公开(公告)号：CN102959402A

公开(公告)日：2013-03-06

申请号：CN201180031430.4

申请日：2011-07-01

Applicant: 希森美康株式会社 ,  爱科来株式会社

Inventor： 水本徹 ,  堤田惠介 ,  泉幸庆 ,  藤本浩司 ,  中岛真也

IPC: G01N35/02 ,  G01N35/10

CPC classification number: G01N35/1009 ,  G01N35/0092 ,  G01N35/1016 ,  G01N2035/0094 ,  G01N2035/1025

Abstract: 本发明提供一种样本分析装置，该样本分析装置在不用再次获取样本的情况下能够切实地进行数种测定。第一测定单元10通过吸头11吸移样本容器51中的样本并进行测定。吸头11连接着用于检测出液面的电容式传感器13。运送装置30将样本容器51从第一测定单元10运送到第二测定单元20。如果通过传感器13获得的样本容器51中的样本量的相关信息小于第一测定单元10和第二测定单元20两者进行测定时所需要的样本量的相关信息，则两个测定单元均不吸移样本。以此，在第一测定单元10和第二测定单元20吸移样本之前，用户可以选择适当的方法并获取两个测定单元的测定结果。因此无需再次获取样本。

公开(公告)号：CN102918398A

公开(公告)日：2013-02-06

申请号：CN201180027093.1

申请日：2011-05-31

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 藤本浩司 ,  古里纪明

IPC: G01N35/00 ,  G01N35/08 ,  G01N35/10

CPC classification number: G01N33/48 ,  G01N35/00603 ,  G01N35/00732 ,  G01N35/026

Abstract: 提供一种在对试样进行多个分析处理时能够提高作为整体的分析处理的效率的技术。分析装置（A）具备：对于试样进行第一分析处理的第一分析部（A1）；对于试样进行第二分析处理的第二分析部（A2）；对于试样进行能够在比第一分析处理更短的短时间内导出分析结果的短时间分析处理的短时间分析部（A3）；及基于短时间分析处理的结果，在第一分析处理的结果被导出之前判别是否进行第二分析处理的判别部（63）。

公开(公告)号：CN101819211B

公开(公告)日：2011-12-14

申请号：CN201010115434.8

申请日：2005-07-12

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 藤本浩司 ,  堀雅贵

IPC: G01N35/00 ,  G01N35/10 ,  G01N21/01

CPC classification number: G01N35/00069 ,  G01N2035/00267 ,  G01N2035/0441 ,  G01N2035/0491

Abstract: 本发明涉及在具有保持试料和试药的反应液的多个反应槽(56)的分析用具(Y)中指定各反应槽(56)的位置的技术。分析用具(Y)包括识别该分析用具(Y)指定部位的基准部(66)。该基准部(66)可以光学地确认，成为指定各反应槽(56)的位置用的基准。

公开(公告)号：CN101821610A

公开(公告)日：2010-09-01

申请号：CN200880110609.7

申请日：2008-10-29

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 藤本浩司 ,  篠嵜耕太郎 ,  北村茂

IPC: G01N21/78 ,  G01N21/05 ,  G01N33/49

CPC classification number: G01N21/253 ,  G01N21/07 ,  G01N21/78 ,  G01N2021/0325

Abstract: 一种试样分析方法，其包括将光照射到分析工具的反应用池(34A)的试样(BL)与试剂(40)的反应部分以取得显示了该部分的光学特性的数据(D0)的步骤，该方法进一步包括：在将试样(BL)供给到没有设置试剂(40)的池(34B)的状态下照射光以获得显示了该部分的光学特性的参照数据(D1)的步骤，将光照射到与所述分析工具当中形成了池(34B)的部分相比除了池的有无以外其截面结构大致相同的基准部(34C)上，取得显示了该部分的光学特性的参照数据(D2)的步骤，以及根据参照数据(D1)、(D2)，求出显示了与试剂(40)反应之前的试样(BL)的光学特性的数据(D3)的步骤。

公开(公告)号：CN101031800A

公开(公告)日：2007-09-05

申请号：CN200580033375.7

申请日：2005-09-28

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 藤本浩司

IPC: G01N35/00

CPC classification number: G01N21/272 ,  B01L7/00 ,  B01L2200/0684 ,  B01L2300/044 ,  B01L2300/0681 ,  B01L2300/0806 ,  B01L2300/0861 ,  B01L2300/123 ,  B01L2300/1827 ,  B01L2400/0683 ,  G01N21/0332 ,  G01N35/00029 ,  G01N2035/00356 ,  G01N2035/00366 ,  Y10T436/111666

Abstract: 在进行与试剂(25)反应的试料的分析的分析装置中，具备分析用具(10)、红外线传感器(1)、及温度控制部(5)；在分析用具(10)的内部，具备使试料和试剂(25)反应的反应室(24)、及通过通电而发热的发热体(33)。红外线传感器(1)在分析用具(10)的外部配置成接收从反应室(24)辐射的红外线(9)，并将与接收的红外线(9)的量对应的信号输出给温度控制部(5)。根据来自红外线传感器(1)的信号，由温度控制部(5)来调节发热体(33)的发热量。

公开(公告)号：CN202171593U

公开(公告)日：2012-03-21

申请号：CN201120062189.9

申请日：2011-03-02

Applicant: 爱科来株式会社

Inventor： 藤本浩司 ,  古里纪明 ,  小坂秀子

IPC: G01N35/02 ,  G06K7/10

CPC classification number: G01N21/00 ,  G01N21/64 ,  G01N33/00

Abstract: 本实用新型提供能够容易地对试样的分析处理中使用的分析用具的真伪进行判定，从而能够担保分析结果的可靠性的技术。解决问题的手段是，一种具有试剂垫并且使用于试样的分析处理的分析用具的识别用的识别装置，分析用具还具有用非可视物质形成的识别用标记部，该识别装置具备向识别用标记部照射光线的照射器、接收由形成被照射器产生的照射光照射的识别用标记部的非可视物质所发射的光线的受光器、以及根据所述受光器的受光结果识别分析用具的识别部。