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公开(公告)号:CN1920936A
公开(公告)日:2007-02-28
申请号:CN200610139583.1
申请日:1995-08-16
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
Abstract: 在液晶电光器件的外部驱动电路中包括由多个寄存器和对每个寄存器提供电源的电路配置而成的移位寄存器电路。当输入信号进入第n个寄存器时,停止向第n个寄存器之外的寄存器至少一部分加电源。移位寄存器电路是由P沟道TFT和电阻构成。通过使用移位寄存器电路的输出来控制向移位寄存器的供电。用于提供电源的电路由P沟道TFT和电阻配置而成。电流电路功耗不大于移位寄存器电路的功耗。
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公开(公告)号:CN1697199A
公开(公告)日:2005-11-16
申请号:CN200510067218.X
申请日:1997-01-20
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
IPC: H01L29/786 , H01L27/12 , H01L21/00 , G09F9/30 , G02F1/136 , H04N5/225 , H04Q7/20 , H04M1/02 , H04N5/74
CPC classification number: H01L21/02672 , H01L21/02532 , H01L21/2022 , H01L21/3226 , H01L27/12 , H01L27/1203 , H01L27/1277 , H01L29/4908 , H01L29/66757 , H01L29/66765 , H01L29/78621 , H01L29/78675
Abstract: 本发明目的是获得具有良好的特性的薄膜晶体管。使镍元素与非晶质膜203的特定的区域205保持选择性地接连。采用施行加热处理的办法使之结晶化,再在含卤族元素的氧化性气氛中施行加热处理的办法形成热氧化膜。这时进行结晶性的改善和镍元素的吸杂。这种结晶性硅膜将变成具有从多点放射状地进行了结晶生长的那样的构造。于是可得到具有良好的特性的TFT。
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公开(公告)号:CN1697198A
公开(公告)日:2005-11-16
申请号:CN200510065795.5
申请日:1997-01-20
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
CPC classification number: H01L21/02672 , H01L21/02532 , H01L21/2022 , H01L21/3226 , H01L27/12 , H01L27/1203 , H01L27/1277 , H01L29/4908 , H01L29/66757 , H01L29/66765 , H01L29/78621 , H01L29/78675
Abstract: 本发明的目的是要得到具有良好的特性的薄膜晶体管。使非晶硅膜203的特定的区域205保持有选择地与镍元素相接。然后通过加热处理,进行用207示出的那种朝向与基板平行的方向的结晶生长。再通过在含有卤族元素的氧化性气氛中的加热处理,形成热氧化膜209。此时,进行结晶性的改善、镍元素的吸杂。然后使上述结晶生长方向与源/漏区的联结方向一致来制造薄膜晶体管。通过这样做,可得到迁移率为200(cm2/Vs)以上,S值为100(mV/dec)以下的那种具有良好特性的TFT。
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公开(公告)号:CN1206738C
公开(公告)日:2005-06-15
申请号:CN97102282.8
申请日:1997-01-20
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
IPC: H01L29/786
CPC classification number: H01L21/02672 , H01L21/02686 , H01L21/2022 , H01L21/28158 , H01L21/3221 , H01L21/3226 , H01L27/1203 , H01L27/1229 , H01L27/1277 , H01L27/1296 , H01L29/04 , H01L29/4908 , H01L29/66757 , H01L29/66765 , H01L29/78621 , H01L29/78675
Abstract: 本发明目的是获得具有良好的特性的薄膜晶体管。使镍元素与非晶质膜203的特定的区域205保持选择性地接连。采用施行加热处理的办法使之结晶化,再在含卤族元素的氧化性气氛中施行加热处理的办法形成热氧化膜。这时进行结晶性的改善和镍元素的吸杂。这种结晶性硅膜将变成具有从多点放射状地进行了结晶生长的那样的构造。于是可得到具有良好的特性的TFT。
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公开(公告)号:CN1163487A
公开(公告)日:1997-10-29
申请号:CN97102282.8
申请日:1997-01-20
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
IPC: H01L29/02 , H01L29/786 , H01L21/00
CPC classification number: H01L21/02672 , H01L21/02686 , H01L21/2022 , H01L21/28158 , H01L21/3221 , H01L21/3226 , H01L27/1203 , H01L27/1229 , H01L27/1277 , H01L27/1296 , H01L29/04 , H01L29/4908 , H01L29/66757 , H01L29/66765 , H01L29/78621 , H01L29/78675
Abstract: 本发明目的是获得具有良好的特性的薄膜晶体管。使镍元素与非晶质膜203的特定的区域205保持选择性地接连。采用施行加热处理的办法使之结晶化,再在含卤族元素的氧化性气氛中施行加热处理的办法形成热氧化膜。这时进行结晶性的改善和镍元素的吸杂。这种结晶性硅膜将变成具有从多点放射状地进行了结晶生长的那样的构造。于是可得到具有良好的特性的TFT。
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公开(公告)号:CN1901205B
公开(公告)日:2012-06-20
申请号:CN200610101628.6
申请日:1997-01-20
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
IPC: H01L27/12 , H01L29/786
CPC classification number: H01L21/02672 , H01L21/02532 , H01L21/2022 , H01L21/3226 , H01L27/12 , H01L27/1203 , H01L27/1277 , H01L29/4908 , H01L29/66757 , H01L29/66765 , H01L29/78621 , H01L29/78675
Abstract: 半导体装置及其制造方法。本发明的目的是要得到具有良好的特性的薄膜晶体管。使非晶硅膜203的特定的区域205保持有选择地与镍元素相接。然后通过加热处理,进行用207示出的那种朝向与基板平行的方向的结晶生长。再通过在含有卤族元素的氧化性气氛中的加热处理,形成热氧化膜209。此时,进行结晶性的改善、镍元素的吸杂。然后使上述结晶生长方向与源/漏区的联结方向一致来制造薄膜晶体管。通过这样做,可得到迁移率为200(cm2/Vs)以上,S值为100(mV/dec)以下的那种具有良好特性的TFT。
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公开(公告)号:CN100468777C
公开(公告)日:2009-03-11
申请号:CN200510083584.4
申请日:1997-01-20
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
IPC: H01L29/786 , H01L27/12
CPC classification number: H01L21/02672 , H01L21/02532 , H01L21/2022 , H01L21/3226 , H01L27/12 , H01L27/1203 , H01L27/1277 , H01L29/4908 , H01L29/66757 , H01L29/66765 , H01L29/78621 , H01L29/78675
Abstract: 一种便携式信息终端,该信息终端包括一个半导体装置,所述半导体装置具有多个N沟道和P沟道薄膜晶体管,所述薄膜晶体管包括:在一个基板的绝缘表面上形成的结晶性硅膜作为有源层,所述有源层具有至少一个沟道区和源、漏区,并包括一种卤族元素;其中所述结晶性硅膜包括结晶性硅晶粒,每个结晶性硅晶粒的晶体结构在预定方向上延伸,并且晶界在所述预定预定方向上扩展;其中所述预定方向与所述薄膜晶体管的沟道区中的载流子移动方向成一预定角度,且其中所述薄膜晶体管的S值小于等于100mV/dec。
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公开(公告)号:CN1310205C
公开(公告)日:2007-04-11
申请号:CN95115111.8
申请日:1995-08-16
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
IPC: G09G3/36
CPC classification number: G11C19/28 , G09G3/3674 , G09G3/3677 , G09G3/3685 , G09G3/3688 , G09G2310/0218 , G09G2310/08 , G09G2330/021
Abstract: 在液晶电光器件的外部驱动电路中包括由多个寄存器和对每个寄存器提供电源的电路配置而成的移位寄存器电路。当输入信号进入第n个寄存器时,停止向第n个寄存器之外的寄存器至少一部分加电源。移位寄存器电路是由P沟道TFT和电阻构成。通过使用移位寄存器电路的输出来控制向移位寄存器的供电。用于提供电源的电路由P沟道TFT和电阻配置而成。电流电路功耗不大于移位寄存器电路的功耗。
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公开(公告)号:CN1881618A
公开(公告)日:2006-12-20
申请号:CN200610099650.1
申请日:1997-01-20
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
IPC: H01L29/786 , H01L27/12
CPC classification number: H01L21/02672 , H01L21/02532 , H01L21/2022 , H01L21/3226 , H01L27/12 , H01L27/1203 , H01L27/1277 , H01L29/4908 , H01L29/66757 , H01L29/66765 , H01L29/78621 , H01L29/78675
Abstract: 一种便携式信息终端,该信息终端包括一个半导体装置,所述半导体装置具有多个N沟道和P沟道薄膜晶体管,所述薄膜晶体管包括:在一个基板的绝缘表面上形成的结晶性硅膜作为有源层,所述有源层具有至少一个沟道区和源、漏区,并包括一种卤族元素;其中所述结晶性硅膜包括结晶性硅晶粒,每个结晶性硅晶粒的晶体结构在预定方向上延伸,并且晶界在所述预定预定方向上扩展;其中所述预定方向与所述薄膜晶体管的沟道区中的载流子移动方向成一预定角度,且其中所述薄膜晶体管的S值小于等于100mV/dec。
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公开(公告)号:CN1881594A
公开(公告)日:2006-12-20
申请号:CN200610099676.6
申请日:1997-01-20
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
IPC: H01L27/12 , H01L29/786
CPC classification number: H01L21/02672 , H01L21/02532 , H01L21/2022 , H01L21/3226 , H01L27/12 , H01L27/1203 , H01L27/1277 , H01L29/4908 , H01L29/66757 , H01L29/66765 , H01L29/78621 , H01L29/78675
Abstract: 本发明目的是获得具有良好的特性的薄膜晶体管。使镍元素与非晶质膜203的特定的区域205保持选择性地接连。采用施行加热处理的办法使之结晶化,再在含卤族元素的氧化性气氛中施行加热处理的办法形成热氧化膜。这时进行结晶性的改善和镍元素的吸杂。这种结晶性硅膜将变成具有从多点放射状地进行了结晶生长的那样的构造。于是可得到具有良好的特性的TFT。
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