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公开(公告)号：CN115186464A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210768541.3
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20 , G06F17/18 , G06F111/10 , G06F119/04
Abstract: 本发明提供一种确定航天器薄弱区域辐射余度的方法，包括：对航天器的三维几何结构进行射线跟踪运算，获得屏蔽深度数据，以及每个空间角度区域内的剂量值和空间角大小；计算深度‑立体角占比曲线、剂量占比‑立体角占比曲线以及总剂量；将计算结果换算为剂量倍数‑立体角占比曲线以及剂量倍数‑深度曲线；将薄弱区域的立体角比例和屏蔽深度上限分别作为判据，将所述判据分别代入剂量倍数‑立体角占比曲线以及剂量倍数‑深度曲线中，获得根据薄弱区域确定的辐射余度。本发明能够对用户关心的航天器薄弱区域进行针对性分析，有助于对航天器设计提供多标准、多维度的参考，加强对薄弱部位的辐射防护，延长敏感元器件的使用寿命。
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公开(公告)号：CN115169208A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210768699.0
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/25 , G06F119/02
Abstract: 本发明提供了一种重离子辐射诱导PKA计算方法，属于空间环境效应分析技术领域。方法包括：S1、选取敏感几何体，设置模拟参数，进行模拟辐射实验；S2、调用Step函数、Track函数和Event函数，计算得到每一步结束时的粒子类型、动能、坐标信息；S3、设置PKA的原子类型和动能范围以及RecoilCutoff参数，判断每一步结束时产生的粒子类型是否是入射粒子与敏感几何体作用而产生的PKA，如是则输出PKA的动能数据；S4、对输出的动能数据进行归一化处理。本发明通过设置与器件材料对应RecoilCutoff参数进行模拟实验，并根据判断筛选出由入射粒子与基体材料作用产生的PKA信息，可以快速准确地得到重离子的PKA分布，导出合理的PKA能谱用于解释科学问题。
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公开(公告)号：CN115146384A
公开(公告)日：2022-10-04
申请号：CN202210769915.3
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/15
Abstract: 本发明提供了一种批量添加辐射探测点的方法，属于空间辐射分析技术领域。方法包括：S1、构建航天器三维模型，选取目标单机所属的几何体，将几何体内部器件删除；S2、构建几何体的包围盒，设定期望添加的探测点的数量；S3、获取包围盒的体积，计算每个探测点占据的体积，S4、将每个探测点占据的体积等效为正方体，计算每个探测点所属正方体的边长，计算包围盒某一边长实际应添加的探测点的数量；S5、计算每个实际应添加的探测点的坐标位置，批量添加探测点。本发明实现了依据几何体结构批量均匀添加辐射探测点的效果，避免了手动逐个定位、按坐标添加探测点的弊端，满足了设计阶段早期估计目标单机内部辐射效应三维分布的需求。
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公开(公告)号：CN111863625A
公开(公告)日：2020-10-30
申请号：CN202010735167.8
申请日：2020-07-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: H01L21/423 , H01L21/425 , H01L21/428 , H01L21/477
Abstract: 本发明提供了一种单一材料PN异质结及其设计方法，涉及PN异质结材料设计技术领域，包括：将一种二维过渡金属硫化物中的部分原子替换成替代原子，二维过渡金属硫化物具有单一N型半导体性质或单一P型半导体性质；通过原子替换形成缺陷型二维过渡金属硫化物，所述缺陷型二维过渡金属硫化物的半导体性质发生转变，适于与未进行原子替换的二维过渡金属硫化物形成PN异质结。本发明通过替代原子的引入使得本征半导体二维材料出现晶格缺陷，引入了缺陷能级，将同一种材料通过原子替换形成具备P型半导体性质与N型半导体性质两种同晶格材料，并从能带分布中判断体系的多数载流子，为实现单一材料PN异质结提供了理论依据。
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公开(公告)号：CN111856164A
公开(公告)日：2020-10-30
申请号：CN202010735718.0
申请日：2020-07-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R29/24
Abstract: 本发明提供了一种提取电子器件氧化层中正电荷的方法，包括以下步骤：S100、选择P型半导体材料制备成衬底；S200、在衬底上制备N型外延层；S300、在外延层上形成P+源区、P+漏区和N+阱区；S400、在外延层上生长氧化层；S500、对氧化层进行刻蚀，漏出阱区和衬底，在未刻蚀部分制备电极，形成N+源极、N+漏极和栅极；S600、将源极和漏极接地，栅氧电场保持正偏置，阱区负偏置，衬底负偏置，检测栅极处的空穴电流；S700、在偏置过程中，检测平带电压变化，提取氧化物层俘获正电荷的状态。本发明基于MOS场效应管制备工艺，在N型半导体材料衬底上形成正电荷测试结构，并通过调置不同电极之间的电压，快速检测正电荷状态，达到高效高灵敏度检测氧化层中正电荷的目的。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111883218B
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202010735168.2
申请日：2020-07-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G16C60/00
Abstract: 本发明提供了一种过渡金属硫化物非线性光学性质的调控方法及装置，方法包括：将过渡金属硫化物结构中的一个原子替换为标定原子，获得新的原子晶格；优化新的原子晶格的晶格参数，获得优化后的晶格参数；根据优化后的晶格参数依次进行自洽计算和非自洽计算，获得预处理后的晶格参数，根据预处理后的晶格参数确定电子带隙；根据预处理后的晶格参数进行非自洽计算，获得波函数，根据波函数进行GW‑BSE计算，获得光学带隙；根据光学带隙和电子带隙确定带隙差，根据带隙差确定修正参数；根据修正参数和控制参数进行模拟，获得多个二阶非线性非零响应光谱。本申请的技术方案，提高了过渡金属硫化物的非线性光学性质，降低了计算模拟过程的复杂度。
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公开(公告)号：CN115831278A
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202211404835.4
申请日：2022-11-10
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供一种晶体管氧化层不同深度处电离‑位移协同效应的仿真方法，方法包括：在双极晶体管氧化层的不同深度处分别设置预设初始浓度的氧空位缺陷，并根据电子‑空穴对计算模型确定双极晶体管氧化层中的电子‑空穴对数量；基于预设的缺陷演化进程，根据氧空位缺陷和电子‑空穴对不同深度处的电离‑位移协同效应进行仿真，根据仿真结果确定不同深度处的空穴浓度；对不同深度处的空穴浓度进行对比分析，确定双极晶体管氧化层中不同深度处电离‑位移协同效应之间的关系。本发明实现了晶体管氧化层不同深度处电离‑位移协同效应的仿真及研究，提供的仿真方法数据获取过程便捷，获取的数据也不会引入干扰项，分析结果精准可靠。
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公开(公告)号：CN115186565A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210759690.3
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/25 , G06F111/08 , G06F119/02 , G06F119/04
Abstract: 本发明提供了一种基于多粒子源模拟计算PKA能谱的方法，属于卫星空间环境分析技术领域。方法包括：S1、基于蒙特卡罗方法，构建半导体探测器模型；S2、设置粒子源，所述粒子源包括多种形式，至少其中一种形式的所述粒子源包括两种及以上类型的高能粒子；S3、根据所述半导体探测器模型的硅片厚度进行真实空间环境模拟，计算在相同入射结构和相同模型下，由不同形式的所述粒子源辐照所引起的初级碰撞原子能谱变化趋势。本发明通过使用多种形式的粒子源入射，并通过比较不同粒子源下PKA能谱变化趋势，选择更符合器件任务环境的粒子源，能够更好地模拟空间综合辐射环境因素的影响，进而提高模拟计算结果对空间综合辐射环境效应的代表性。
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公开(公告)号：CN115186383A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210769989.7
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供了一种将剂量‑深度曲线转换为能谱的方法，属于空间辐射分析技术领域。方法包括：构建单一能谱文件；进行求解，获取剂量‑深度曲线，构建数据集；对数据集进行正向变换，将数据集的最小值、中位数和最大值分别映射至0、0.5和1.0，并将小于中位数的数值放缩到[0，0.5]的区间、将大于中位数的数值放缩到(0.5，1]的区间；构建多层感知机模型；运行多层感知机模型，读取用户想要进行转换的剂量‑深度曲线，输出范围在[0,1]区间的微分能谱数据，对输出的微分能谱数据进行反向变换。本发明先通过构建转换模型，再利用训练好的转换模型读取待转换的剂量‑深度曲线，可实现剂量‑深度曲线到能谱的高效转换。
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公开(公告)号：CN115186382A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210769870.X
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/15 , G06F30/20 , G06F17/16 , G06F119/12
Abstract: 本发明提供了一种空间环境仿真数据的表征方法，属于航空航天技术领域。所述方法包括：对航天器在空间运行期间的仿真数据进行基于三维空间和二维空间的表征，并以连续的时间变化为基础，根据所述航天器在三维空间和二维空间中的空间环境的表征，绘制空间环境数据瞬时曲线图。本发明从三维空间、二维空间两个维度对航天器空间运行状态及其所处空间环境的仿真数据进行量化表征，通过三维数据确定航天器的空间位置运动状态，通过四维数据确定航天器的姿态，基于航天器运行轨迹的云图分析对航天器空间环境进行表征，使得海量的多元异构数据能够在同一场景中展现，对工程中分析航天器复杂空间环境及提高航天器在轨服役寿命和可靠性均具有重要意义。
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