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公开(公告)号：CN105403869A
公开(公告)日：2016-03-16
申请号：CN201510830381.0
申请日：2015-11-25
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01S7/38
CPC classification number: G01S7/38
Abstract: 本发明公开一种舰船隐身装置及方法，所述装置包括：曲面板、第一固定装置及第二固定装置；其中，曲面板固定地设置于舰船侧舷外表面并向外凸出，用于减少雷达波的散射；第一固定装置与曲面板上端相连，用于从舰船上方固定曲面板；第二固定装置与曲面板下端相连，用于从舰船下方固定曲面板。通过本发明公开的舰船隐身装置及方法能够改变舰船侧舷与海平面形成的强散射结构，缩减舰船的特征信号，实现较好的隐身效果，从而有效降低舰船被敌方雷达发现及被敌方武器击中的概率，提升舰船的生存能力、突防能力及作战能力。
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公开(公告)号：CN105353374A
公开(公告)日：2016-02-24
申请号：CN201510983010.6
申请日：2015-12-24
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01S13/89
CPC classification number: G01S13/89
Abstract: 公开了一种用于自旋目标的单频雷达成像方法，所述方法包括：将获取的目标在所有方位角下的雷达回波划分为N个子孔径，对每个子孔径内的雷达回波作傅里叶变换，以获取每个子孔径内散射强度的横向分布；对获取的N个子孔径内散射强度的横向分布进行RADON逆变换，以重建目标的第一图像；根据重建的目标的第一图像，利用CLEAN算法重建目标的第二图像。根据本发明，既能解决宽角度连续波雷达回波的成像问题，又能很好的解决自旋目标的成像问题。本发明的方法在雷达目标的检测和识别中有着较强的实用价值。
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公开(公告)号：CN104977578A
公开(公告)日：2015-10-14
申请号：CN201510357508.1
申请日：2015-06-25
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01S7/48
CPC classification number: G01S7/4802
Abstract: 本发明涉及一种复杂目标中顶帽结构的尺寸参数提取方法，包括：构建顶帽结构的参数化模型；针对任一入射角，提取顶帽结构在顶帽结构在该入射角下的RCS变化曲线；根据顶帽结构在任一入射角下的RCS变化曲线，获取顶帽结构的RCS空间分布图；依据RCS空间分布图和参数化模型确定顶帽结构的尺寸参数信息。根据本发明的复杂目标中顶帽结构的尺寸参数提取方法，无须要求顶帽结构满足帽顶高度和帽沿宽相等的条件，能够针对一般的顶帽结构，且能够提高复杂目标中顶帽结构尺寸参数提取的准确性和精确性。
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公开(公告)号：CN104808187A
公开(公告)日：2015-07-29
申请号：CN201510128771.3
申请日：2015-03-23
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G01S7/41
CPC classification number: G01S7/41
Abstract: 本发明提供一种基于广义Hough变换三维散射中心提取方法，所述方法包括：对第一雷达散射截面积数据进行处理，建立二维散射中心高度切片；对每个二维散射中心高度切片进行二值分析和广义Hough变换，得到散射中心的二维位置和滑动半径；利用散射中心的二维位置和滑动半径得到散射中心高度值z与滑动半径R满足的直线方程，得到的直线方程为第一直线方程；将第一雷达散射截面积数据替换为第二雷达散射截面积数据，重复上述步骤得到的直线方程为第二直线方程；利用第一方程和第二方程，得到散射中心三维位置与滑动半径。能够有效对滑动型二维和三维散射中心进行提取，原理简单、直观，实现方便。
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公开(公告)号：CN113960560B
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN202111483755.8
申请日：2021-12-07
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明涉及一种点源角反射器阵列RCS模拟评估方法和装置，该方法的一个具体实施方式包括：对待评估的点源角反射器阵列进行电磁仿真计算，获取所述点源角反射器阵列的雷达散射截面RCS值；对获取的所述点源角反射器阵列的RCS值进行平滑处理，得到平滑后的RCS值；根据所述平滑后的RCS值对所述点源角反射器阵列的RCS模拟精度和RCS分布均匀性进行评估；其中，所述RCS模拟精度包括整体RCS精度和中心RCS精度，RCS分布均匀性包括RCS方位向分布均匀性和RCS俯仰向分布均匀性。该实施方式能够针对点源角反射器阵列的RCS模拟精度和RCS分布均匀性进行准确评估。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117495188A
公开(公告)日：2024-02-02
申请号：CN202311511409.5
申请日：2023-11-13
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G06Q10/0639 , G06F30/20
Abstract: 本发明提供了一种电磁数据产品的质量评价方法及装置，其中方法包括：获取待评价的电磁数据产品；所述电磁数据产品为利用仿真模型对特定场景输出的电磁数据；利用预先针对每一个评价指标的评价准则和评分准则，对所述电磁数据产品的每一个评价指标分别进行评分；所述评价指标包括：数据完备性、数据规范性和数据精度；根据每一个评价指标的权重和评分，计算所述电磁数据产品的质量评价总分值。本方案，能够对电磁数据产品的质量实现定量评价。
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公开(公告)号：CN117317612A
公开(公告)日：2023-12-29
申请号：CN202311336460.7
申请日：2023-10-16
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明实施例涉及微波工程技术和超表面技术领域，特别涉及一种基于超表面的龙伯透镜及其制备方法。其中，该龙伯透镜包括多层金属超表面层和多层介质层，所述金属超表面层和所述介质层沿厚度方向依次交替设置，且所述金属超表面层的层数大于所述介质层的层数；每个金属超表面层均由若干个金属薄层单元组成，每个金属薄层单元表面上均刻蚀有左右对称的双开口谐振环。本方案，不仅能够实现对平面波入射的聚焦，而且在大角度斜入射下该透镜也能够对电磁波进行高效率聚焦；因此，本发明实施例中的龙伯透镜具有结构简单、厚度较薄易于平面共形的优点，并且其宽角度聚焦位置随入射角度一一对应，具有聚焦角度范围广的优势。
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公开(公告)号：CN112070151B
公开(公告)日：2023-12-29
申请号：CN202010926790.1
申请日：2020-09-07
Applicant: 北京环境特性研究所
IPC: G06V10/764 , G06V10/82 , G06V10/774
Abstract: 本发明涉及一种MSTAR数据图像的目标分类识别方法、计算机设备及计算机可读存储介质，该方法包括如下步骤：获取MSTAR数据集并进行方位角信息检测，评估MSTAR数据集方位角信息缺失情况；若方位角间隔角度不超过4°，则对MSTAR数据集进行均匀降采样，得到初始训练集；以平移截取的方式扩充初始训练集，利用扩充后得到的训练集训练CNN网络；利用训练完成后得到的CNN网络进行目标分类识别。本发明能够充分利用方位角信息不完备的数据集，并压缩数据集容量，减少数据冗余，通过小样本数据集实现目标较为准确的分类识别，在一定程度上解决了
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公开(公告)号：CN112731301B
公开(公告)日：2023-06-09
申请号：CN202011596649.6
申请日：2020-12-29
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明提供了一种圆盘形杂波模拟测量的干扰抑制方法及装置。所述方法包括：生成圆盘形地杂波随方位角变化的一维距离像历程图；对所述的一维距离像历程图进行角度向的傅里叶变换，获得圆盘形地杂波的距离多普勒图像；确定所述距离多普勒图像中圆盘前沿和后沿的位置；在所述距离多普勒图像中，分别以圆盘前沿和后沿为中心，构建两个矩形区域，将所述两个矩形区域内的像素值赋为零，得到抑制圆盘前沿和后沿干扰的距离多普勒图像；将所述抑制圆盘前沿和后沿干扰的距离多普勒图像反变回地杂波回波信号。所述装置包括：一维距离像历程图生成模块、距离多普勒图像生成模块、前后沿确定模块、矩形区域构建模块和反变模块。
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公开(公告)号：CN111880181B
公开(公告)日：2021-11-30
申请号：CN202010761626.X
申请日：2020-07-31
Applicant: 北京环境特性研究所
Abstract: 本发明公开了一种微弱痕迹处理方法、装置、检测方法及装置，所述处理方法包括：对制作的地物背景下的痕迹样本进行测试，获取痕迹样本在不同擦地角下的全方位扫频雷达散射截面RCS测试数据；对所述RCS测试数据进行二维高分辨逆合成孔径雷达ISAR成像，获取不同擦地角下的全方位ISAR图像数据；对所述痕迹样本在预定擦地角下的多个方位角的ISAR图像数据进行融合，得到微弱痕迹的多角度融合增强结果图像；对比不同擦地角下全方位ISAR图像数据的融合结果图像；确定所述地物背景下对微弱痕迹进行目标增强优选的擦地角角度数据。本发明能够实现微弱痕迹目标的发现、探测和识别。
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