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公开(公告)号：CN107272076B
公开(公告)日：2019-08-06
申请号：CN201710684522.1
申请日：2017-08-11
Applicant: 重庆真测科技股份有限公司 , 重庆大学 , 中国人民解放军96630部队
IPC: G01V5/00 , G01N23/046 , G05D3/20
Abstract: 本发明提供了一种车载CT探测系统固定装置，包含有与CT探测器高度匹配且与之固定的探测器立柱，还包含有第一探测器支撑架、第二探测器支撑架、旋转轴及支撑装置；所述探测器立柱设有水平横贯其左右两侧的通孔，且通孔的横截面呈多边形，或包含有用于键联接的一个或多个凹部；所述旋转轴的一端与轴承连接，旋转轴的另一端经过通孔与旋转驱动装置的输出轴固定连接；旋转轴穿过通孔部分的横截面与通孔横截面的形状大小匹配；所述支撑装置包含有装置主体、装置主体的上端设有阶梯状的凸台。本发明的有益效果在于：不受汽车运输高度的限制，可提高设备的最大检测直径。
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公开(公告)号：CN107272076A
公开(公告)日：2017-10-20
申请号：CN201710684522.1
申请日：2017-08-11
Applicant: 重庆真测科技股份有限公司 , 重庆大学 , 中国人民解放军96630部队
CPC classification number: G01V5/005 , G01N23/04 , G01N2223/03 , G01N2223/30 , G05D3/20
Abstract: 本发明提供了一种车载CT探测系统固定装置，包含有与CT探测器高度匹配且与之固定的探测器立柱，还包含有第一探测器支撑架、第二探测器支撑架、旋转轴及支撑装置；所述探测器立柱设有水平横贯其左右两侧的通孔，且通孔的横截面呈多边形，或包含有用于键联接的一个或多个凹部；所述旋转轴的一端与轴承连接，旋转轴的另一端经过通孔与旋转驱动装置的输出轴固定连接；旋转轴穿过通孔部分的横截面与通孔横截面的形状大小匹配；所述支撑装置包含有装置主体、装置主体的上端设有阶梯状的凸台。本发明的有益效果在于：不受汽车运输高度的限制，可提高设备的最大检测直径。
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公开(公告)号：CN104101615B
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201410363159.X
申请日：2014-07-28
Applicant: 重庆大学 , 重庆真测科技股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种车载移动式计算机层析成像(CT)检测系统，属于无损检测技术领域。该检测系统包括检测车、操作车、电源车、CT环形扫描装置、工件支架、防护设施等。检测车上安装有带减震装置的CT环形扫描装置，射线源和探测器分别安装在精密圆环的中心对称轴两侧，在电机驱动下，实现同步旋转，从而对工件进行CT扫描。本检测系统的优点在于：被检测的工件无须旋转，而通过射线源和探测器环绕工件同步旋转，实现工件的CT扫描成像；检测车上安装有工件支架，用于装夹和移动检测对象；同时，还具有易调校、可移动、可实施异地外场检测等特点。
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公开(公告)号：CN103331227A
公开(公告)日：2013-10-02
申请号：CN201310290660.3
申请日：2013-07-10
Applicant: 重庆大学
Abstract: 本发明公开了一种标记装置，包括固定架、喷涂装置、推动装置和控制系统；喷涂装置包括固定安装在固定架上的喷枪、颜料瓶和喷涂气体管路，喷涂气体管路上设有气压调节阀I和电磁阀I，颜料瓶与喷枪之间设有颜料输送管；推动装置包括气缸和气路系统，气缸的活塞杆与固定架相连，气路系统包括高压气体管路和低压气体管路，高压气体管路上设有气压调节阀II和电磁阀II，低压气体管路上设有气压调节阀III和电磁阀III；控制系统包括控制器和用于检测固定架与工件距离的距离检测装置，控制器分别与距离检测装置、电磁阀I、电磁阀II和电磁阀III电连接，且控制器接收来自距离检测装置的距离信号，并根据距离信号向电磁阀I、电磁阀II和电磁阀III发出控制指令。
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公开(公告)号：CN102566460B
公开(公告)日：2013-08-21
申请号：CN201110434789.8
申请日：2011-12-22
Applicant: 重庆大学
IPC: G05B19/04
Abstract: 本发明公开了一种SOE采集卡及其采集方法，属于电力系统领域。本发明在SOE通信模块与并行通道之间增加了CPLD作为SOE采集卡，一个CPLD可以接收多个并行通道的数据而上传数据时仅需SOE通信模块中的一个I/O口，扩大了SOE数据的采集数量；SOE数据的处理在CPLD中分别进行，不必传输给CPU统一处理，进一步提高了数据处理的效率，从而提高了事件的分辨能力；并且本发明增加了定时器和输入锁存器，增加了SOE数据的滤波功能，排除了外界可能存在的干扰。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103167699A
公开(公告)日：2013-06-19
申请号：CN201310104731.6
申请日：2013-03-28
Applicant: 重庆大学
IPC: H05B37/02
Abstract: 本发明公开了一种高稳定性可见光光源，包括电源、稳压模块、AD模块、DA模块、集成运放驱动电路、主控模块、光电传感器和发光二极管。电源接通后，二极管产生一定强度的可见光，可见光光电传感器将可见光转换为电流/电压信号，经AD模块模数转换后，输入到主控模块，经过数据统计处理后与预设值进行比较，输入值大于预设值，减小输出，反之增大输出。输出数据经过DA模块数模转换后产生稳定的输出电流/电压，通过驱动电路控制发光二极管产生可见光。本发明输出光强度的波动可控制在一个极小范围内，对测试结果影响极小，能够满足大多数可见光信号探测系统测试的需求。
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公开(公告)号：CN101526623B
公开(公告)日：2012-01-18
申请号：CN200910103506.4
申请日：2009-03-31
Applicant: 重庆大学
IPC: G01T1/185
Abstract: 本发明提供一种高能X射线工业CT电离型探测器，能克服闪烁体探测器缺点，适用于高能X射线工业CT系统的辐射探测；所述高能X射线工业CT电离型探测器包括一密封壳体，密封壳体内充有工作气体，密封壳体内设置多个电离室单元，所述电离室单元为长条形，包括U形电离室壁和薄金属片，所述薄金属片的X射线接收端通过绝缘片固定设置于U形电离室壁的开口端，所述薄金属片的另一端设置于电离室内，并沿电离室的长度方向延伸；薄金属片的厚度小于等于0.3mm，由高密度高原子序数的金属或这些金属的合金制成，且外表面包裹有易产生次级电子的材料的涂层；所述U形电离室壁作为收集极与信号处理电路连接，薄金属片作为辐射转换体和高压阴极与高压电源连接。
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公开(公告)号：CN101526623A
公开(公告)日：2009-09-09
申请号：CN200910103506.4
申请日：2009-03-31
Applicant: 重庆大学
IPC: G01T1/185
Abstract: 本发明提供一种高能X射线工业CT电离型探测器，能克服闪烁体探测器缺点，适用于高能X射线工业CT系统的辐射探测；所述高能X射线工业CT电离型探测器包括一密封壳体，密封壳体内充有工作气体，密封壳体内设置多个电离室单元，所述电离室单元为长条形，包括U形电离室壁和薄金属片，所述薄金属片的X射线接收端通过绝缘片固定设置于U形电离室壁的开口端，所述薄金属片的另一端设置于电离室内，并沿电离室的长度方向延伸；薄金属片的厚度小于等于0.3mm，由高密度高原子序数的金属或这些金属的合金制成，且外表面包裹有易产生次级电子的材料的涂层；所述U形电离室壁作为收集极与信号处理电路连接，薄金属片作为辐射转换体和高压阴极与高压电源连接。
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公开(公告)号：CN112911088A
公开(公告)日：2021-06-04
申请号：CN202110138069.0
申请日：2021-02-01
Applicant: 重庆大学
IPC: H04N5/217 , G01N23/046
Abstract: 本发明提供一种CT用全帧CCD探测器感兴趣区域读取及拖影校正方法，步骤如下：1)对被检测工件进行DR扫描，得到DR图像；2)判断感兴趣区域投影行数，若感兴趣区域投影行数大于等于CCD感光区域行数的1/2，则转至3)，若小于1/2，则转至4)；3)利用射线屏蔽块遮挡小部分CCD感光区域，重新调节被检测工件感兴趣区域位置，对被检测工件进行DR曝光，读取除上端冗余数据区域外的其他数据，进行拖影校正；4)利用射线屏蔽块遮挡一半的CCD感光区域，重新调节被检测工件感兴趣区域位置，对被检测工件进行DR曝光，读取除上、下端冗余数据区域外的其他数据，进行拖影校正；本发明减少探测器冗余数据读取，实现拖影快速校正，缩短扫描时间，提高CT检测效率。
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公开(公告)号：CN111553960A
公开(公告)日：2020-08-18
申请号：CN202010336246.1
申请日：2020-04-24
Applicant: 重庆大学
IPC: G06T11/00
Abstract: 本发明涉及一种基于投影均值图像的环状伪影快速校正方法，属于图像处理领域，包括以下步骤：S1：投影图像预处理。通过对亮场图像和暗场图像设定阈值找出坏像元与有缺陷像元，应用插值方法替换掉这些像元后再完成增益校正；S2：获得投影均值图像。将增益校正后的所有投影图像对应像元相加后求均值，得到基于所有投影图像的投影均值图像；S3：获得校正系数阵列。选用适当的滤波方式对投影均值图像进行平滑滤波，得到平滑的理想投影均值图像，通过投影均值图像与理想投影均值图像得到校正系数阵列；S4：投影图像校正。运用校正系数阵列对每个投影图像进行校正。
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