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公开(公告)号:CN110133472B
公开(公告)日:2020-05-19
申请号:CN201910481839.4
申请日:2019-06-04
Applicant: 华北电力大学 , 全球能源互联网研究院有限公司
IPC: G01R31/265 , G01R31/27
Abstract: 本发明提供一种IGBT芯片的非接触式工作参数测量方法。所述测量方法首先利用双脉冲测试电路的仿真模型确定表示IGBT芯片的工作参数与IGBT芯片工作过程中产生的PETT振荡信号关系的拟合函数,然后利用所述双脉冲测试电路,获取不同的工作参数的实际值对应的PETT振荡信号参数的实际值,得到测试数据,根据测试数据确定拟合函数中的待定系数,得到拟合函数模型;然后采用天线获取IGBT芯片实际工作过程中产生的PETT振荡信号,并根据所述函数模型和实际工作过程中产生的PETT振荡信号,获取IGBT芯片实际工作过程的工作参数,实现了IGBT芯片的非接触式测量,进而实现了高压电力系统换流阀和断路器等中的IGBT芯片的工作参数的实时在线监测。
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公开(公告)号:CN105552037B
公开(公告)日:2020-04-24
申请号:CN201510960380.8
申请日:2015-12-18
IPC: H01L23/10 , H01L29/739
Abstract: 本发明提供一种新型压接式IGBT模块,包括管壳和同轴设于所述管壳上、下两端的板状金属电极,下端金属电极的内侧面上固定有凸台,所述凸台与上端金属电极之间压接有功率子模块;所述凸台以所述下端金属电极的中心为圆心,由内层到外层依次圆周等分布在所述下端金属电极的内侧面上。本发明提供的技术方案改善了压接式IGBT模块的凸台在通过瞬态电流时,部分电流过冲太大的问题,提高了压接式IGBT功率模块的可靠性,增大了压接式IGBT功率模块的安全工作区。
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公开(公告)号:CN109752638A
公开(公告)日:2019-05-14
申请号:CN201910084809.X
申请日:2019-01-29
Applicant: 华北电力大学
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开一种连续测量IGBT芯片输出曲线的装置及方法。所述装置包括电容,电感,被测IGBT,辅助IGBT,续流二极管,负载电阻,直流电压源,驱动脉冲生成器,电流测量装置和电压测量装置。所述方法基于电感充放电电路,通过一次充放电过程为被测IGBT提供连续变化的电流,同时测量IGBT的电流和电压,即可以得到被测IGBT芯片的整条输出曲线,达到简单、快速测量IGBT芯片输出曲线的效果。
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公开(公告)号:CN206148429U
公开(公告)日:2017-05-03
申请号:CN201620356491.8
申请日:2016-04-25
Applicant: 华北电力大学 , 全球能源互联网研究院 , 国家电网公司
IPC: H01L25/11 , H01L23/528
CPC classification number: H01L2224/0603 , H01L2224/4846 , H01L2224/48472 , H01L2224/49111 , H01L2224/49113 , H01L2224/49175
Abstract: 本实用新型提供了一种便于串联使用的大功率IGBT模块,包括功率子单元、金属电极板和外部管壳;金属电极板设置在外部管壳的底部;外部管壳包括两列方形框架;两列方形框架之间留有空间形成一个条状框架;功率子单元设置在方形框架内且与金属电极板紧密接触,其包括金属端盖、栅极PCB板、辅助栅极PCB板和多个功率半导体芯片;辅助栅极PCB板设置在条状框架内;金属端盖、金属电极板和栅极PCB板分别与功率半导体芯片的集电极、发射极和栅极电气连接。与现有技术相比,本实用新型提供的一种便于串联使用的大功率IGBT模块,既有利于功率半导体器件的串联,同时不需要太大的钳位压力,降低了功率半导体器件在实际应用过程中对机械结构的要求。
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公开(公告)号:CN206148403U
公开(公告)日:2017-05-03
申请号:CN201620356492.2
申请日:2016-04-25
Applicant: 华北电力大学 , 全球能源互联网研究院 , 国家电网公司
IPC: H01L21/66
Abstract: 本实用新型提供了一种基于开关特性测量的IGBT芯片筛选结构,包括上端盖、下端盖和发射极金属电极;上端盖和下端盖均为凹形盖,上端盖和下端盖的两侧壁通过外框架弹簧连接形成一个长方体框架;发射极金属电极设置在长方体框架内,其包括圆盘形金属电极,及相对该圆盘形金属电极的中心轴对称分布的多个凸台,凸台上放置IGBT模块;圆盘形金属电极布置在下端盖上,其上面和侧面分别设置有一个栅极PCB板和一个辅助栅极/发射极端子。与现有技术相比,本实用新型提供的一种基于开关特性测量的IGBT芯片筛选结构,可以在主回路参数一致的条件下,测量多个并联的IGBT芯片的开关波形,从而综合评价芯片的动静态参数是否一致。
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