一种强辐射背景光电子信号提取器件、系统及方法

    公开(公告)号:CN119375927A

    公开(公告)日:2025-01-28

    申请号:CN202411958271.8

    申请日:2024-12-30

    Abstract: 本发明涉及光电子信号提取领域,具体涉及一种强辐射背景光电子信号提取器件、系统及方法。该器件包括光电阴极、加速电极、聚焦装置和MCP探测器;光电阴极为平面光电阴极;加速电极为超精细栅网型平面加速电极;聚焦装置为1/4圆弧弯曲的螺线管结构;MCP探测器为微通道板型像增强器;光电阴极、加速电极、聚焦装置和MCP探测器之间依次通过陶瓷环连接。本发明采用1/4圆弧弯曲的螺线管结构改变光电阴极输出光电子信号的运行方向,可将与高能中子信号同时空的X射线信号经过光电阴极转化为光电子信号后,偏转一定角度至MCP探测器上,实现X射线信号与高能中子信号的空间分离,提高探测信噪比,同时保护MCP探测器等易受高能中子信号辐射损坏的元器件。

    一种时间分辨X射线衍射测量装置及方法

    公开(公告)号:CN114088755A

    公开(公告)日:2022-02-25

    申请号:CN202111294002.2

    申请日:2021-11-03

    Abstract: 本发明涉及一种应用于冲击动力学微观响应实验诊断X射线衍射测量装置,具体涉及一种时间分辨X射线衍射测量装置及方法;解决现有脉冲X射线衍射装置对更短时间尺度冲击动力学响应过程,诊断时间分辨能力不足的技术问题。该时间分辨X射线衍射测量装置基于多微带X射线像增强器,包括脉冲X射线源、X射线调制单元、测量靶室、晶体支架、晶体样品、冲击加载窗口、压电传感器和时间分辨X射线成像探测器;通过冲击加载窗口触发晶体样品产生冲击波触发压电传感器,压电传感器触发脉冲X射线源出射X射线,X射线经过X射线调制单元,进入测量靶室入射至晶体样品,晶体样品衍射光入射至多微带X射线像增强器,经荧光屏产生光信号被图像记录设备记录。

    一种基于滤光的成像系统动态范围扩展方法

    公开(公告)号:CN107734231B

    公开(公告)日:2019-12-27

    申请号:CN201711084301.7

    申请日:2017-11-07

    Abstract: 本发明提出一种基于滤光的成像系统动态范围扩展方法,尤其适用于超快高强度发光过程的大动态图像获取,系统结构简明,实现成本低。该方法采用的成像系统中图像传感器为彩色图像传感器,或者采用覆盖有多色镀膜或多色透镜的灰度图像传感器;该方法包括以下步骤:利用窄带滤波片的光谱选择功能,将成像场景的宽谱可见光图像选择过滤成近似单色光图像;通过多色滤光获取到衰减系数不同的多幅子图像,其中衰减系数较小的子图像能够获取亮度较低的场景图像,衰减系数较大的子图像能够获取亮度较高的场景图像;通过子图像插值计算获得高分辨率的高动态范围图像。

    一种基于能量分辨探测器的晶体摇摆曲线测量方法

    公开(公告)号:CN105866151A

    公开(公告)日:2016-08-17

    申请号:CN201610256792.8

    申请日:2016-04-22

    CPC classification number: G01N23/207

    Abstract: 本发明涉及一种基于能量分辨探测器的晶体摇摆曲线测量方法,包括步骤:1.根据测量所用X射线能量范围{E}选取X射线管阳极靶材料和电压电流参数;2.确定布拉格衍射角范围{θB}、晶体旋转角度范围{θT}和旋转步进角度;3.测量{θT}内每个旋转角度的晶体衍射能谱;4.修正晶体衍射能谱中散射因素的影响;5.提取{E}中能量Ej的X射线在θTi=θBi时单位时间的衍射强度,得到Ej的强度变化曲线;6.对强度变化曲线进行衍射峰拟合;7.对拟合后的衍射峰求一阶导数,选取一阶导数斜率不小于0的部分,对该部分衍射峰取绝对值,即分别为摇摆曲线的左支与右支,拼接得到Ej的摇摆曲线;8.重复步骤5~7直至遍历{E},得到{E}中所有能量的X射线对于晶体某个晶面摇摆曲线。

    高帧频高分辨率CMOS成像系统

    公开(公告)号:CN101540825A

    公开(公告)日:2009-09-23

    申请号:CN200910021207.6

    申请日:2009-02-20

    Abstract: 本发明高分辨率高帧频成像系统,包括镜头、CMOS摄像机和计算机,CMOS摄像机包括高速CMOS传感器芯片、缓冲与电源单元、CPLD控制单元、地址与数据总线单元和高速存储单元,通过采用高速高分辨率CMOS芯片实现了CMOS摄像机1280×1024的分辨率,通过采用高速图像存储单元实时存储高帧频图像数据,具有高分辨率和高速图像数据存储的优点;另外,本发明在全分辨(1280×1024)时可以达到500帧/秒的工作速度,在ROI方式工作时帧频可以达到10000帧/秒以上(分辨率小于51×1280时),两种工作方式可以通过选择系统模式实现,使用简单方便。

    高帧频高灵敏度光纤传输式EMCCD摄像系统

    公开(公告)号:CN101500153A

    公开(公告)日:2009-08-05

    申请号:CN200910021206.1

    申请日:2009-02-20

    Abstract: 本发明公开了一种高帧频高灵敏度光纤传输式EMCCD摄像系统,包括CCD摄像机、电源、接收采集盒,所述CCD摄像机和接收采集盒通过光纤连接;CCD摄像机包括EMCCD图像传感器芯片、时钟驱动电路、第一CPLD控制单元、视频处理单元、数据编码单元和第一光收发模块;接收采集盒包括第二光收发模块、数据解码单元、第二CPLD控制单元、时钟基准单元、USB采集控制单元和计算机;本发明摄像系统在全分辨时可以达到1000帧/秒的工作速度,且具有数据光纤远程同步传输功能,实现了远程高帧频图像实时传输,适用于微光场合与危险场合高速实时图像数据监测研究,扩展了高帧频摄像机的应用范围。

    基于带电粒子产生二次电子的MCP中子探测系统及测量方法

    公开(公告)号:CN114924307B

    公开(公告)日:2024-08-16

    申请号:CN202210474260.7

    申请日:2022-04-29

    Abstract: 本发明为解决现有中子探测器难以实现在场致发射严重的加速器上测量电子打靶产生中子的技术问题,而提供了一种基于带电粒子产生二次电子的MCP中子探测系统及测量方法。本发明是通过MCP测量入射中子与1H、10B作用产生的带电粒子在涂层表面产生的二次电子,二次电子经电场加速至几百eV进入磁场,然后经磁场偏转入射至MCP探测器,并在MCP探测器中的倍增输出脉冲电流信号,从而实现对中子的测量。本发明为超快脉冲中子探测提供了一种新的思路和技术方法,可弥补相关探测方法的不足,与现有方法相比在某些特定应用场景下具有明显优势。

    一种等离子体局域辐射功率测量的X射线探测系统及方法

    公开(公告)号:CN117130038A

    公开(公告)日:2023-11-28

    申请号:CN202310955875.6

    申请日:2023-07-31

    Abstract: 本发明涉及一种脉冲X射线测量系统,具体涉及一种等离子体局域辐射功率测量的X射线探测系统及方法,解决现有测量系统在远距离测量等离子体辐射百纳秒脉宽X射线脉冲时,存在线性动态范围不足、灵敏度低、灵敏面积有限、易受可见光及紫外光干扰的技术问题。本发明包括三级光阑、收集与传输模块、电磁屏蔽箱、信号同步与记录模块以及存储模块;收集与传输模块垂直位于闪烁体的出射光路上,且与多个光电探测器的输入端连接;信号同步与记录模块包括高压供电单元、数据采集单元、220V不间断供电电源、同步光电转换器以及同步电光转换器;高压供电单元用于为光电探测器供电;数据采集单元用于记录光电探测器采集的数据,并将数据输送至存储模块。

    一种超高速双帧图像获取方法

    公开(公告)号:CN104159043B

    公开(公告)日:2017-09-29

    申请号:CN201410386427.X

    申请日:2014-08-07

    Abstract: 本发明提供一种超高速双帧图像获取方法,它可以分为曝光时间的控制和CCD高速双帧图像采集两个方面内容。CCD曝光时间的控制过程通过像增强器实现入射光的导通或者阻断,主要用于调节两次曝光时间的长短、开启或者终止CCD光敏区像素的曝光。CCD高速双帧图像采集过程涉及到一种特殊的CCD电荷转移方法和时序驱动方法,与常规的CCD工作过程不同,CCD先进行两次曝光,然后将两次产生的光生电荷分别存储在光敏区像素和垂直寄存器中,最后再连续输出这两帧图像。本发明方法两帧图像之间的采集间隔仅与第一次曝光的光生电荷转移到垂直寄存器的时间有关,时间间隔可以达百纳秒级。

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