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公开(公告)号：CN1168076C
公开(公告)日：2004-09-22
申请号：CN00120170.0
申请日：2000-05-03
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/10009 , G11B7/005
Abstract: 提供一种用于检测补偿了时延的回放信号的方法和电路。该电路包括一个时延补偿器，用于检测在光电探测器的输出之间的时差，并将其间出现时差的光电探测器输出的一部分与光电探测器的输出的另一部分暂时进行匹配，以补偿光电探测器输出的所述一部分的时延；以及一个运算单元，用于将补偿了时延的光电探测器的输出的所述一部分与光电探测器的输出的另一部分进行求和，以提供一个回放信号。因此，补偿了在光电探测器的输出之间的时延。
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公开(公告)号：CN1529311A
公开(公告)日：2004-09-15
申请号：CN200410030070.8
申请日：2002-09-28
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/0045 , G11B7/125
CPC classification number: G11B7/126 , G11B7/00454 , G11B7/00456 , G11B7/0062
Abstract: 一种用于在光记录介质上记录数据的方法和装置。该方法包括通过利用具有一包含多脉冲的擦除模式的记录波形来形成标记或间隙。通过这样操作，该方法能防止标记形状的畸变并改进标记形状，从而改进了记录/再现特性。一种用于在光记录介质上记录数据的装置，其包括：记录波形发生单元，其产生具有一包含多脉冲的擦除模式和包含另外多脉冲的记录模式的记录波形；和一拾取单元，其根据所产生的记录波形将光照射在光记录介质上，以便在光记录介质上形成标记或间隙。
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公开(公告)号：CN1160711C
公开(公告)日：2004-08-04
申请号：CN00136638.6
申请日：2000-09-16
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B7/0906 , G11B7/0956 , G11B7/131
Abstract: 一种用于光记录/再现系统的误差信号检测装置，包括：接收从记录介质反射和衍射的光的光检测器、和检测误差信号的电路单元。光检测器包括排列成2×4矩阵的八块光接收部分，包括四块内光接收部分和四块外光接收部分。该内光接收部分在径向上是窄的，而在切向上是宽的，内光接收部分在径向上的总宽度被这样确定，使内光接收部分接收从记录介质反射和衍射的第0级衍射光束的10%到80%。电路单元比较排列在相同行的内光接收部分的检测信号的相位和/或比较排列在相同行的外光接收部分的检测信号的相位，相加或相减相位比较信号后，输出倾斜误差信号和/或跟踪误差信号。即使对于具有窄轨道的高密度记录介质，该装置也可以更精确地控制跟踪和/或倾斜。
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公开(公告)号：CN1139920C
公开(公告)日：2004-02-25
申请号：CN00128687.0
申请日：2000-09-20
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B27/24 , G11B7/0053 , G11B7/00718 , G11B7/24082 , G11B2220/216 , G11B2220/2575
Abstract: 一种物理标识数据寻址方法、摆动地址编码电路及检测方法和电路及记录介质。以时分复用的方式，在每个凹槽轨道中记录对表示物理标识信息的地址信息相位调制而获取的摆动信号和含简单载波的摆动信号。摆动载波和摆动地址信息交替记录在每个凹槽轨道及奇和偶凹槽轨道之间，摆动地址信息不记录在对应于记录了摆动地址信息的奇凹槽轨道的区段的偶凹槽轨道的区段中。因此，消除了相邻轨道摆动信号之间的干扰，并简化摆动地址检测电路。
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公开(公告)号：CN1467729A
公开(公告)日：2004-01-14
申请号：CN03140958.X
申请日：2003-06-02
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1426 , G11B7/0062 , G11B20/10009
Abstract: 提供一种用于在光学记录介质上记录数据的方法和设备。在该方法中，使用记录波形形成一个标记或一个空间，该记录波形包括DC记录模式，以及其中含有多脉冲的擦除模式。根据该方法，能够防止标记的失真和改善标记的形状，藉此增强记录/再现特性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1441410A
公开(公告)日：2003-09-10
申请号：CN02156100.1
申请日：2002-12-16
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/0045 , G11B20/08
CPC classification number: G11B7/0062 , G11B7/0055 , G11B7/1267 , G11B20/1426
Abstract: 提供了一种在光记录介质上记录数据的方法和装置。在所述在光记录介质上记录数据的方法中，利用具有消除模式的记录波形来形成标记和间隔，所述消除模式包括具有高于消除功率电平的高电平和具有低于消除功率电平的低电平的预定脉冲。因此，可以防止标记的形状变形，并可以改善标记的形状，结果，可以改善记录/再现特性。
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公开(公告)号：CN1427398A
公开(公告)日：2003-07-02
申请号：CN02147528.8
申请日：2002-10-14
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/0045 , G11B7/125 , G11B20/12
CPC classification number: G11B7/24085 , G11B7/0045 , G11B7/007 , G11B20/10009
Abstract: 提供了一种在光盘上记录数据的方法。将一个字节的数据调制为p个通道比特。当最小标记长度大于0.5微米且小于1.0微米、最小标记长度与q个通道比特相对应时p/q大于4.5且小于8、以及格式效率大于0.6且小于1.0的时候，记录数据。于是，可以以更高密度在现有的光盘上记录数据。
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公开(公告)号：CN1412756A
公开(公告)日：2003-04-23
申请号：CN02146804.4
申请日：2002-10-11
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了一种紧凑的高密光盘，该光盘能够确保记录/再现特性以及高密度记录容量。高密光盘整个直径为80mm或更小，整个厚度为0.4～0.7mm，而数据开始记录的位置在直径的33～45mm范围内。从而可以利用现存的盘片驱动器，可以减小高密光盘的尺寸，并且可以确保高密度记录容量。
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公开(公告)号：CN1402225A
公开(公告)日：2003-03-12
申请号：CN02107159.4
申请日：2002-03-12
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B23/30 , G11B7/00454 , G11B7/0053 , G11B7/00736 , G11B20/10009
Abstract: 提供一种光盘和在光盘中记录基本信息和从光盘中再现基本信息的方法。该光盘包括作为结晶和非晶标记的图案的存储基本信息。该基本信息的记录方法包括：通过按照光电转换信号照射光束，将非晶记录层加热到结晶温度之上；以及将已加热记录层的缓慢冷却到结晶温度或结晶温度之下，以形成结晶和非晶标记的图案。该从光盘中再现基本信息的方法，包括：将光束照射在其中记录光盘基本信息的结晶和非晶标记的图案上；接收从结晶和非晶标记的图案反射的光束，并对接收的光束进行光电转换，以检测信号；通过高通滤波器将检测以信号滤波；以及根据滤波的信号再现光盘的基本信息。可以在沉积记录层之后和将光盘初始化之前，利用已有的光盘初始化装置在可记录光盘中利用相位变化记录基本信息。因此，无需附加的记录装置和操作，以及不会在光盘中发生由于激光高能引起的损伤。
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公开(公告)号：CN1361523A
公开(公告)日：2002-07-31
申请号：CN01137121.8
申请日：2001-10-23
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/13
CPC classification number: G11B7/0906 , G11B7/094
Abstract: 一种差分相位检测装置和使用所述差分相位检测装置的跟踪误差信号检测设备。所述检测装置包括:限幅器,对第一到第四信号相对于参考电平进行限幅和数字化;第一合成器,合成第一和第三信号,产生并输出第一合成信号;第二合成器,合成第二信号和第四信号,产生并输出第二合成信号;相位差检测器,比较第一合成信号的相位和第二合成信号的相位,产生并输出第一相位差信号和第二相位差信号;以及矩阵电路,对从相位差检测器接收的第一和第二相位差信号进行减法运算,输出差分相位信号。和常规检测设备相比,该检测设备可以检测相当小地受径向倾斜、切向倾斜、散焦、光盘厚度变化、在光盘上记录的坑深度变化和/或物镜偏移的影响的跟踪误差信号。
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