高；同时还能监测测量环境稳定性；以及快速测量的技术优势。
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公开(公告)号：CN106247992B
公开(公告)日：2019-01-29
申请号：CN201610639007.7
申请日：2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域与光学工程领域，具体涉及一种高精度、宽范围和大工作距自准直装置与方法；该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成；该方法通过调整反射镜，使反射光束回到反馈成像系统像面中心，再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化；由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜，因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题，进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围，或在相同工作范围下增加工作距离的优势；此外，准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计，使本发明还具有结构简单、制作成本低；尤其低采样频率下具有高测量精度；以及快速测量的技术优势。
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公开(公告)号：CN106225730B
公开(公告)日：2019-01-29
申请号：CN201610638880.4
申请日：2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域和光学工程领域，具体涉及便携式组合调零高精度激光大工作距自准直装置与方法；该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成；该方法通过调整反射镜，使反射光束回到反馈成像系统像面中心，再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化；由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜，因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题，进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围，或在相同工作范围下增加工作距离的优势；此外，准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计，使本发明还具有小型便携、测量精度高；同时还能监测测量环境稳定性；以及快速测量的技术优势。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106017363B
公开(公告)日：2019-01-29
申请号：CN201610639131.3
申请日：2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域与光学工程领域，具体涉及一种高动态精度大工作距自准直装置与方法；该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成；该方法通过调整反射镜，使反射光束回到反馈成像系统像面中心，再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化；由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜，因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题，进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围，或在相同自准直工作范围下增加工作距离的技术优势；此外，准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计，使本发明还具有结构简单、制作成本低；同时能够全程监测被测物装配过程；以及快速测量的技术优势。
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公开(公告)号：CN106247993B
公开(公告)日：2018-11-09
申请号：CN201610639162.9
申请日：2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域和光学工程领域，具体涉及一种宽范围大工作距自准直装置与方法；该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成；该方法通过调整反射镜，使反射光束回到反馈成像系统像面中心，再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化；由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜，因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题，进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围，或在相同自准直工作范围下增加工作距离的技术优势；此外，准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计，使本发明还具有结构简单、制作成本低；尤其低采样频率下具有高测量精度；以及快速测量的技术优势。
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公开(公告)号：CN106017364B
公开(公告)日：2018-11-09
申请号：CN201610639132.8
申请日：2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域与光学工程领域，具体涉及一种高精度激光大工作距自准直装置与方法；该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成；该方法通过调整反射镜，使反射光束回到反馈成像系统像面中心，再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化；由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜，因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题，进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围，或在相同自准直工作范围下增加工作距离的技术优势；此外，准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计，使本发明还具有结构简单、制作成本低；同时还能监测测量环境稳定性；以及快速测量的技术优势。
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公开(公告)号：CN106052547B
公开(公告)日：2018-11-06
申请号：CN201610638928.1
申请日：2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域和光学工程领域，具体涉及便携式组合调零高精度大工作距自准直装置与方法；该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成；该方法通过调整反射镜，使反射光束回到反馈成像系统像面中心，再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化；由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜，因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题，进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围，或在相同工作范围下增加工作距离的优势；此外，准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计，使本发明还具有小型便携、测量精度高；尤其低采样频率下具有高测量精度；以及快速测量的技术优势。
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公开(公告)号：CN106052659B
公开(公告)日：2018-08-24
申请号：CN201610639085.7
申请日：2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01C15/00
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域与光学工程领域，具体涉及一种便携式激光大工作距自准直装置与方法；该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成；该方法通过调整反射镜，使反射光束回到反馈成像系统像面中心，再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化；由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜，因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题，进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围，或在相同自准直工作范围下增加工作距离的技术优势；此外，准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计，使本发明还具有小型便携、测量精度高；在不稳定测量环境下同样能够测量；以及快速测量的技术优势。
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