标本分析装置及其异常控制方法和控制系统

    公开(公告)号:CN101520464B

    公开(公告)日:2013-05-08

    申请号:CN200810171523.7

    申请日:2008-10-17

    Abstract: 本发明提供一种标本分析装置及其异常控制方法和控制系统,其装置包括:第一固定器,固定盛放标本、试剂及它们的混合物至少其中之一的容器,并将该容器移至一定位置;第一机械部分,对固定在第一固定器的容器实施一定第一操作;第二固定器,固定容器;移送器件,将上述容器从第一固定器移到第二固定器;第二机械部分,对固定在第二固定器的容器实施一定第二操作;异常探测装置,探测第一机械部分发生的异常;故障控制装置,当异常探测装置探测到第一机械部分发生异常时,控制第一固定器和第一、第二机械部分的运行,使其停止第一机械部分的第一操作和第一固定器的移送动作,继续第二机械部分的第二操作。

    标本检测仪
    22.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101294973B

    公开(公告)日:2012-10-31

    申请号:CN200810093548.X

    申请日:2008-04-24

    Abstract: 本发明提供一种用户可以轻松掌握标本分析仪的维护计划的标本检测仪。本发明第一部分所提供标本分析仪包括:测定标本的测定装置、存储维护计划的存储器、显示器及显示控制器,在显示器上显示日历形式的显示画面,在该日历上,日期与该日预定实施的维护项目对应地显示;本发明第二部分所提供的标本分析仪包括:测定标本的测定装置、存储维护计划时维护项目与实施该维护项目的预定日期对应存储的存储器、显示器及在显示器上显示有日期显示区和当天预定实施维护项目显示区的日历形式显示画面的显示控制器。

    试样分析仪
    23.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101275960B

    公开(公告)日:2012-08-22

    申请号:CN200810084888.6

    申请日:2008-03-28

    Abstract: 本发明提供一种试样分析仪,包括:测定含试样和试剂的测定试样的测定装置;根据上述测定装置测定含标准试样和上述试剂的测定用标准试样所得第一测定数据绘制校正曲线的校正曲线绘制单元;赋予上述校正曲线绘制单元绘制的上述校正曲线以校正曲线特定信息、用于特定上述校正曲线的校正曲线特定信息附加单元;根据上述校正曲线绘制单元绘制的上述校正曲线对上述测定装置测定上述测定试样所得第二测定数据进行处理、取得分析结果的测定数据处理单元;将上述测定数据处理单元获取的上述分析结果与赋予上述第二测定数据处理所用上述校正曲线的该校正曲线特定信息对应存储的分析结果存储单元。

    试样分析仪
    24.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101275961B

    公开(公告)日:2012-06-06

    申请号:CN200810084891.8

    申请日:2008-03-28

    Abstract: 本发明提供一种试样分析仪,它可以轻松地对分别放置在数个放置场所的数种试剂作为同一分析项目所需的试剂加以管理。该试样分析仪(免疫分析仪1)包括:试剂配置单元6,可固定数个记录有第一试剂管理信息的试剂盛放器具200;试剂配置单元7,可固定数个记录有第二试剂管理信息的试剂盛放器具300;条形码读取器6a,读取第一试剂管理信息;条形码读取器7a,读取第二试剂管理信息;登录系统,根据第一试剂管理信息和第二试剂管理信息,将数个试剂盛放器具200中指定试剂盛放器具200盛放的R1/R3试剂和数个试剂盛放器具300中指定试剂盛放器具300盛放的R2试剂作为测定试剂组加以登录。

    标本分析仪及标本分析方法

    公开(公告)号:CN101393227A

    公开(公告)日:2009-03-25

    申请号:CN200810161245.7

    申请日:2008-09-18

    Abstract: 本发明提供一种能够以不同目的所需时间段统计并输出标本分析仪所进行的分析次数的标本分析仪及其标本分析方法。该标本分析仪包括:预定接受单元,用于接受有分析项目信息的标本分析预定;分析装置,根据上述预定接受单元接受的分析预定,混合标本与试剂,分析标本;计数单元,分别按分析项目别计数在第一计数期内上述分析装置所作的分析次数和在与上述第一计数期不同的第二计数期内上述分析装置所作的分析次数。选择接受单元,受理对上述第一计数期和上述第二计数期其中之一的选择;输出设备;及输出控制单元,使上述输出设备输出在上述选择接受单元受理的计数期内所述分析装置所做的各分析项目的分析次数。

    试样分析仪
    27.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101275961A

    公开(公告)日:2008-10-01

    申请号:CN200810084891.8

    申请日:2008-03-28

    Abstract: 本发明提供一种试样分析仪,它可以轻松地对分别放置在数个放置场所的数种试剂作为同一分析项目所需的试剂加以管理。该试样分析仪(免疫分析仪1)包括:试剂配置单元6,可固定数个记录有第一试剂管理信息的试剂盛放器具200;试剂配置单元7,可固定数个记录有第二试剂管理信息的试剂盛放器具300;条形码读取器6a,读取第一试剂管理信息;条形码读取器7a,读取第二试剂管理信息;登录系统,根据第一试剂管理信息和第二试剂管理信息,将数个试剂盛放器具200中指定试剂盛放器具200盛放的R1/R3试剂和数个试剂盛放器具300中指定试剂盛放器具300盛放的R2试剂作为测定试剂组加以登录。

    试样分析仪
    28.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101275960A

    公开(公告)日:2008-10-01

    申请号:CN200810084888.6

    申请日:2008-03-28

    Abstract: 本发明提供一种试样分析仪,包括:测定含试样和试剂的测定试样的测定装置;根据上述测定装置测定含标准试样和上述试剂的测定用标准试样所得第一测定数据绘制校正曲线的校正曲线绘制单元;赋予上述校正曲线绘制单元绘制的上述校正曲线以校正曲线特定信息、用于特定上述校正曲线的校正曲线特定信息附加单元;根据上述校正曲线绘制单元绘制的上述校正曲线对上述测定装置测定上述测定试样所得第二测定数据进行处理、取得分析结果的测定数据处理单元;将上述测定数据处理单元获取的上述分析结果与赋予上述第二测定数据处理所用上述校正曲线的该校正曲线特定信息对应存储的分析结果存储单元。

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