一种电子元器件加速老化连续测量系统

    公开(公告)号:CN117969985A

    公开(公告)日:2024-05-03

    申请号:CN202311780788.8

    申请日:2023-12-21

    Abstract: 本发明公开了一种电子元器件加速老化连续测量系统,包括:若干电子元器件、恒温恒湿箱、射频开关、多路复用器以及电参数测量仪;所述射频开关,用于在对应的预设时段内,接通或者断开恒温恒湿箱与电源之间的通路,以及接通或者断开恒温恒湿箱与多路复用器之间的通路;恒温恒湿箱用于在各个预设时间周期内,为各所述电子元器件提供稳定的温度和湿度环境;多路复用器,用于将各个电子元器件与电参数测量仪连接,以通过电参数测量仪对各所述电子元器件进行测量,并获取各电子元器件的电参数测量数据;通过实施本发明,能够减少电子元器件加速老化试验当中的无效时间,提高了电子元器件的测量效率,并提高了加速老化试验结果的准确性。

    一种电抗器局放检测和缺陷识别系统

    公开(公告)号:CN117647712A

    公开(公告)日:2024-03-05

    申请号:CN202311681086.4

    申请日:2023-12-08

    Abstract: 本发明公开了一种电抗器局放检测和缺陷识别系统,包括:高压变频逆变单元、谐振补偿电容复合网络单元、高频电流传感器采集单元以及上位机;所述高压变频逆变单元,用于为被测电抗器和所述谐振补偿电容复合网络单元提供恒定的电压输出;所述谐振补偿电容复合网络单元,用于根据被测电抗器的电抗值切换对应电容值的电容,以使被测电抗器的谐振频率保持预设的恒定谐振频率;所述高频电流传感器采集单元,用于采集被测电抗器的局放信号;所述上位机,用于根据被测电抗器的局放信号,对被测电抗器进行缺陷识别,判断被测电抗器是否存在缺陷。通过本发明可以对电抗器进行有效的缺陷识别。

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