一种用于脉冲波形不确定度评定的方法和控制器

    公开(公告)号:CN112924761B

    公开(公告)日:2023-05-26

    申请号:CN202011576606.1

    申请日:2020-12-28

    Abstract: 本发明涉及一种用于脉冲波形不确定度评定的方法和控制器,所述方法包括:对脉冲波形进行测量,得到具有N个采样点的脉冲波形测量结果;根据所述脉冲波形测量结果得到对应的频域矢量信号;根据所述频域矢量信号得到该频域矢量信号对应的频域协方差矩阵对所述频域协方差矩阵进行重新排列得到频域协方差矩阵对频域协方差矩阵进行降维,得到降维后的频域协方差矩阵计算降维后的频域协方差矩阵得到满足允差要求的不确定度信息。通过本发明所述的方法不再需要计算只需要计算就能以较少的运算量得到包含满足我们可以接受的不确定度信息的频域协方差矩阵,从而极大的减少频域协方差矩阵的运算量,提高了运算效率。

    一种电光介质棒互联结构及电光取样装置

    公开(公告)号:CN115931147A

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202211625150.2

    申请日:2022-12-16

    Abstract: 本申请公开了一种电光介质棒互联结构及电光取样装置,解决了现有技术互联器件不连续导致较大模式损耗的问题。电光介质棒互联结构,包含介质棒和矩形波导。所述介质棒两端分别有部分插入两侧所述矩形波导的贯通腔中。所述介质棒中间段上有接收激光脉冲信号垂直入射的平面。电光取样装置,包含:电光介质棒互联结构,用于将传输的待测高速脉冲信号的信息附加到脉冲激光信号中。激光脉冲模块,用于将激光脉冲信号聚焦到所述电光介质棒互联结构。光电探测模块,用于将携带信息的激光脉冲信号转换为电脉冲信号。数据采集模块,用于处理电脉冲信号,提取高速脉冲信号信息。本申请的电光介质棒互联结构是连续结构,可以有效地避免装置有较大模式损耗。

    一种高分辨力太赫兹脉冲探测装置和方法

    公开(公告)号:CN115876324A

    公开(公告)日:2023-03-31

    申请号:CN202211618569.5

    申请日:2022-12-15

    Abstract: 本申请公开了一种高分辨力太赫兹脉冲探测装置,包括:单模激光器,用于产生固定频率的第一路连续激光;可调谐激光器,用于产生频率可调的第二路连续激光;光耦合器,用于将两路连续激光混合后,输入到连续波光导混频器;所述连续波光导混频器,用于将两路连续激光混频后生成本振信号,再与太赫兹脉冲信号作用后生成电流信号输出。本申请还包含一种高分辨力太赫兹脉冲探测方法,使用所述高分辨力太赫兹脉冲探测装置。本申请解决现有技术的太赫兹脉冲探测装置频谱分辨力难以提高的问题。

    一种用于获取高精度频谱的方法、装置和存储介质

    公开(公告)号:CN115630260A

    公开(公告)日:2023-01-20

    申请号:CN202211233122.6

    申请日:2022-10-10

    Abstract: 本申请涉及信号处理技术领域,公开了一种用于获取高精度频谱的方法,包括:将长度为M的时域离散数据作为数据单元,向后进行N次时移得到扩展的时域离散数据,将扩展的时域离散数据进行频域变换得到第一频域离散数据;将第一频域离散数据拆分成N组频域数据组,其中,第i组的第一项频域数据为第一频域离散数据的第i‑1项,且,同组后续数据与前一项数据的距离为N;将每个频域数据组中的第一项数据取出并重新组合得到第二频域离散数据。通过时域数据的N次时移以及频域变换、频域数据的拆分、滤波与重组,能以较低的运算复杂度得到高精度频谱数据,本申请还公开一种用于获取高精度频谱的装置和存储介质。

    一种皮秒级脉冲产生器波形参数测量装置及方法

    公开(公告)号:CN112763083B

    公开(公告)日:2022-03-25

    申请号:CN202011376570.2

    申请日:2020-11-30

    Abstract: 本发明公开一种皮秒级脉冲产生器波形参数测量装置及方法,包括微波信号源、数据采集与分析模块和匹配终端,微波信号源的信号输出端和数据采集与分析模块连接,微波信号源的10MHz参考信号输出端依次通过功分器、超快脉冲产生器、适配器、电光采样探头与匹配终端相连;功分器通过激光器重复频率锁定模块连接有飞秒激光器,飞秒激光器的光输出端输出的空间飞秒激光激励放置于电光采样探头的缝隙中;电光采样探头的信号输出端通过偏振光分束器、平衡光电探测器、电流放大器与数据采集与分析模块相连。采用本发明提供的测量装置和方法,有效地解决了目前商品型示波器无法满足脉冲半幅度宽度日益减小的皮秒级脉冲波形测量需求的问题。

    一种太赫兹探针瞬态响应校准方法和装置

    公开(公告)号:CN110441723B

    公开(公告)日:2021-08-31

    申请号:CN201910807934.9

    申请日:2019-08-29

    Abstract: 本发明公开一种太赫兹探针瞬态响应校准方法和装置,包括:S1、将太赫兹探针的同轴端通过电缆与负载连接,太赫兹探针与共面波导连接测量太赫兹探针方向的第一反射系数;S2、将太赫兹探针的同轴端通过电缆与偏置短路器连接,太赫兹探针与共面波导连接测量太赫兹探针方向的第二反射系数;S3、根据所述第一反射系数和第二反射系数计算太赫兹探针的时域瞬态响应。本发明根据共面波导上两个不同位置处的太赫兹脉冲波形测量结果。与三位置模型校准方法相比,减少了一种测量配置,对等间距准确度的依赖降低,耗时变短、数据处理复杂度降低、不确定度传递链变短,太赫兹探针响应校准结果的噪声和不确定度都变小。

    一种基于频谱的太赫兹材料复折射率测量方法

    公开(公告)号:CN113310941A

    公开(公告)日:2021-08-27

    申请号:CN202110386569.6

    申请日:2021-04-12

    Abstract: 本发明公开了一种基于频谱的太赫兹材料复折射率测量方法,包括,利用频谱测量仪进行样品测量,基于测量数据得到离散频谱上的频率透射率T(f)和时域反射特性t(τ);将所述频率透射率T(f)表示为法布里‑珀罗干涉(FP干涉)形式,并基于所述时域反射特性t(τ)取得τ0;定义高斯函数g(τ,τ0)和其对应的频谱G(f,τ0);基于所述高斯函数g(τ,τ0)对所述频率透射率T(f)进行处理获得更新后的频谱透射率T′(f,τ0);基于所述处理后的频谱透射率得到所述局部极大值(极小值)组数m和复折射率实部n,并计算得到初始相位φ;根据Kramers‑Kronig关系计算所述复折射率的虚部k,得到所述样品的复折射率和吸光度。

    基于光电导技术的皮秒级脉冲波形参数测量装置和方法

    公开(公告)号:CN112763082A

    公开(公告)日:2021-05-07

    申请号:CN202011375143.2

    申请日:2020-11-30

    Abstract: 本发明公开一种基于光电导技术的皮秒级脉冲波形参数测量装置和方法,包括微波信号源、数据采集与分析模块和匹配终端,微波信号源的信号输出端和数据采集与分析模块的参考信号输入端连接,微波信号源的10MHz参考信号输出端依次通过功分器、皮秒级脉冲产生器、适配器、共面波导与匹配终端相连;功分器的信号输出端通过激光器重复频率锁定模块连接有飞秒激光器,飞秒激光器的光输出端依次通过光电导探针、电流放大器与数据采集与分析模块相连。采用本发明提供的测量装置和方法,有效地解决了目前商品型示波器无法满足脉冲半幅度宽度日益减小的皮秒级脉冲波形测量需求的问题。

    基于单位置模型的太赫兹探针瞬态特性校准方法和系统

    公开(公告)号:CN110531297B

    公开(公告)日:2021-03-19

    申请号:CN201910802158.3

    申请日:2019-08-28

    Abstract: 本申请实施例提供一种基于单位置模型的太赫兹探针瞬态特性校准方法和系统,所述方法包括以下步骤:太赫兹脉冲信号沿共面波导从左向右传输,将共面波导整体长度的居中位置设为测量参考面,测量太赫兹脉冲波形;将待测太赫兹探针的同轴端与终端连接50Ω负载的长同轴电缆连接,压接至所述测量参考面,测量太赫兹脉冲波形;将待测太赫兹探针同轴端连接的器件由终端连接50Ω负载的同轴电缆更换为偏置短路器,测量太赫兹脉冲波形;计算所述待测太赫兹探针的时域瞬态响应。本申请还提供了一个适用于以上方法的装置。与现有技术太赫兹探针校准方法和装置比较,本申请具有噪声和不确定度小的有益效果。

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