公开(公告)号：CN1003094B

公开(公告)日：1989-01-18

申请号：CN86101518

申请日：1986-07-25

Applicant: 复旦大学

Inventor： 王宗欣

IPC: G01N22/00

Abstract: 本发明提供了一种用介质波导加红外光源非接触测试半导体材料少子寿命及电阻率的装置。该装置的测试结果与常规的有接触方法一致、操作简便，能够测量不同厚度片状样品的少子寿命以及同一样品上不同部位少于寿命的差异。由于是非接触测试，对于抛光片、离子注入片以及经过各种化学处理的半导体薄片尤为适宜，能够做到无损伤、无沾污。在集成电路、半导体器件的生产过程中可用作材料检验和工艺监控的重要手段。

公开(公告)号：CN2690871Y

公开(公告)日：2005-04-06

申请号：CN200320108330.X

申请日：2003-11-25

Applicant: 复旦大学

Inventor： 袁燕 ,  王宗欣

IPC: G01K1/02

Abstract: 本实用新型为一种无线通信温度传感显示装置，由微处理器，人机对话装置，LM92数字温度发生器。其中只用到一个+5V电源，射频端也不需加大电压。由于通过无线传输，所以可以在远处监控温度。本装置可用于测量箱内温度，远距离测温等。