公开(公告)号：CN1862682A

公开(公告)日：2006-11-15

申请号：CN200610079162.4

申请日：2006-05-12

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 齐藤公博 ,  石本努

IPC: G11B7/135

Abstract: 一种光学记录和重现设备，用于通过使来自光源的光作为来自近场光辐射单元的近场光辐射至光学记录介质来记录和/或重现光学记录介质，其包括：用于发射光的光源；用于使来自所述光源的光作为近场光辐射至光学记录介质的近场光辐射单元；用于接收和检测来自所述光学记录介质的回射光的第一光接收单元；用于接收和检测来自所述近场光辐射单元的回射光的第二光接收单元；控制单元，其基于从所述第二光接收单元的被分开的检测信号产生的多个间隙检测信号，检测所述光学记录介质和所述近场光辐射单元之间的相对歪斜；驱动控制单元，其用于响应于所述控制单元中检测的歪斜，输出驱动信号以校正至少所述近场光辐射单元的歪斜。

公开(公告)号：CN1287351A

公开(公告)日：2001-03-14

申请号：CN00126370.6

申请日：2000-09-07

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 石本努

IPC: G11B7/09 ,  G11B7/135

CPC classification number: G11B7/1387 ,  B82Y10/00 ,  G11B7/0908 ,  G11B7/261 ,  G11B2007/13727

Abstract: 当引起经过校正的玻璃母盘15的反射光量超过阀值T1的外部干扰施加于控制回路时,不仅主控制部分38而且辅助控制部分37对校正量27进行控制。在这种情况中,快速地抑制外部干扰的影响。更具体地说,在经过校正的反射光量27超过阈值T1的时刻,维持主控制部分38的控制电压。而经过校正的光量27维持大于阈值T1时,辅助控制部分37对校正量27进行控制,将主控制部分38和辅助控制部分37的控制电压之和提供给压电元件23,由此抑制外部干扰的影响。