一种真空低温环境下红外辐射计用外标定源及温控系统

    公开(公告)号:CN111721419A

    公开(公告)日:2020-09-29

    申请号:CN201910211830.1

    申请日:2019-03-20

    Abstract: 本发明公开了一种真空低温环境下红外辐射计用外标定源及其温控系统,所述外标定源为方形面型黑体,包括辐射板(201)、加热制冷器件(202)、热平衡板(203)、散热器(204),所述上述部件依次紧密接触,并通过支撑结构(205)紧固在一起。所述温控系统包括标定源控制器、功率输出器件和温度传感器,所述温度传感器实时采集外标定源温度,并实时反馈给标定源控制器,所述标定源控制器将外标定源温度实测值与设定值比较,输出控制信号,驱动所述功率输出器件输出功率,从而调节外标定源加热制冷器件的功率。本发明可对系统进行在线实时标定,保证测量准确性。

    一种真空低温环境下应用的红外辐射计及测量方法

    公开(公告)号:CN111721417A

    公开(公告)日:2020-09-29

    申请号:CN201910211694.6

    申请日:2019-03-20

    Abstract: 本发明公开了一种真空低温环境下应用的红外辐射计,包括外标定源、光学系统、内标定源和调制扇、红外探测器组件、前置宽带放大器、锁相放大器、数据采集处理及控制器。所述内标定源、外外标定源用于红外辐射计的定标;所述光学系统用于收集目标光线;所述调制扇放置在光学系统与红外探测器组件之间,对被测光辐射进行调制,作为锁相放大器的同步输入;所述前置放大器将红外探测器组件的输出信号进行放大,输出给锁相放大器,锁相放大器处理后,形成与被测目标红外辐射量值成正比的信号,由AD采集,经由计算机及软件处理,形成测量结果。本发明可实现在轨定标用校准源的在轨多点、高精度、宽温度范围、快速量值溯源或辐射量值测量。

    光阑式真空紫外辐射亮度计

    公开(公告)号:CN110470385A

    公开(公告)日:2019-11-19

    申请号:CN201810435084.X

    申请日:2018-05-09

    Abstract: 本发明涉及光学测试技术领域,公开了一种光阑式真空紫外辐射亮度计。其中,该亮度计包括依次设置在光路中的光阑、探测器、放大器和采集器,所述光阑用于获取待测光源发出的待测光的光辐射,所述探测器用于对所述光辐射进行光电转换后输出电信号,所述放大器用于对所述电信号进行放大,所述采集器用于对放大后的电信号进行采集,并根据采集的电信号计算待测光的光谱辐射亮度值。由此,能够获取例如真空紫外光源的光谱辐射亮度值,为真空紫外空间载荷的地面标定提供准确的输入量值。

    温度传感装置
    44.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109827664A

    公开(公告)日:2019-05-31

    申请号:CN201711178073.X

    申请日:2017-11-23

    Abstract: 本发明提供了一种温度传感装置,温度传感装置包括传感头底座、传感头主体部、模拟黑体腔、导热堵头、耐高温光纤、光纤固定结构、固定顶丝、传光光纤和信号处理系统,传感头底座与待测物体相接触,传感头主体部与传感头底座连接,模拟黑体腔与容纳腔相对设置,耐高温光纤用于接收模拟黑体腔发出的光辐射信号,光纤固定结构用于固定耐高温光纤,固定顶丝用于限制光纤固定结构沿传感头主体部的轴向方向的移动,传光光纤与耐高温光纤连接,信号处理系统用于将传光光纤输出的光辐射信号转换为待测物体的温度。应用本发明的技术方案,以解决现有技术中温度传感装置的测温范围受限且动态响应、干扰屏蔽、使用寿命和恶劣环境适应性差的技术问题。

    一种真空紫外光谱辐射计校准方法及装置

    公开(公告)号:CN106885632B

    公开(公告)日:2019-01-29

    申请号:CN201710125038.5

    申请日:2017-03-03

    Abstract: 本发明涉及一种真空紫外光谱辐射计校准方法及装置,所述方法包括:光谱辐射亮度响应度校准、光谱辐射照度响应度校准和/或波长准确度校准,上述校准均是在无油真空仓中进行的。所述装置包括光谱辐射亮度响应度校准机构、光谱辐射照度响应度校准机构和波长准确度校准机构。国内目前尚无适用于真空紫外光谱辐射计的校准装置,采用本发明的真空紫外光谱辐射计校准方法及装置,可在发射前即在地面实验室真空紫外光谱辐射计的多个参数进行校准,有效保证了真空紫外光谱辐射计获取数据的准确性,对获取太阳和地球表面等日地空间环境的光谱信息等均有着重大意义。

    真空紫外成像光谱仪校准装置

    公开(公告)号:CN106644070A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201510731548.8

    申请日:2015-11-02

    CPC classification number: G01J3/2823 G01J3/0297 G01J3/10

    Abstract: 本发明提供一种真空紫外成像光谱仪校准装置,包括:真空紫外光源,用于产生不同波段的紫外光;真空紫外光处理模块,用于将所述紫外光进行分光和均匀处理;真空紫外靶标模块,用于提供特征靶标,将所述紫外光转换为具有相应特征的紫外光,并发送至标准紫外成像光谱仪或被校准紫外成像光谱仪;标准紫外成像光谱仪,用于接收靶标模块输出的紫外光并输出标准光辐射功率;控制模块,用于接收所述标准光辐射功率和被校准紫外成像光谱仪输出的光辐射功率,并输出校准结果;本发明提供的真空紫外成像光谱仪校准装置,能够在发射前对真空紫外成像光谱仪进行校准,保证真空紫外成像光谱仪在空间站的正常运行。

    一种多光谱星光光源
    47.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105467597A

    公开(公告)日:2016-04-06

    申请号:CN201510848295.2

    申请日:2015-11-27

    CPC classification number: G02B27/0955 G02B27/0972

    Abstract: 本发明涉及一种多光谱星光光源,其特征在于,所述多光谱星光光源包括依次串联的初始钨灯光源、汇聚光学系统、光学准直系统、棱镜色散系统、空间调制系统及均匀混光系统,所述初始钨灯光源发出的光经过所述汇聚光学系统在焦面处形成柱面光波,经过所述光学准直系统转化为平行光,再通过所述棱镜色散系统使多种波长的色散光谱投射在所述空间调制系统上,所述空间调制系统选择目标光谱进入所述均匀混光系统,由所述均匀混光系统输出端输出光谱范围从300nm到1100nm光谱任意可调的均匀光斑。本发明提供的光源能够同时兼顾高能量利用率与多光谱性。

    一种光源光谱调制装置
    48.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103018010B

    公开(公告)日:2016-01-13

    申请号:CN201210499382.8

    申请日:2012-11-30

    Abstract: 一种光源光谱调制装置,包括光源、第一汇聚光学单元、色散单元、数字微镜阵列、第二汇聚光学单元和均匀混光单元;其中,第一汇聚光学单元,汇聚光源的光辐射;色散单元,将经所述第一汇聚光学单元汇聚的光辐射色散成像;数字微镜阵列,位于所述色散单元的焦面处,通过对每个微小反射镜的翻转状态的控制从而对不同光谱位置和光谱带宽进行选择;第二汇聚光学单元,将经所述数字微镜阵列反射的光辐射再次汇聚使其进入均匀混光单元;均匀混光单元,将分离的单色光辐射再次混合重组。本发明通过对光源光谱重新分布,能够对光源的光谱分布特性进行更改,可以应用到光学仪器校准和仿真测试领域,该技术可以提升光学仪器的校准精度和仿真测试能力。

    一种抑制二级光谱的紫外光谱测量方法及系统

    公开(公告)号:CN103148939B

    公开(公告)日:2015-06-17

    申请号:CN201310062603.X

    申请日:2013-02-28

    Abstract: 本发明涉及光学测试技术领域,具体的讲是一种抑制二级光谱的紫外光谱测量方法及系统,其中包括当进行110nm-200nm波段的紫外光谱测量时,将真空仓抽真空,紫外辐射透过所述真空仓的氟化镁窗口进入到检测设备,其中所述氟化镁窗口用于吸收波段在110nm以下的紫外辐射;当进行200nm-400nm波段的紫外光谱测量时,向所述真空仓中注入气体,所述紫外辐射通过所述真空仓中的空气和所述氟化镁窗口进入到检测设备,其中所述空气吸收波段在200nm以下的紫外辐射。通过本发明的实施例,在紫外光谱测量时光源光谱辐射度校准和探测器响应度校准中,将二级光谱的杂散辐射有效滤除,减少测量误差,提升测量精度。

    一种紫外多参数校准装置
    50.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103175677A

    公开(公告)日:2013-06-26

    申请号:CN201310065833.1

    申请日:2013-03-04

    Abstract: 本发明涉及紫外光参数校准技术领域,具体的讲是一种紫外多参数校准装置,旋转平台内置于所述真空仓内,单色仪与真空仓相连接,紫外探测器通过单色仪测量真空仓内的紫外光源的辐射,或者紫外光源通过单色仪向真空仓提供紫外光源的辐射;标准紫外光源,待校准光源,标准紫外探测器,待校准探测器,紫外成像器和紫外成像参数校准系统均置于所述旋转平台之上,所述旋转平台根据控制信号沿着所述旋转平台的圆心旋转,其中,所述紫外成像器和紫外成像参数校准系统处于同一光路。通过上述实施例,能够在一个共用校准装置上实现紫外光源光谱辐射度校准、紫外探测器光谱响应度和紫外成像器参数的校准,节省了试验成本,提高了试验效率。

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