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公开(公告)号：CN104458896A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410756871.6
申请日：2014-12-10
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N27/83
Abstract: 本发明公开了一种基于多重漏磁检测信号特征值的缺陷评价方法，包括以下步骤：1)将样件磁化，用探头分别在样件的盲孔和所有矩形槽上方进行扫查，得到信号曲线计算获得各个MFL信号特征值；2)在数据处理装置中得到MFL信号特征值分别与偏离值、提离值的的线性方程；3)在数据处理装置中得到MFL信号特征值与矩形槽上同一方向尺寸的线性方程；4)用探头对待测铁磁件进行检测，扫查得到MFL漏磁信号特征值，根据步骤2)和步骤3)获得的线性方程获得待测铁磁件上的缺陷的位置及尺寸。本发明能根据具体的线性关系式对待测铁磁件上的缺陷进行较准确的定量的评价。
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