辐射治疗装置和辐射治疗方法

    公开(公告)号:CN106422088B

    公开(公告)日:2019-05-14

    申请号:CN201610656381.8

    申请日:2016-08-11

    Abstract: 一种辐射治疗装置,包括:接收器,其接收经受X射线成像的校准对象的第一投影图像;存储部分,其存储校准对象的理想投影图像,所述理想投影图像是基于X射线成像结构的设计信息、所述校准对象的位置信息以及所述校准对象的体积数据来生成的;计算器,其计算用于将第一投影图像变换为理想投影图像的变换参数;变换图像生成器,其通过利用变换参数来对经受X射线成像所获得的患者的第二投影数据进行变换以生成患者的变换的投影图像;重建图像生成器,其基于患者的体积数据、患者的位置信息以及设计信息来生成重建的投影图像;以及匹配图像生成器,其生成用于在变换的投影图像与重建的投影图像之间的匹配的匹配参考图像。

    缺陷检查装置、方法以及信息记录介质

    公开(公告)号:CN114266781A

    公开(公告)日:2022-04-01

    申请号:CN202110219892.4

    申请日:2021-02-26

    Abstract: 本发明的实施方式涉及缺陷检查装置、方法以及记录介质。提供能够辅助高精度的缺陷检查的缺陷检查装置、方法以及记录介质。实施方式的缺陷检查装置包括存储部、第一取得部、搜索部以及生成部。存储部存储辞典数据,该辞典数据将第一设计图像和第一拍摄图像建立关联而成,所述第一拍摄图像是对基于第一设计数据制造出的没有缺陷的第一检查对象进行拍摄而得到的图像。第一取得部取得基于第二设计数据的第二设计图像。搜索部搜索与第二设计图像类似的第一设计图像。生成部生成参考图像,该参考图像是基于第二设计数据的没有缺陷的情况下的第二检查对象的模拟拍摄图像。第一设计图像包含比第一拍摄图像宽的图像区域的信息。

    缺陷分类装置、方法以及程序
    30.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115131596A

    公开(公告)日:2022-09-30

    申请号:CN202110907048.0

    申请日:2021-08-09

    Abstract: 本发明的实施方式涉及缺陷分类装置、方法以及程序。提供能够支持高精度的缺陷检查的缺陷分类装置、方法以及程序。缺陷分类装置包括第1获取部、第2获取部、变换部、计算部、检测部以及分类部。第1获取部获取与第1检查对象有关的第1设计图像,该第1设计图像是基于利用设计软件制作的设计数据的图像。第2获取部获取第1摄影图像,该第1摄影图像是对基于设计数据生成的第1检查对象进行摄影而得到的。变换部将第1设计图像变换为使用对没有缺陷的第2检查对象进行摄影得到的第2摄影图像表达的参照图像。计算部计算参照图像的置信度。检测部比较参照图像和第1摄影图像,检测第1检查对象中的缺陷。分类部基于置信度对缺陷进行分类。

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