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公开(公告)号：CN1691144A
公开(公告)日：2005-11-02
申请号：CN200510064791.5
申请日：2005-04-22
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/00 , G11B7/0045 , G11B7/007
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/1267 , G11B7/24
Abstract: 提供了一种光学记录介质，一种将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的方法，和一种将数据记录在光学记录介质/从光学记录介质再现数据的设备，以使用于光学记录介质的最佳记录/再现条件能够被快速确定。光学记录介质包括参考信号区，参考信号基于为最佳地将数据记录在光学记录介质/从光学记录介质再现数据而确定的最佳记录条件记录在其中。因此，一旦当光学记录介质第一次被装入盘驱动器时参考信号被记录在光学记录介质的导入区或导出区的预定部分中，而后用于光学记录介质的最佳记录/再现条件能够被快速确定而无需另外地执行最佳功率控制(OPC)。
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公开(公告)号：CN1682307A
公开(公告)日：2005-10-12
申请号：CN03821541.1
申请日：2003-09-09
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B20/18
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B27/105 , G11B27/329 , G11B2020/10861 , G11B2020/1873 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/2562
Abstract: 提供一种缺陷管理方法和装置。该方法包括：(a)以预定的数据单位记录数据；(b)验证已记录的数据以检测该盘的在其中存在缺陷的区域；(c)将从具有缺陷的区域到后面的包含数据的区域指定为缺陷区域，或者只将具有缺陷的区域指定为缺陷区域；(d)将关于已指定的缺陷区域的信息在盘的数据区域中记录为临时缺陷信息；和(e)将用于管理临时缺陷信息的信息记录在临时缺陷管理信息区域中。该方法和装置可用于一次写入盘并且适合于记录不同类型的数据，从而实现更加正确的实时数据再现。
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公开(公告)号：CN1679090A
公开(公告)日：2005-10-05
申请号：CN03821020.7
申请日：2003-09-03
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/00736
Abstract: 一种光学信息存储介质包括导入区、用户数据区和导出区。数据在全部或部分导入区中被记录为凹坑摆动，并且数据在光学信息存储介质的剩余区被记录为凹坑。一种在光学信息存储介质上记录信息和/或从光学信息存储介质上再现信息的方法。
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公开(公告)号：CN1679087A
公开(公告)日：2005-10-05
申请号：CN03820796.6
申请日：2003-08-27
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/004
CPC classification number: G11B27/24 , G11B7/00736 , G11B20/1426 , G11B20/22 , G11B27/3027 , G11B2220/216 , G11B2220/218 , G11B2220/2545 , G11B2220/2562 , G11B2220/2575
Abstract: 一种光学信息存储介质和一种将信息记录在具有数据被记录在其中的引入区域、用户数据区域、和引出区域的光学信息存储介质上和/或从该光学信息存储介质再现信息的方法。在符合相同物理格式的存储介质上没有被修改的数据被记录在整个引入区域或引入区域的一部分中。在整个引入区域或引入区域的一部分中使用的数据记录调制方法与在该光学信息存储介质的剩余区域中使用的数据记录调制方法不同。
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公开(公告)号：CN1677546A
公开(公告)日：2005-10-05
申请号：CN200510056826.0
申请日：2000-04-28
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B20/12 , G11B20/1217 , G11B20/18 , G11B20/1816 , G11B27/329 , G11B2020/1222 , G11B2020/1265 , G11B2020/1277 , G11B2020/1285 , G11B2020/1297 , G11B2020/1826 , G11B2220/20 , G11B2220/216 , G11B2220/2537 , G11B2220/2562 , G11B2220/2566
Abstract: 一种存储链接类型信息的记录介质和处理该介质中缺陷区的方法。记录介质存储表示紧跟在缺陷区后进行链接的信息，该信息将发生在一般递增记录模式中的链接类型和发生在缺陷区后的链接类型区别开。在用户数据记录前或用户数据正在记录时检测缺陷区并登记在预定区中。链接不仅应用到递增记录模式或有限重写记录模式，还应用到紧跟在缺陷区后的区域，提高了用户数据的可靠性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1666265A
公开(公告)日：2005-09-07
申请号：CN03815333.5
申请日：2003-06-19
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/24082 , G11B7/0053 , G11B7/00718 , G11B7/00736
Abstract: 一种高密度只再现光盘，包含：盘相关信息被通过高频摆动记录在其中的高频数据带；用户数据被通过凹坑记录在其中的用户数据区；和形成于高频数据带和用户数据区之间的过渡带。因此，从用户数据区再现数据的可靠性提高。
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公开(公告)号：CN1666259A
公开(公告)日：2005-09-07
申请号：CN03815586.9
申请日：2003-03-07
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/004
CPC classification number: G11B20/1217 , G11B7/00736 , G11B7/24082 , G11B20/10 , G11B20/1403 , G11B27/19 , G11B27/24 , G11B2020/1239 , G11B2020/1267 , G11B2020/1288 , G11B2220/216 , G11B2220/2541 , G11B2220/2579
Abstract: 提供一种具有小存取单元的光盘及其地址信息调制方法。根据该方法，使用第一调制方法的第一特性和第二调制方法的第二特性，执行该地址信息和/或附加信息的调制来增加预定空间内的信息的数据量，并且在光道中以摆动信号的形式形成所调制的信息。在此，第一调制方法的第一特性是MSK调制信号的物理地址信息，第二调制方法的第二特性是使用通过HMW调制获得的二次谐波的符号信息，所述HMW调制将摆动信号的基本频率的余弦函数与频率为摆动信号的基本频率几倍的正弦函数合成。
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公开(公告)号：CN1659633A
公开(公告)日：2005-08-24
申请号：CN03813192.7
申请日：2003-03-17
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B19/28 , G11B7/0037 , G11B7/0045 , G11B7/00736 , G11B19/12 , G11B19/122 , G11B19/26
Abstract: 本发明提供了光信息存储媒体和在上面记录的方法。该光信息存储媒体含有导入区、用户数据和导出区，和指示最大和/或最小写速度、最大和最小写速度或兼容写速度的信息被记录在导入区和导出区至少一个的可重写区中。该光信息存储媒体和在该媒体上记录的方法使盘驱动器能够可靠地以考虑到预记录写速度数据的最佳速度，将数据记录在由于制造条件不能达到规定记录速度的盘上。
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公开(公告)号：CN1193354C
公开(公告)日：2005-03-16
申请号：CN00104518.0
申请日：2000-02-05
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor： 李坰根
CPC classification number: G11B7/007 , G11B7/00745 , G11B7/0901 , G11B27/19 , G11B27/3027
Abstract: 一种摆动纹槽轨迹与摆动纹间表面轨迹的相位差不同的记录介质、使用摆动信号的伺服控制装置和伺服控制方法。所述的记录介质具有纹间表面轨迹和纹槽轨迹，所述纹间表面轨迹和纹槽轨迹是摆动的，所述单个纹槽轨迹或单个纹间表面轨迹摆动的相位不同，而其它单个轨迹摆动的相位相同。因此，能够可靠地确定当前被拾波器跟踪的纹槽(或纹间表面)轨迹是纹槽轨迹还是纹间表面轨迹，因此可以确保寻址、并有效地进行伺服控制。
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公开(公告)号：CN1571058A
公开(公告)日：2005-01-26
申请号：CN200410055275.1
申请日：2004-03-17
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1873
Abstract: 一种记录方法、记录装置、光学记录介质、和计算机可读记录介质，所述记录介质中存储了用于所述记录方法的程序，其中所述方法包括：将在整个临时缺陷信息之中的具有大小等于预定大小(K)的倍数(N＝0、1、2、…)的临时缺陷信息以及在该整个临时缺陷信息之中的排除大小等于K×N的临时缺陷信息之外的剩余的临时缺陷信息分别记录到光学记录介质中。
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