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公开(公告)号:CN114674755A
公开(公告)日:2022-06-28
申请号:CN202210256344.3
申请日:2022-03-15
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明为解决现有激光超声检测模式中激发与检测相对独立,难以实现激发即检测或同轴激发检测,同时检测方法中需要通过更换掩膜、透镜阵列或光纤阵列的方式实现不同阵列线源周期可调,难以实现阵列线源周期连续可调的技术问题,而提供了一种用于周期可调同轴激光超声检测的光学系统。该系统基于声光衍射和4f成像原理,激发光和探测光同轴入射声光晶体,被声光衍射的激发光在待测样品表面干涉诱导瞬态光栅,同轴入射的探测光被表面瞬态光栅衍射,衍射出的探测光携带了样品超声响应信息,返回4f系统后被分离检出,超声的激发和探测经过同一个4f系统完成,实现同轴激发与检测。
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公开(公告)号:CN114322826A
公开(公告)日:2022-04-12
申请号:CN202111498175.6
申请日:2021-12-09
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明提供一种基于TOF的气动热环境下结构表面动态三维形貌测量装置,解决现有三维形貌测量技术无法在气动热环境下准确测量结构表面三维形貌的问题。装置包括脉冲激光模块、柱透镜组、扫描振镜组、偏振分束镜、1/4波片、透镜、可调反射镜组、窄带滤波片、条纹相机、同步控制模块和数据处理与显示模块;柱透镜组、扫描振镜组、偏振分束镜沿脉冲激光模块出射光路依次设置,1/4波片位于偏振分束镜反射光路上,透镜、可调反射镜组、窄带滤波片和条纹相机依次设在偏振分束镜透射光路上;数据处理与显示模块获取条纹相机N张条纹图像并重建,获得三维形貌深度图像;同步控制模块控制脉冲激光模块、扫描振镜组、可调反射镜组和条纹相机的同步。
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公开(公告)号:CN113805328A
公开(公告)日:2021-12-17
申请号:CN202111112048.8
申请日:2021-09-18
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种产生周期连续可调激光阵列线源的光学系统及其调节方法,可用作激光超声无损检测的激励源。克服现有激光阵列线源,周期无法连续可调的问题。光学系统包括脉冲激光器、分束镜、光学延迟线、可调反射镜及合束镜;分束镜将脉冲激光分为透射光束与反射光束;光学延迟线将反射光束和透射光束之间的相对光程差调节为零;可调反射镜调节反射光束与透射光束之间的夹角;合束镜将经过光学延迟线以及可调反射镜的反射光束及透射光束合束,反射光束及透射光束发生干涉,干涉条纹即为输出的激光阵列线源,利用可调反射镜调节反射光束与透射光束之间的夹角,实现激光阵列线源周期连续调整。
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公开(公告)号:CN112218420B
公开(公告)日:2021-12-14
申请号:CN202011059398.8
申请日:2020-09-30
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及超快诊断技术,具体涉及一种全太赫兹驱动的电子束操纵和表征系统及方法,以解决现有的条纹相机存在时间分辨率低、结构复杂和稳定性差的问题。本发明所采用技术方案为:全太赫兹驱动的电子束操纵和表征系统包括飞秒激光器、紫外激光脉冲发生装置、第一反射镜、分束镜、单周期太赫兹发生装置、第二反射镜、多周期太赫兹发生装置、相机、真空腔室、以及在真空腔室中沿光路依次设置的直流加速系统、开孔离轴抛物面镜、太赫兹电子束操纵系统、太赫兹偏转系统和荧光屏;本发明还提供了一种全太赫兹驱动的电子束操纵和表征方法。
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公开(公告)号:CN113552611A
公开(公告)日:2021-10-26
申请号:CN202110666558.3
申请日:2021-06-16
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01T3/00
Abstract: 本发明涉及一种超快中子脉冲能谱探测系统及方法,以解决现有中子能谱仪无法满足超快中子脉冲皮秒级时间分辨的能谱探测问题。该系统包括同步触发单元、线偏振光发生单元、延迟模块、分束器、参考光单元、探测光单元以及光谱仪。同步触发单元同步触发中子脉冲源和线偏振光发生单元;线偏振光发生单元产生线偏振光L,线偏振光L依次经延迟模块和分束器后,分为第一参考光L1和第一探测光L2;第一参考光L1经参考光单元相位延时π后形成第二参考光L1’;探测光单元包括光纤环形器以及设置在DIM腔室内的普克尔斯晶体和反射镜,第一探测光L2入射至普克尔斯晶体形成偏振状态改变的第二探测光L2’,再与第二参考光L1’发生干涉;光谱仪接收干涉图像。
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公开(公告)号:CN112595696B
公开(公告)日:2021-10-15
申请号:CN202011459774.2
申请日:2020-12-11
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01N21/63
Abstract: 本发明涉及粘接界面状态的原位表征方法,具体涉及一种辐照条件下粘接界面状态的原位表征方法。本发明的目的是解决现有方法中存采用射线探伤方法时,依赖辐射源等大型专用设备,服役现场的展开受到空间限制,使用便利性不足,采用超声探伤方法时,辐照条件下对人员防护要求高且难以满足长期使用的要求,采用结构动力学分析时,传感器及其粘贴用胶粘剂的辐射耐受性需专门研究的技术问题,提供一种辐照条件下粘接界面状态的原位表征方法。该方法以涉及辐照条件的核电设备等为主要应用对象,通过粘接界面取样、典型状态的标定、服役现场非接触原位检测等步骤,实现了非接触、无人化、简单、安全可靠、及时的粘接界面状态表征。
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公开(公告)号:CN113299537A
公开(公告)日:2021-08-24
申请号:CN202110459048.9
申请日:2021-04-27
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明公开了一种一体式的窄边框光电探测器及其制作方法,可用于微光探测、粒子探测与核辐射探测等领域,解决了现有技术中真空光电探测器件圆形结构难以提高有效探测面积比,且微通道板电子倍增器组件采用焊接,因绝缘垫片过薄,导致绝缘性变差的技术问题。该一体式的窄边框光电探测器包括阴极窗、光电阴极、微通道板电子倍增器、绝缘管壳、电荷收集阳极、电极引线以及铟封槽。同时,本发明还提出了一体式的窄边框光电探测器的制作方法,具有探测效率高、有效探测面积比大、结构紧凑、易加工制作等优点。
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公开(公告)号:CN112595696A
公开(公告)日:2021-04-02
申请号:CN202011459774.2
申请日:2020-12-11
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01N21/63
Abstract: 本发明涉及粘接界面状态的原位表征方法,具体涉及一种辐照条件下粘接界面状态的原位表征方法。本发明的目的是解决现有方法中存采用射线探伤方法时,依赖辐射源等大型专用设备,服役现场的展开受到空间限制,使用便利性不足,采用超声探伤方法时,辐照条件下对人员防护要求高且难以满足长期使用的要求,采用结构动力学分析时,传感器及其粘贴用胶粘剂的辐射耐受性需专门研究的技术问题,提供一种辐照条件下粘接界面状态的原位表征方法。该方法以涉及辐照条件的核电设备等为主要应用对象,通过粘接界面取样、典型状态的标定、服役现场非接触原位检测等步骤,实现了非接触、无人化、简单、安全可靠、及时的粘接界面状态表征。
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公开(公告)号:CN109827981B
公开(公告)日:2020-07-31
申请号:CN201910150687.X
申请日:2019-02-28
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01N23/20008
Abstract: 本发明属于超快诊断领域,提供了一种X射线全光固体超快探测芯片调制光栅的制备方法及光栅,解决现有工艺制备的调制光栅,其金属层较薄,难以制备高深宽比的光栅,不能很好实现对X射线阻挡作用的问题,该方法包括以下步骤:步骤一、以全光固体超快探测芯片外延片的外延面作为光栅材料的衬底,选择合适的光栅材料,所述光栅材料为能有效吸收X射线的金属材料;步骤二、在衬底上制备导电的金属模块,形成种子层;步骤三、在种子层上制备胶膜,采用SU‑8胶进行光刻,形成胶光栅结构;步骤四、对制备有胶光栅结构的衬底进行微电镀,形成金属光栅结构;步骤五、去除SU‑8胶,获得金属光栅。
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公开(公告)号:CN111443062A
公开(公告)日:2020-07-24
申请号:CN202010339529.1
申请日:2020-04-26
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明一种半导体材料瞬态折射率超快检测装置及方法,解决现有半导体折射率变化测量方法,无法满足对脉冲入射及脉冲响应特性检测需求的问题。该装置包括高功率脉冲激光器、第一分束镜、脉冲X射线激励单元、探针光调控单元、第二分束镜及信号读出单元;第一分束镜位于脉冲激光器的出射方向,将脉冲激光器产生激光光束分为A光束和B光束;脉冲X射线激励单元位于A光束出射方向,对脉冲激光产生X射线,探针光调控单元位于B光束的出射方向,产生探针光,探针光和X射线同时到达半导体超快探测芯表面;X射线对半导体超快探测芯片折射率进行调制,进而改变探针光的光谱强度;信号读出单元探测探针光光谱强度变化,获得芯片对X射线的响应过程。
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