TDLAS温度校准系统
    31.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103175634A

    公开(公告)日:2013-06-26

    申请号:CN201310048162.8

    申请日:2013-02-06

    Abstract: TDLAS温度校准系统,用于实现对TDLAS温度测量的校准,其特征在于,包括标准传感器温度测量系统和被校准的在真空环境下测量气体温度的TDLAS温度测量系统,所述TDLAS温度测量系统中的光学系统位于恒温槽中,所述光学系统的壳体与所述恒温槽周壁之间具有恒温液,所述标准传感器温度测量系统中的标准传感器位于所述恒温液内。

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