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公开(公告)号：CN104198923B
公开(公告)日：2017-02-08
申请号：CN201410436919.5
申请日：2014-08-29
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/316 , G06F19/00
Abstract: 本发明公开了一种线性模拟电路故障诊断方法，首先对模拟电路进行仿真，得到各故障源元件对应的故障特征列向量，当故障特征列向量在误差范围内相同，则将对应的故障源元件划分为一个模糊组，每个模糊组中选择一个代表故障源元件，然后分别对每个代表故障源元件进行Q次仿真，得到Q个故障特征列向量，将每个代表故障源元件作为一个类别，根据对应故障特征列向量得到分类模型数据，当模拟电路发生故障时，根据正常运行的输出电压相量向量和故障输出电压相量向量得到故障列向量，根据分类模型数据和对应的分类方法对故障列向量进行归类，得到故障诊断结果。本发明的实现方法简单易行，并且基于多次仿真，可以有效减少容差对故障诊断的影响。
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公开(公告)号：CN105955927A
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201610279253.6
申请日：2016-04-28
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于分解‑并行遗传算法的约束优化算法，将约束优化算法所针对的问题分解成Q个子问题和1个常规问题，先采用遗传算法分解得到的Q个子问题并行进行迭代进化，直到每个子问题所对应的种群中至少有一半以上的染色体满足该子问题的约束条件，从子问题中选择满足约束条件的染色体按顺序组成多条染色体，作为常规种群的初始种群；然后对常规问题和子问题进行并行遗传算法迭代，达到迁移间隔时即分别进行前向迁移和后向迁移，当迁移次数达到阈值，从常规问题的种群中选择最优染色体作为约束优化问题的解。本发明采用分解‑并行遗传算法，可以快速求解出约束优化问题的最佳或近优解。
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公开(公告)号：CN104978459A
公开(公告)日：2015-10-14
申请号：CN201510396832.4
申请日：2015-07-08
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种IGBT剩余寿命预测方法，通过相空间分帧重构技术，在微分熵率重构相空间的基础上，对重构好的相空间以Volterra级数的输入信号矢量排列；考虑到输入数据与目标输出的相关性，进行各帧输入数据的最佳选择，本发明采用目前比较成熟的前向-后向算法和最小角回归算法来选择输入向量中较优的输入数据来作为模型的输入；在原有的ELM模型的基础上，加入多响应稀疏回归算法和逐一抽取法裁剪掉无用或者作用很少的隐含层节点，且使用混合的三种神经元激活函数，从而使所建立的网络更具有鲁棒性和泛化性；本发明充分的考虑不同输入对预测模型的差异性，设计了一种自适应算法动态的更新每一组输入数据的预测模型，极大的提高了预测的精度。
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公开(公告)号：CN104237770A
公开(公告)日：2014-12-24
申请号：CN201410404031.3
申请日：2014-08-15
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/3161
Abstract: 本发明公开了一种模拟电路故障诊断方法，首先对于各个元件进行无故障和两个故障条件下的仿真得到测点的无故障电压值和两个故障电压值，根据三个电压值得到元件对应的特征圆，求取特征圆的交点得到混叠电压，并得到元件的等效激励；当电路发生故障，计算故障电压到各特征圆的最短距离，如果小于等于1个最短距离小于预设阈值，最小最短距离对应的元件即为故障元件，否则从所有混叠电压中找出与故障电压最接近的混叠电压，分别采用对应元件的等效激励来激励故障电路，将得到的响应电压相量序列平移后与对应元件的特征圆比较，最大相似度对应的元件即为故障元件。本发明采用将“点”诊断变成“线”诊断，提高了故障诊断的精确性、稳定性和鲁棒性。
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公开(公告)号：CN104198922A
公开(公告)日：2014-12-10
申请号：CN201410404009.9
申请日：2014-08-15
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/316
Abstract: 本发明公开了一种模拟电路早期故障诊断中的频率选择方法，先得到被测模拟电路的模糊组，确定仿真元件，计算理想夹角，初始化最优标准差δmin和频率f，采用频率f的输入激励来激励被测模拟电路，对各仿真元件进行无故障和两个故障条件下的仿真，根据得到的三个电压值求解圆方程组得到元件对应的特征圆，求取在无故障点处相邻特征圆曲线之间的夹角并计算夹角的标准差，当标准差小于δmin，令f＝2f，重新进行仿真，否则搜索区间{f/4,f}内具有最小夹角标准差的频率，该频率即为最优测试频率。本发明通过评价各元件对应的故障输出电压特征圆曲线在无故障点处的夹角的标准差来判断输入激励频率的优劣性，实现对模拟电路中早期参数漂移故障的测试频率优选。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104090228A
公开(公告)日：2014-10-08
申请号：CN201410336727.7
申请日：2014-07-16
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/316
Abstract: 本发明公开了一种模拟电路模糊组识别方法，通过理论推导出模拟电路元件故障电压所具有的一般特性：实部虚部满足圆方程，根据该特性提出模糊组识别方法：对于各个故障源，先进行无故障仿真得到测点的无故障电压值，再在两个故障条件下进行仿真得到两个故障电压值，根据三个电压值求解圆方程组得到圆特征参数，比较每个故障源对应的圆特征参数，将三个参数均相同的故障源归为一个模糊组。本发明无需传输函数，其实现方法简单，并模糊组识别结果与测试方法无关，精度与传输函数和符号分析法相同。
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公开(公告)号：CN104063593A
公开(公告)日：2014-09-24
申请号：CN201410273011.7
申请日：2014-06-18
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F19/00
Abstract: 本发明公开了一种板级电路测试性指标计算方法，根据测试信息数据库，结合电路中的器件信息，构建与信号流和位置无关的依赖矩阵Du，根据依赖矩阵Du计算得到最高故障检测率，再对依赖矩阵Du进行重构得到重构矩阵，实现对同类器件中不同位置器件的隔离，根据重构矩阵计算得到最高故障隔离率，根据测试选择的布尔向量计算当前测试选择的故障隔离率。可见，本发明通过与信号流无关的依赖矩阵Du的构建和重构，实现了板级电路中各项测试性指标的计算。
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公开(公告)号：CN103645435A
公开(公告)日：2014-03-19
申请号：CN201310683628.1
申请日：2013-12-13
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/3185
Abstract: 本发明公开了一种多信号模型可编程逻辑器件的软件模块可测性设计方法，在可编程逻辑器件的软件模块的语句模块中预先插装故障检测模块，在软件模块每次执行过程中，各个语句模块根据其故障检测模块的结果并行输出故障码，可编程逻辑器件将所有语句模块的故障码按照设定顺序串行输出为故障码流，上位机采用高速数据采集装置捕获输出的故障码流并显示，供测试人员通过多信号模型建模分析后进行故障诊断与定位，从而满足可编程逻辑器件的软件模块的可测性需求。
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公开(公告)号：CN115469261B
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202211019237.5
申请日：2022-08-24
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R35/04 , G01R31/303 , G01R31/28 , G01R31/3167
Abstract: 本发明公开了一种智能电表集成电路的串并联等效故障压缩方法，构建集成电路的网表文件，根据网表文件构建器件与网络节点的关系模型，得到器件‑节点矩阵，根据器件‑节点矩阵进行串联器件识别，根据得到的串联组构建串联器件矩阵和串联数量矩阵，再基于这两个矩阵进行串联关系合并，得到最终的串联器件集合；根据器件‑节点矩阵进行并联器件识别，得到并联器件集合，最后基于串联器件集合和并联器件集合进行等效故障压缩。本发明对集成电路中全部器件的串、并联关系进行识别，进而实现等效故障压缩，从而减少故障注入的次数，缩短故障诊断时间。
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公开(公告)号：CN115469261A
公开(公告)日：2022-12-13
申请号：CN202211019237.5
申请日：2022-08-24
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R35/04 , G01R31/303 , G01R31/28 , G01R31/3167
Abstract: 本发明公开了一种智能电表集成电路的串并联等效故障压缩方法，构建集成电路的网表文件，根据网表文件构建器件与网络节点的关系模型，得到器件‑节点矩阵，根据器件‑节点矩阵进行串联器件识别，根据得到的串联组构建串联器件矩阵和串联数量矩阵，再基于这两个矩阵进行串联关系合并，得到最终的串联器件集合；根据器件‑节点矩阵进行并联器件识别，得到并联器件集合，最后基于串联器件集合和并联器件集合进行等效故障压缩。本发明对集成电路中全部器件的串、并联关系进行识别，进而实现等效故障压缩，从而减少故障注入的次数，缩短故障诊断时间。
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