光子计数半导体探测器
    31.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104620387B

    公开(公告)日:2018-10-26

    申请号:CN201380044197.2

    申请日:2013-08-12

    Abstract: 一种辐射探测器(10),包括:半导体元件(1),其用于生成正空穴和电子;阴极(2),其被形成在所述半导体元件(1)的第一表面上;以及,多个分段式阳极(3),其被形成在所述半导体元件(1)的第二表面上,所述第二表面与所述第一表面相对。此外,多个分段式转向电极(5a)被定位为毗邻所述多个分段式阳极(3)。此外,多个掺杂原子被定位在所述多个分段式阳极(3)的至少部分之上,以降低所述多个分段式阳极(3)与所述多个分段式转向电极(5a)之间的电压差。

    高能量分辨率/高X射线通量光子计数探测器

    公开(公告)号:CN107850682A

    公开(公告)日:2018-03-27

    申请号:CN201680041152.3

    申请日:2016-07-04

    CPC classification number: G01T1/247 G01T1/243 G01T7/00

    Abstract: 一种成像系统包括探测器模块。探测器模块包括多个直接转换光子计数探测器像素的块以及与多个直接转换光子计数探测器像素的块相连接的对应的电子器件,电子器件具有用于高能量分辨率成像模式和高X射线通量成像模式两者的硬件。一种方法包括:识别用于选定的成像协议的扫描模式,其中,扫描模式包括较高能量分辨率模式和较高X射线通量模式中的一种;基于所识别的扫描模式来配置探测器模块,探测器模块能被配置用于较高能量分辨率模式和较高X射线通量模式两者;利用被配置用于选定的成像协议的模式的探测器模块来执行扫描;并且处理来自扫描的扫描数据,生成体积图像数据。

    谱光子计数探测器
    33.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104471441B

    公开(公告)日:2017-07-18

    申请号:CN201380034404.6

    申请日:2013-06-26

    Inventor: C·赫尔曼

    CPC classification number: G01T1/171 G01N23/046 G01T1/17 H03M1/125

    Abstract: 一种装置包括脉冲整形器(120)和峰值探测器(150),其中,所述脉冲整形器(120)用于接收指示探测到的光子的信号并根据所述信号来生成多个脉冲以形成脉冲序列(200),所述峰值探测器(150)用于在所述脉冲整形器(120)的输出端处对所述脉冲序列(200)进行采样。所述峰值探测器(150)包括用于对所述脉冲序列(200)的极大(202a、b、c)值和极小(204a、b)值进行选择性地检测和采样的电路(300)。之后经由模拟到数字转换器(160)将采样的所述极大(202a、b、c)和所述极小(204a、b)值从模拟格式转换成数字格式。

    直接转换光子计数探测器
    35.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104662444A

    公开(公告)日:2015-05-27

    申请号:CN201380048499.7

    申请日:2013-09-18

    CPC classification number: G01T1/241 G01T1/249

    Abstract: 本发明公开了一种像素化的直接转换光子计数探测器,所述直接转换光子计数探测器具有直接转换材料层和像素化的电极。独立电极像素被分割成三段(510、520、530),其中,所述段中的一个(520)以比其他两个(510、530)的电排斥力值更大的电排斥力值来操作。所述其他两段被连接到电子电路(610、611、620、630),所述电子电路被布置为生成指示接近相应的电极像素段中的每个的电子或空穴的计数的信号,并且被布置为将生成的信号彼此相减。

    X射线探测器
    36.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103998952A

    公开(公告)日:2014-08-20

    申请号:CN201280062943.6

    申请日:2012-12-06

    Inventor: C·赫尔曼

    CPC classification number: G01T1/17 G01N23/04 G01T1/208 G01T1/247 G01T1/2985

    Abstract: 本发明涉及一种X射线探测器,所述X射线探测器包括传感器单元(200、300),其用于探测入射X射线辐射,所述传感器单元(200、300)包括多个传感器元件(230、311-314)、每个传感器元件的计数通道(240)、每个传感器元件的集成通道(250)和处理单元(260),每个传感器元件的所述计数通道(240)用于通过对自测量间隔开始响应于入射X射线辐射而生成的光子或电荷脉冲进行计数来获得计数信号,每个传感器元件的所述集成通道(250)用于获得表示自测量间隔开始探测到的辐射的总能量的集成信号,所述处理单元(260)用于从传感器元件(321)的集成信号中估计传感器元件(311、312)的计数信号,所述传感器元件(311、312)的计数通道在测量间隔期间已经是饱和的。

    直接转换辐射探测
    37.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110869812B

    公开(公告)日:2024-01-02

    申请号:CN201880043457.7

    申请日:2018-06-21

    Abstract: 所述至少一个光发射器毗邻光导层(5)和/或被本发明涉及一种辐射探测器(1)、一种成像 集成在光导层(5)中,其用于将红外辐射发射到系统以及一种用于辐射探测的相关的方法。所述 光导层中。探测器包括:直接转换材料(2),其用于通过直接光子‑物质相互作用而将X射线和/或伽玛辐射转换成电子‑空穴对。所述探测器包括阳极(3)和阴极(4),其被布置在直所述接转换材料(2)的相对侧上,使得电子和空穴能够分别由阳极和阴极来收集。所述阴极对红外辐射是基本上透明的。所述探测器包括光导层(5),所述光导层在阴极上的所述阴极与直接转换材料相对的一侧处,其中,所述光导层适于使红外辐射在所述直接转换材料上分布。所述探测器包括反射体层(6),所述反射体层被布置在光导层(5)上的在阴极相对的

    光子计数计算机断层摄影
    38.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109416405B

    公开(公告)日:2023-07-11

    申请号:CN201780040078.8

    申请日:2017-06-29

    Abstract: 一种图像信号处理系统(ISP),包括:输入接口(IN),其用于接收由具有光子计数探测器(D)的X射线成像装置(IA)采集的光子计数投影数据。所述系统的校准数据存储器(CMEM)保存校准数据。所述校准数据针对i)所述探测器(D)或ii)不同探测器的不同能量阈值对光子计数数据与路径长度曲线进行编码。所述曲线中的至少一条曲线不是一对一的。所述系统的路径长度转换器(PLC)基于所述校准数据将在所述光子计数投影数据中的条目转换成相关联的路径长度。

    具有采样的区分器的电荷共享补偿

    公开(公告)号:CN113711084A

    公开(公告)日:2021-11-26

    申请号:CN202080028856.3

    申请日:2020-03-04

    Abstract: 本发明涉及光子计数。具体而言,提供了光子计数数据采集模块。所述光子计数数据采集模块包括信号输入单元和一个或多个数据采集通道,每个通道适于将从所述信号输入单元接收的脉冲的至少一个队列转换为计数器信号。每个数据采集通道包括脉冲最大值识别器和包括区分器和计数器的区分器/计数器对。所述脉冲最大值识别器被配置为识别接收到的脉冲的所述至少一个队列中的脉冲的最大值。所述区分器被配置为通过检测到接收到的脉冲的所述至少一个队列中的脉冲的最大值而被触发,将所述脉冲与至少一个信号阈值进行比较以生成计数器信号。替代地,所述计数器被配置为响应于检测到脉冲的最大值而被启用以生成计数器信号。

    高能量分辨率/高X射线通量光子计数探测器

    公开(公告)号:CN107850682B

    公开(公告)日:2021-07-27

    申请号:CN201680041152.3

    申请日:2016-07-04

    Abstract: 一种成像系统包括探测器模块。探测器模块包括多个直接转换光子计数探测器像素的块以及与多个直接转换光子计数探测器像素的块相连接的对应的电子器件,电子器件具有用于高能量分辨率成像模式和高X射线通量成像模式两者的硬件。一种方法包括:识别用于选定的成像协议的扫描模式,其中,扫描模式包括较高能量分辨率模式和较高X射线通量模式中的一种;基于所识别的扫描模式来配置探测器模块,探测器模块能被配置用于较高能量分辨率模式和较高X射线通量模式两者;利用被配置用于选定的成像协议的模式的探测器模块来执行扫描;并且处理来自扫描的扫描数据,生成体积图像数据。

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