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公开(公告)号：CN118171758A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202311855184.5
申请日：2023-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种产业园区碳排放预测系统及方法，该系统通过多个布设在产业园区不同位置的二氧化碳气体探测器，采集二氧化碳浓度数据，并上传到服务器，服务器根据历史预设时长内的二氧化碳浓度数据，预测未来一段时期内产业园区的碳排放量，实现了对产业园区的碳排量的精准预测，为管理人员作出合理的治理决策奠定了数据基础，解决了现有技术中缺乏对产业园区未来一段时期内碳排放的预测方法，导致无法实现事前预防，导致目前的对碳排放的治理效果不佳的问题。
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公开(公告)号：CN114612998B
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202210159543.2
申请日：2022-02-22
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G06V40/19 , G06V10/22 , G06V10/147
Abstract: 本发明公开了一种远距离虹膜采集系统及采集方法，用以在远距离应用场景下，采集到符合要求的双眼图像，保证虹膜识别结果的准确性。所述系统包括单自由度云台和三个相机模组，云台包括云台平台和云台控制器，第一相机模组安装在云台平台正中间，第二相机模组和第三相机模组对称分布在第一相机模组的左右两侧；第一相机模组，用于采集人脸图像并发送给云台控制器；云台控制器，用于检测人脸图像中的人眼位置；根据人眼位置与预设的理想位置，确定云台控制量；根据云台控制量控制云台平台上下移动至相应位置；第二相机模组，用于在云台平台停止移动后，采集左眼图像；第三相机模组，用于在云台平台停止移动后，采集右眼图像。
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公开(公告)号：CN117789116A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311673266.8
申请日：2023-12-07
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G06V20/52 , G06V10/764 , G06V10/82 , G06V10/26 , G06N3/0464 , G06N3/048 , G06N3/08 , G01N21/39 , G01C21/20
Abstract: 本申请公开了一种人工智能遥测方法及装置，解决了现有技术无人工干预下不能灵活的对不同风险的待测区域采取不同的扫描方案的问题。人工智能遥测方法，包含步骤：将待测区域分成若干分区，获取每个分区的扫描图像，通过卷积神经网络对所述扫描图像进行识别并存入数据库；对待测区域进行扫描，根据扫描到的零部件属性类别和坐标信息，判断当前分区的预设风险等级；所述预设风险等级有对应的扫描策略。本申请将人工智能技术引入场站云台监控系统，实现自动提取激光甲烷遥测的目标区域并自动规划和优化巡航路径。具有自适应性和智能化的特点，能够根据场站设施或观测场景的变化，自动实时调整巡航策略。
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公开(公告)号：CN117490000A
公开(公告)日：2024-02-02
申请号：CN202311507046.8
申请日：2023-11-13
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种燃气管道泄露检测方法和装置，用于燃气管道泄漏检测，包括：采集燃气管道外观和振动声音数据；基于监督学习训练深度学习模型；应用训练好的深度学习模型来检测所述燃气管道外观和振动声音数据，确定故障部件和故障位置。还公开了一种燃气管道泄漏检测装置，包括：机械运动模块、图像视频采集分析模块、甲烷气体检测模块、振动采集模块和主控AI分析模块。解决了燃气管道泄漏检测不方便、检测环境适应能力差、检测准确性低等问题，通过该检测装置，可以沿管道进行检测，提高了对检测环境的适应能力，提高了泄漏检测准确性，实现了检测的自动化、智能化。
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公开(公告)号：CN114612998A
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN202210159543.2
申请日：2022-02-22
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G06V40/19 , G06V10/22 , G06V10/147
Abstract: 本发明公开了一种远距离虹膜采集系统及采集方法，用以在远距离应用场景下，采集到符合要求的双眼图像，保证虹膜识别结果的准确性。所述系统包括单自由度云台和三个相机模组，云台包括云台平台和云台控制器，第一相机模组安装在云台平台正中间，第二相机模组和第三相机模组对称分布在第一相机模组的左右两侧；第一相机模组，用于采集人脸图像并发送给云台控制器；云台控制器，用于检测人脸图像中的人眼位置；根据人眼位置与预设的理想位置，确定云台控制量；根据云台控制量控制云台平台上下移动至相应位置；第二相机模组，用于在云台平台停止移动后，采集左眼图像；第三相机模组，用于在云台平台停止移动后，采集右眼图像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114383785A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202111666327.9
申请日：2021-12-31
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01M3/24
Abstract: 本申请涉及一种相关仪及管道漏水点检测方法，其中，相关仪包括主机、至少两个信号发射机，每个所述信号发射机连接有一个传感器探头，每个所述信号发射机分别和所述主机通讯，各所述信号发射机能够安装于所述管道上。声速矫正单元用于测量两信号发射机之间管道水声的传播速度，所述声速矫正单元和所述信号发射机相连。本申请的相关仪不完全采用理论声速进行管道漏水点检测，而是能够兼顾管线腐蚀、老化及给定的管径误差等因素造成的传播速度值与实际传播速度值存的差异，做到实时声速校正，提高管道漏水点检测精度和效率。本申请的相关仪可做到非侵入式检测不破坏管线，操作简单，不依赖于工作人员经验，大大提高检漏效率。
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公开(公告)号：CN110566716B
公开(公告)日：2020-12-11
申请号：CN201910798322.8
申请日：2019-08-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种基于卡尔曼滤波器的轨道阀阀位测量系统及方法，包括：布置于轨道阀上的陀螺仪和霍尔传感器，还包括控制器，所述控制器通过数据采集器与陀螺仪和霍尔传感器相连接；所述数据采集器获取陀螺仪和霍尔传感器的测量数据，控制器构建卡尔曼滤波器，控制所述数据采集器对陀螺仪测量数据进行量测更新，得到更新后的一步预测第一状态向量与一步预测系统协方差量；根据预测系统协方差量获得更新的卡尔曼滤波器的增益矩阵；根据所述增益矩阵进一步更新当前第一状态向量与当前系统协方差量。本发明通过融合霍尔传感器与陀螺仪数据，解决了单一传感器测量精度较差的问题。
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公开(公告)号：CN109525352B
公开(公告)日：2020-08-07
申请号：CN201811569644.7
申请日：2018-12-21
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开一种地下管网设备时间同步方法，包括：S1、利用GPS接收机和时间间隔测量单元，测出中继转发器M到传感设备N的延时时间TN，其中，M、N均为自然数；S2、通过云端服务器搜集所述延时时间TN并确定所有延时时间中的最大延时Tmax，然后将所述延时时间TN和所述最大延时Tmax发送给第N个所述传感设备，或将预设时间△tN＝Tmax‑TN发送给所述传感设备N；S3、所述云端服务器通过所述中继转发器M向所述传感设备N发送同步指令；S4、所述传感设备N收到所述同步指令后对时钟信号进行计数，并延迟预设时间△tN后输出同步脉冲实现同步。采用本发明的时间同步方法消除了云端服务器与传感设备间传输信号质量差的影响，同时提高了地下管网设备时间同步精度。
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公开(公告)号：CN109615856A
公开(公告)日：2019-04-12
申请号：CN201811562959.9
申请日：2018-12-20
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G08G1/01 , G08G1/07 , G08G1/0962 , G08G1/16 , G08B21/06
Abstract: 本申请公开了一种智能交通服务器、智能交通灯设备和车载终端。所述车载终端，采集人脸图像、车辆位置、车速，发送车辆位置信号、人脸图像信号；接收提醒信息；提醒信息包含拥堵路段位置信息、车辆与拥堵路段之间的距离信息、人脸异常状态信息中至少一种。所述智能交通服务器用于接收车辆位置信号和车速信号、确定道路拥堵位置；接收人脸图像信号、识别人脸异常状态；向车载终端发出提醒信息。所述智能交通灯设备包含交通灯、控制模块，所述控制模块接收控制指令、改变所述交通灯的状态；向车载终端发出交通灯状态信息。本申请避免在拥堵路段因驾驶员处于疲劳、醉酒等异常状态时，不能及时控制与前车距离发生追尾事故，缓解交通拥堵状况。
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公开(公告)号：CN109581196A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811598175.1
申请日：2018-12-26
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请公开了一种包含工艺角检测电路的芯片及检测方法，该芯片包括工作电路和检测电路，所述工作电路和所述检测电路在同一工艺过程中同时制成，所述检测电路包括振荡器和或恒压源；该检测方法通过测量振荡器输出频率与标称频率的差值和或恒压源输出电压值与标称电压值的差值，根据实测差值确定工作电路的频率偏差百分比和或电压偏差百分比。本发明具有很强的通用性，检测精确、检测周期短，可以实现高速自动检测，降低了芯片出厂测试的时间成本。
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