微粒分类装置及在该装置中优化流体流的方法

    公开(公告)号:CN103718020A

    公开(公告)日:2014-04-09

    申请号:CN201380001427.7

    申请日:2013-02-13

    Applicant: 索尼公司

    Inventor: 村木洋介

    Abstract: 提供了一种用于优化流体流的微粒分类装置。该微粒分类装置包括:电压供应单元,将驱动电压供应至向产生流体流的管口施加振动的振动元件;注电单元,将电荷给予从管口流出的至少部分液滴;偏向板,彼此相对布置且其间有流体流,其改变液滴的移动方向;以及第一图像传感器,获取偏向板之间经过的液滴的图像。该微粒分类装置配有控制器,该控制器检测图像中的液滴,设置与给予电荷之前的液滴的宽度对应的标准带,并且控制电压供应单元的驱动电压以从给予电荷之后的液滴中进一步减小从标准带开始的指定的像素数内的区域中所检测的液滴的量。

    微粒分类装置及在该装置中优化流体流的方法

    公开(公告)号:CN103718020B

    公开(公告)日:2016-06-29

    申请号:CN201380001427.7

    申请日:2013-02-13

    Applicant: 索尼公司

    Inventor: 村木洋介

    Abstract: 提供了一种用于优化流体流的微粒分类装置。该微粒分类装置包括:电压供应单元,将驱动电压供应至向产生流体流的管口施加振动的振动元件;注电单元,将电荷给予从管口流出的至少部分液滴;偏向板,彼此相对布置且其间有流体流,其改变液滴的移动方向;以及第一图像传感器,获取偏向板之间经过的液滴的图像。该微粒分类装置配有控制器,该控制器检测图像中的液滴,设置与给予电荷之前的液滴的宽度对应的标准带,并且控制电压供应单元的驱动电压以从给予电荷之后的液滴中进一步减小从标准带开始的指定的像素数内的区域中所检测的液滴的量。

    光学测量设备和芯片寿命判断方法

    公开(公告)号:CN102954964A

    公开(公告)日:2013-03-06

    申请号:CN201210276409.7

    申请日:2012-08-03

    Applicant: 索尼公司

    Inventor: 村木洋介

    CPC classification number: G01N35/00663 G01N15/1459

    Abstract: 本发明提供了一种光学测量设备和芯片寿命判断方法。该光学测量设备包括光照射部,其被配置为将光照射到流过可拆卸芯片中的流路的样品上;光检测部,其被配置为检测当被光照射部用光照射时从样品发出的光信息;以及判断部,其被配置为基于通过光检测部检测到的光信息,判断出芯片更换时期。

    微粒测量装置
    30.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101893569A

    公开(公告)日:2010-11-24

    申请号:CN201010180481.0

    申请日:2010-05-14

    Applicant: 索尼公司

    CPC classification number: G01N15/14

    Abstract: 本发明公开了一种微粒测量装置,包括:光学检测部,被配置为将激光束导向至穿过液流通路的微粒,检测从微粒发出的光,并且将检测到的光转换为电信号;以及控制单元,被配置为根据电信号计算穿过液流通路的微粒的速度,并且当计算出的速度超出预定限度时停止包含微粒的溶液的供给。

Patent Agency Ranking