公开(公告)号：CN106796183B

公开(公告)日：2018-07-24

申请号：CN201580054773.0

申请日：2015-09-18

Applicant: 住友化学株式会社

Inventor： 加集功士 ,  今佑介 ,  坂本达哉 ,  王剑

IPC: G01N21/892

CPC classification number: H01M2/145 ,  B26D1/035 ,  B26D7/14 ,  B26D7/2614 ,  B65H16/10 ,  B65H18/08 ,  B65H26/02 ,  B65H2557/62 ,  G01N21/892 ,  G01N21/894 ,  G03B1/04 ,  G03B1/42 ,  G03B1/56 ,  G03B17/00 ,  G03B17/30 ,  G03B17/425 ,  G03B21/00 ,  G03B21/328 ,  G03B2217/243 ,  H01M2/1653 ,  H01M2/166 ,  H01M2/1686 ,  H01M10/0525

Abstract: 膜制造方法包括：缺陷信息取得工序，取得包含隔膜卷料(12b)的缺陷(D)的位置信息的缺陷信息；分切工序，将隔膜卷料(12b)分切而得到多个隔膜(12a)；以及判定工序，根据一个与缺陷(D)相关的缺陷信息，将实际含有缺陷(D)的隔膜(12a)以及与该隔膜(12a)邻接的其他隔膜(12a)判定为不合格隔膜。

公开(公告)号：CN108120725A

公开(公告)日：2018-06-05

申请号：CN201711232370.8

申请日：2017-11-29

Applicant: 住友化学株式会社

Inventor： 四宫由隆 ,  加集功士

IPC: G01N21/892

CPC classification number: G01N21/896 ,  G01N23/083 ,  H01M2/145 ,  H01M2/1653 ,  H01M2/166 ,  H01M2/1686 ,  H01M10/0525 ,  H01M10/48 ,  G01N21/8851 ,  G01N21/8901 ,  G01N21/892 ,  G01N2021/8874 ,  G01N2021/8925

Abstract: 本发明提供缺陷检查装置、缺陷检查方法、隔膜卷绕体的制造方法及隔膜卷绕体。本发明能够利用少的台数的缺陷检查装置来检查隔膜卷绕体的内部有无缺陷。缺陷检查装置(1)具有：射线源部(2)，其对隔膜卷绕体(10)照射电磁波(4)；以及传感器部(3)，其对由射线源部(2)照射并透过隔膜卷绕体(10)后的电磁波(4)进行检测。

公开(公告)号：CN106796184A

公开(公告)日：2017-05-31

申请号：CN201580054791.9

申请日：2015-01-30

Applicant: 住友化学株式会社

Inventor： 渡边耕一郎 ,  片冈达哉 ,  加集功士

IPC: G01N21/892 ,  G01N21/894

Abstract: 本发明的课题在于容易地确定隔膜的缺陷位置。隔膜卷料(12b)的制造方法包括：形成工序，形成在隔膜卷料(12c)上涂覆有耐热层的隔膜卷料(12b)；缺陷检测工序，对通过所述形成工序形成的隔膜卷料(12b)中存在的缺陷(D)进行检测；以及缺陷信息记录工序，记录包括缺陷(D)在所述隔膜卷料(12b)的宽度方向上的位置信息的缺陷信息。