沿面放电表面电荷高精度测量方法、系统、设备和介质

    公开(公告)号:CN119575092A

    公开(公告)日:2025-03-07

    申请号:CN202411704196.2

    申请日:2024-11-26

    Abstract: 本发明属于绝缘材料的电气性能研究技术领域,涉及一种沿面放电表面电荷高精度测量方法、系统、设备和介质。本发明方法通过获取绝缘材料的沿面放电路径图像、电位扫描结果和粉尘图分布特性,为后续分析提供基础数据;根据绝缘材料的形状结合相应的反演算法对电位扫描结果进行反演计算,得到表面电荷分布特性;根据沿面放电路径图像、表面电荷分布特性和粉尘图分布特性获得沿面放电过程中的流注‑先导通道特征,可以获得流注的高精度流注‑先导放电通道的电荷分布与空间分布特性,量化区分流注先导通道内部的电荷密度。另外,可以更精细的获得放电过程中的微观物理过程,包括反向放电、等离子体通道内电荷中和、流注通道周围的电子崩发生过程。

    一种纳米电介质界面水分状态检测方法、系统及电子设备

    公开(公告)号:CN117607092A

    公开(公告)日:2024-02-27

    申请号:CN202311547397.1

    申请日:2023-11-20

    Abstract: 本发明公开了一种纳米电介质界面水分状态检测方法、系统及电子设备,涉及纳米电介质界面水分检测技术领域。本发明包括基于慢速弛豫过程、快速弛豫过程和分子间拉伸过程搭建构建初始弛豫共振综合极化模型;获取以不同测试太赫兹脉冲测试当前测试点时的复介电常数,对所述初始弛豫共振综合极化模型进行拟合,得到慢速弛豫过程弛豫极化强度、快速弛豫过程弛豫极化强度和分子间拉伸过程谐振极化强度,进而确定待测纳米电介质样品界面中当前测试点处的水分状态。本发明通过构建弛豫共振综合极化模型,能够完成对纳米电介质界面水分状态的无损检测。

    一种晶闸管电压监测板的污秽失效测试方法

    公开(公告)号:CN112034405B

    公开(公告)日:2022-12-27

    申请号:CN202010745198.1

    申请日:2020-07-29

    Abstract: 本发明公开了一种晶闸管电压监测板的污秽失效测试方法,包括:模拟换流站阀厅电气设备的实际污秽程度,对待测晶闸管电压监测板的表面进行涂污。调整当前的环境相对湿度为预设的初始环境相对湿度,并对所述待测晶闸管电压监测板进行加压测试,记录所述待测晶闸管电压监测板发出回报信号时刻的脉冲宽度和对应的电源电压幅值。判断所述脉冲宽度和电源电压值是否均满足标准范围值;若是,则根据预设调整量调整所述初始环境相对湿度,再次进行加压测试;若否,则判定所述待测晶闸管电压监测板在当前的环境相对湿度下已失效,并结束污秽失效测试。本发明实施例能在预设污秽程度下确定晶闸管电压监测板的失效湿度,为其污秽失效机理提供实验依据。

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