公开(公告)号：CN111257576A

公开(公告)日：2020-06-09

申请号：CN201911199603.8

申请日：2019-11-29

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 黑野浩司

IPC: G01N35/00

Abstract: 本发明提供一种样本分析装置和样本分析方法。本发明针对数个测定项目进行样本分析的样本分析装置具备：测定部，连续进行样本测定，并进行精度管理测定，其中，样本测定对混合样本和与测定项目相应的试剂而制备的测定试样进行测定，精度管理测定对混合精度管理物质和与测定项目相应的试剂而制备的测定试样进行测定；控制部，从包括从第1精度管理、第2精度管理和第3精度管理选择的至少两种精度管理在内的精度管理群按每项测定项目设定精度管理，并根据设定的精度管理控制测定部，其中，第1精度管理在一定时刻执行精度管理测定，第2精度管理在样本测定每进行一定测定次数时执行精度管理测定，第3精度管理每隔一定时间间隔执行精度管理测定。

公开(公告)号：CN102023225A

公开(公告)日：2011-04-20

申请号：CN201010283212.7

申请日：2010-09-16

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 山登隆司 ,  黑野浩司

IPC: G01N35/02 ,  G01N35/04 ,  G01N1/28

CPC classification number: G01N35/026 ,  G01N35/00603 ,  G01N35/00613 ,  G01N35/0092 ,  G01N35/025 ,  G01N2035/0415 ,  G01N2035/0427

Abstract: 本发明提供一种样本处理装置，包括：样本处理部分，获取样本容器中的样本进行预定处理；运送部分，有将固定所述样本容器的样架运送到所述样本处理部分的运架区、能取出所述样架的取架区以及防止所述运架区的所述样架和操作者接触的限制件；以及运送控制部分，如果所述运送部分运送所述样架过程中发生预定运送中断事由，则控制所述运送部分将所述运架区上的所述样架运到所述取架区。本发明还提供一种样架运送方法。

公开(公告)号：CN102023222A

公开(公告)日：2011-04-20

申请号：CN201010283194.2

申请日：2010-09-16

Applicant: 希森美康株式会社

Inventor： 山登隆司 ,  黑野浩司 ,  小池洋毅

IPC: G01N35/00

CPC classification number: G01N35/026 ,  G01N35/00603 ,  G01N35/00732 ,  G01N35/0092 ,  G01N2035/00752 ,  G01N2035/0415 ,  G01N2035/0427 ,  Y10T436/113332 ,  Y10T436/115831

Abstract: 本发明提供一种样本处理装置，包括：样本处理部分，从位于取样位的样本容器中获取样本进行预定处理；运送部分，经由所述取样位运送固定所述样本容器的样架；以及运送控制部分，如果所述样架在运送过程中发生运送中断事由，实施停止所述运送部分对所述样架运送动作的处理，控制所述运送部分从所述样架因停止处理而停止的位置重新开始所述样架的运送。本发明还提供一种样架运送方法。