公开(公告)号：CN111108375A

公开(公告)日：2020-05-05

申请号：CN201880060552.8

申请日：2018-07-31

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 小谷政弘 ,  大村孝幸

IPC: G01N27/62 ,  H01J49/16

Abstract: 本发明提供一种激光解吸电离法，其包括：准备包括形成有多个贯通孔的基板(2)和设置在基板的第1表面(2a)的导电层的试样支承体(1)的第1工序；在冰点以下的氛围中，在载置部(6)的载置面(6a)载置冷冻的试样(S)，使第2表面(2b)与冷冻的试样接触的状态下，对载置部固定试样支承体的第2工序；使试样解冻，解冻的试样的成分因毛细管现象而通过多个贯通孔移动至第1表面侧的第3工序；和通过向导电层施加电压并同时对第1表面照射激光(L)，电离移动至第1表面侧的成分的第4工序。

公开(公告)号：CN111094967A

公开(公告)日：2020-05-01

申请号：CN201880060457.8

申请日：2018-08-03

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 大村孝幸 ,  小谷政弘

IPC: G01N27/62 ,  H01J49/04

Abstract: 试样支撑体(1)包括基板(2)和电离基板(3)。电离基板(3)在第2表面(3b)上具有用于滴落试样的测量区域(R)。在电离基板(3)的至少测量区域(R)形成有在第1表面(3a)和第2表面(3b)开口的多个贯通孔(3c)。至少在第2表面(3b)上的贯通孔(3c)的周缘部设置有导电层(4)。基板(2)的电离基板(3)侧的至少一部分以能够使试样移动到基板(2)的内侧的方式形成。

公开(公告)号：CN111094963A

公开(公告)日：2020-05-01

申请号：CN201880055740.1

申请日：2018-08-06

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 内藤康秀 ,  小谷政弘 ,  大村孝幸

IPC: G01N27/62 ,  H01J49/16

Abstract: 本发明涉及一种激光解吸电离法，其具备下述工序：第一工序，准备试样支撑体(1)，该试样支撑体(1)具备形成有多个在彼此相对的第一表面(2a)及第二表面(2b)开口的贯通孔的基板(2)和至少设置于第一表面的导电层；第二工序，将试样(S)载置于载置部(6)的载置面(6a)，且以第二表面与试样接触的方式将试样支撑体配置在试样上；第三工序，将基质溶液(81)导入多个贯通孔；以及第四工序，在将试样配置于载置部和试样支撑体之间的状态下，一边对导电层施加电压一边对第一表面照射激光(L)，从而使与基质溶液混合并且从第二表面侧经由贯通孔移动到第一表面侧的试样的成分(S1)电离。

公开(公告)号：CN110383056A

公开(公告)日：2019-10-25

申请号：CN201880016091.4

申请日：2018-03-01

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 内藤康秀 ,  小谷政弘 ,  大村孝幸

IPC: G01N27/62 ,  G01N27/64

Abstract: 本发明的一个方面所涉及的质量分析装置(200)包括试样台(1)、激光照射部(201)和检测器(203)，试样台(1)以如下方式构成：包括载置试样(10)并且设置有从一个面(21a)贯通至另一个面(21b)的多个贯通孔(S)的基板(21)和至少覆盖在一个面(21a)上未设置贯通孔(S)的部分的导电层(23)的试样支承体(2)以另一个面(21b)与试样(10)相对的方式载置，激光照射部(201)以向一个面(21a)上的成像对象区域(R1)照射激光(L)的方式控制激光(L)的照射，检测器(203)在维持成像对象区域(R1)上的试样(10)的位置关系的状态下对通过激光(L)的照射而离子化的试样(10)进行检测。

公开(公告)号：CN115349161B

公开(公告)日：2025-05-13

申请号：CN202180025325.3

申请日：2021-01-14

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 田代晃 ,  小谷政弘 ,  大村孝幸

IPC: H01J49/04 ,  G01N27/62

Abstract: 试样支承体具备：基板，其具有在第一表面以及第二表面开口的多个贯通孔；第一部件，其具有多个第一开口，且配置于第一表面；第二部件，其分别在基板的厚度方向上具有与多个第一开口分别对应的多个第二开口，并配置于第二表面；粘接部件，其配置于第一部件与第二部件之间，将第一部件以及第二部件中的至少一方与基板粘接；以及导电层，其一体地设置于第二表面中的与多个第二开口分别对应的区域、第二部件中的与基板相反侧的表面以及多个第二开口的各自的内表面，多个贯通孔包含：多个第一贯通孔，它们位于多个第一开口的各个与多个第二开口的各个之间；以及多个第二贯通孔，它们位于第一部件与第二部件之间，多个第二开口分别经由多个第一贯通孔与多个第一开口分别连通。

公开(公告)号：CN112219256B

公开(公告)日：2025-03-21

申请号：CN201980037228.9

申请日：2019-05-28

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 西村侑记 ,  小谷政弘 ,  一宫孝规

IPC: H01J43/20 ,  H01J43/24 ,  H01J43/26

Abstract: 第1级倍增极是用于光电倍增管的第1级倍增极，其具有底壁部和从规定方向上的底壁部的两端部向一侧延伸的一对侧壁部。由底壁部中的一侧的底面和一对侧壁部中的一侧的一对侧面构成电子放出面，一对侧面分别是在与规定方向平行的截面中凹状弯曲的曲面。

公开(公告)号：CN111699384B

公开(公告)日：2024-09-27

申请号：CN201880088723.8

申请日：2018-11-30

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 小谷政弘 ,  大村孝幸 ,  池田贵将

IPC: G01N27/62

Abstract: 本发明的试样支承体是用于将试样离子化的试样支承体，其包括：基片，其具有以将彼此相对的第一表面和第二表面连通的方式形成的不规则的多孔结构；和至少设置于第一表面的导电层。

公开(公告)号：CN118475825A

公开(公告)日：2024-08-09

申请号：CN202280084157.X

申请日：2022-09-02

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 池田贵将 ,  小谷政弘 ,  大村孝幸

IPC: G01N27/62 ,  H01J49/04 ,  H01J49/16

Abstract: 试样支撑体单元包括具有第1表面和第2表面且形成有至少在第1表面开口的多孔结构的基板和可装卸地安装于基板且以第1表面的至少一部分露出的方式保持基板的框架。框架具有在安装于基板的状态下，在从与第1表面垂直的方向看时，相对于基板位于外侧的固定部分。

公开(公告)号：CN113574372B

公开(公告)日：2024-06-25

申请号：CN201980094261.5

申请日：2019-12-11

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 小谷政弘 ,  大村孝幸 ,  田代晃

IPC: G01N27/62

Abstract: 试样支承体是用于使用移液管吸头滴下的试样溶液中所含的试样的离子化的试样支承体。试样支承体具备：基板，其形成有在第1表面和第2表面开口的多个贯通孔；和框架，其形成有以从基板的厚度方向观察的情况下与测量区域重叠的方式在厚度方向贯通的贯通孔，且与基板的第1表面接合。框架的贯通孔包括宽度窄部，该宽度窄部具有比移液管吸头的前端的外径小的宽度。

公开(公告)号：CN111684274B

公开(公告)日：2023-09-05

申请号：CN201980011582.4

申请日：2019-01-16

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 小谷政弘 ,  大村孝幸

IPC: G01N27/62 ,  H01J49/04

Abstract: 试样支撑体(1)是用于电离试样的试样支撑体。试样支撑体具备：具有彼此相对的第一表面(2a)和第二表面(2b)的基板(2)、设置于第一表面的第一导电层(41)、和设置于第二表面的第二导电层(42)。在基板中的用于使试样的成分电离的规定区域，形成有在第一表面和第二表面开口的多个贯通孔(20)，在多个贯通孔的各个中，第一表面侧的第一开口部(20a)的宽度比第二表面侧的第二开口部(20b)的宽度大。