公开(公告)号：CN119513672A

公开(公告)日：2025-02-25

申请号：CN202510085010.8

申请日：2025-01-20

Applicant: 江南大学 ,  无锡市钻通工程机械有限公司

Inventor： 宿磊 ,  赵新维 ,  徐彬彬 ,  李可 ,  顾杰斐

IPC: G06F18/24 ,  G06F18/15 ,  G06F18/213 ,  G01M13/00

Abstract: 本发明涉及信号检测技术领域，具体提供了一种旋转机械的自适应故障诊断方法。该方法包括：获取旋转机械的振动信号，对振动信号进行预处理，得到信号时频特征；基于自适应窗口函数计算瞬时时频估计值；基于信号时频特征与瞬时时频估计值计算瞬时频率；对瞬时频率进行平滑优化，得到时频估计值；基于时频估计值对振动信号进行重构，得到重构信号，基于重构信号确定旋转机械的故障诊断结果。以解决相关技术中采用同步提取变换方法，对旋转机械的振动信号进行故障分析的准确性较低的问题。

公开(公告)号：CN118520227A

公开(公告)日：2024-08-20

申请号：CN202410986735.X

申请日：2024-07-23

Applicant: 江南大学 ,  中国电子科技集团公司第五十八研究所

Inventor： 宿磊 ,  李可 ,  段昕芳 ,  明雪飞 ,  顾杰斐 ,  赵新维 ,  周秀峰 ,  李杨

IPC: G06F18/10 ,  G06F17/14 ,  G06F17/16 ,  G06F18/28 ,  G01N29/04 ,  G01N29/44

Abstract: 本发明属于微电子检测技术领域，涉及一种微电子产品异物缺陷检测方法、装置及可读存储介质；获取待检测微电子产品的异物缺陷碰撞信号，为异物缺陷碰撞信号的GMC稀疏去噪模型的惩罚项中各个稀疏系数设置权重，得到目标惩罚项；基于保真项和目标惩罚项，得到目标GMC稀疏去噪模型；并对目标GMC稀疏去噪模型迭代求解，得到异物缺陷碰撞信号的稀疏编码矩阵；利用稀疏编码矩阵对异物缺陷碰撞信号进行稀疏表示，得到目标异物缺陷碰撞信号，从而对待检测微电子产品进行异物缺陷检测；本申请尽可能地保留由于异物缺陷在腔体内发生滑动和碰撞而产生的碰撞信号，去除异物缺陷碰撞信号中的环境噪声，从而提高异物缺陷检测结果的准确性。

公开(公告)号：CN117892203B

公开(公告)日：2024-06-07

申请号：CN202410293547.9

申请日：2024-03-14

Applicant: 江南大学

Inventor： 李可 ,  高琼华 ,  宿磊 ,  顾杰斐 ,  赵新维

IPC: G06F18/241 ,  G06F18/213 ,  G06F18/214 ,  G06F18/2415 ,  G06N3/0455 ,  G06N3/084

Abstract: 本发明涉及齿轮表面缺陷检测技术领域，尤其是指一种缺陷齿轮分类方法、装置及计算机可读存储介质，包括：构建缺陷齿轮深度迁移网络模型，所述缺陷齿轮深度迁移网络模型包括特征提取器、域条件通道注意力模块和分类器；将训练集样本输入特征提取器，再输入至域条件通道注意力模块，计算目标域和源域的分类输入特征在特征层上的距离损失以及目标域和源域的分类输出在分类层上的距离损失；构建损失函数，更新模型的网络参数；将无标签的目标域样本输入经过训练的缺陷齿轮深度迁移网络模型，得到分类结果。本发明不仅提高了对目标域缺陷齿轮分类的精度，并且在小批量缺陷齿轮分类检测方面表现出更加稳定的性能。

公开(公告)号：CN118089593A

公开(公告)日：2024-05-28

申请号：CN202410483891.4

申请日：2024-04-22

Applicant: 江南大学

Inventor： 李可 ,  宿磊 ,  张进 ,  顾杰斐 ,  赵新维

IPC: G01B11/25 ,  G06T17/00 ,  G06T5/50 ,  G06T7/90

Abstract: 本发明涉及机器视觉与光学测量技术领域，尤其是指一种基于多重曝光算法的自适应三维测量方法及系统，包括：利用相机采集一组曝光时间逐步递增的测量对象的纯白图像，获得测量对象ROI区域内过曝光像素数量与曝光时间的关系以及灰度值在预设范围内的像素数量与曝光时间的关系，从而获得一系列最佳曝光时间；按照最佳曝光时间对测量对象分别进行曝光，获得在不同的最佳曝光时间下的测量对象的条纹图像，使用多重曝光融合算法对不同的最佳曝光时间下拍摄的测量对象的条纹图像进行融合，求解全局相位，恢复测量对象的三维形貌。本发明解决了现有三维测量技术难以兼顾测量精度与效率的问题。

公开(公告)号：CN117788427A

公开(公告)日：2024-03-29

申请号：CN202311829612.7

申请日：2023-12-28

Applicant: 江南大学 ,  中国电子科技集团公司第五十八研究所

Inventor： 李可 ,  孙钰 ,  明雪飞 ,  宿磊 ,  顾杰斐 ,  赵新维

IPC: G06T7/00 ,  G06N3/045 ,  G06N3/0985 ,  G06N3/096 ,  G06N3/047 ,  G06N3/0495

Abstract: 本发明涉及一种芯片缺陷检测方法和系统，其中，方法包括：获取芯片的一维振动信号并转化为二维图像数据，通过二维图像数据训练算法NAS，并对算法NAS进行优化，得到神经架构搜索算法模型ASNDARTS，基于所述神经架构搜索算法模型ASNDARTS构建知识蒸馏算法模型DPSKD，获取待检测芯片的一维振动信号并转化为二维图像数据，通过所述知识蒸馏算法模型DPSKD对待检测芯片的二维图像数据进行检测，以判断待检测芯片是否存在缺陷。本发明对算法NAS进行了优化，并对知识蒸馏传递方式进行了优化，得到的模型DPSKD在模型冗余度降低的前提下有效提高芯片缺陷检测的准确性。