数据制作装置、光控制装置、数据制作方法以及数据制作程序

    公开(公告)号:CN109643029A

    公开(公告)日:2019-04-16

    申请号:CN201780052952.X

    申请日:2017-07-28

    Abstract: 本发明提供数据制作装置、光控制装置、数据制作方法以及数据制作程序。本发明的数据制作装置中,对包括强度谱函数和相位谱函数的频域中的第一波形函数进行傅立叶变换,生成包括时间强度波形函数和时间相位波形函数的时域中的第二波形函数;以使第二波形函数的谱图接近按照所期望的波形和所期望的波长带预先生成的目标谱图的方式修正所述第二波形函数;对修正后的第二波形函数进行傅立叶逆变换,生成频域中的第三波形函数;基于第三波形函数的强度谱函数或相位谱函数生成数据。由此,能够控制构成时间强度波形的光的波长分量(频率分量)。

    色散测量装置、脉冲光源、色散测量方法和色散补偿方法

    公开(公告)号:CN119573897A

    公开(公告)日:2025-03-07

    申请号:CN202411691396.9

    申请日:2020-03-27

    Abstract: 本发明的色散测量装置(1A)具备脉冲形成部(3)、相关光学系统(4)、光检测部(5)和运算部(6)。脉冲形成部(3)根据从脉冲激光光源2输出的被测量光脉冲(Pa),形成包含彼此具有时间差且中心波长彼此不同的多个光脉冲的光脉冲串(Pb)。相关光学系统(4)接收从脉冲形成部(3)输出的光脉冲串(Pb),输出包含光脉冲串(Pb)的互相关或自相关的相关光(Pc)。光检测部(5)检测从相关光学系统(4)输出的相关光(Pc)的时间波形。运算部(6)基于相关光(Pc)的时间波形的特征量,推算脉冲激光光源(2)的波长色散量。由此,实现能够通过简单的结构测量波长色散的色散测量装置、脉冲光源、色散测量方法和色散补偿方法。

    光照射装置、显微镜装置、光照射方法、及图像获取方法

    公开(公告)号:CN118176451A

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN202280071929.6

    申请日:2022-05-17

    Abstract: 光照射装置具备:光输出部,其输出相干光;以及光学系统,其将从光输出部输出的光照射于对象物。光学系统具有:物镜,其使从光输出部输出的光在对象物聚光;以及偏振光变换部、相位变换部、及环形屏蔽,其设置于光输出部与对象物之间的光路上。偏振光变换部以将输入到偏振光变换部的光变换为角向偏振光而输出的方式构成。相位变换部以将利用螺旋型的相位图案的相位调制赋予输入到相位变换部的光的方式构成。

    脉冲光的波形测量方法及波形测量装置

    公开(公告)号:CN108885138B

    公开(公告)日:2021-05-14

    申请号:CN201780020106.X

    申请日:2017-03-15

    Abstract: 波形测量方法中,首先,将初始脉冲光(Lp)按每一个波长在空间上分散。其次,在偏振依赖型的SLM中使偏振面相对于调制轴方向倾斜的状态下,将初始脉冲光(Lp)输入至SLM,对沿调制轴方向的初始脉冲光(Lp)的第一偏振分量的相位光谱进行调制,由此,使由第一偏振分量构成的第一脉冲光(Lp1)、与由正交于该第一偏振分量的初始脉冲光(Lp)的第二偏振分量构成的第二脉冲光(Lp2)之间产生时间差。将各波长分量合成之后,向对象物(24)照射脉冲光(Lp1)、脉冲光(Lp2),并检测产生于对象物(24)的光。一边变更脉冲光(Lp1)、脉冲光(Lp2)的时间差,一边进行上述检测处理,根据检测结果求出脉冲光(Lp1)的时间波形。由此,实现能够减少因对象脉冲光与参照脉冲光的干涉引起的噪声的脉冲光的波形测量方法及波形测量装置。

    调制图案计算装置、光控制装置、调制图案计算方法、调制图案计算程序以及存储介质

    公开(公告)号:CN107533247B

    公开(公告)日:2020-07-28

    申请号:CN201680027962.3

    申请日:2016-05-11

    Abstract: 调制图案计算装置(20)的迭代傅立叶变换部(22a)对包含强度谱函数以及相位谱函数的波形函数进行傅立叶变换,在傅立叶变换后进行了基于所期望的波形的时间强度波形函数的置换之后进行傅立叶逆变换。迭代傅立叶变换部(22a)使用对表示所期望的波形的函数乘以系数后的乘积来进行置换,系数具有与该系数的乘法运算前相比较,使乘法运算后的函数与傅立叶变换后的时间强度波形函数之差变小的值。由此,实现了能够抑制在迭代傅立叶运算时被引导到局部解并且能够高精度地计算出用于使光的时间波形接近所期望的波形的强度谱或者相位谱的调制图案计算装置、光控制装置、调制图案计算方法以及调制图案计算程序。

Patent Agency Ranking