一种用于微牛级推力测试的快响应二级摆装置

    公开(公告)号:CN114152380B

    公开(公告)日:2023-02-28

    申请号:CN202111390811.3

    申请日:2021-11-23

    Abstract: 本发明公开了一种用于微牛级推力测试的快响应二级摆装置,包括:悬挂模块、微推进器、第一加速度计、第二加速度计、摆架框和监测模块;悬挂模块与摆架框连接,摆架框可绕水平方向或者竖直方向转动;微推进器对摆架框施加水平方向推力;第一加速度计和第二加速度计设置在摆架框上端和下端,用于差分测量摆架框的加速度;监测模块监测摆架框的位移变化并提供角度基准,对摆架框的位移与角度变化的比例系数进行标定。本发明采用扭摆和加速度计共同测试微推进器推力,扭摆的本征周期在秒量级,加速度计本征周期达到微秒量级,拥有更好的高频性能;能够在高精度测量微推进器推力的同时快速响应推力变化;结构简单,测量精度高,响应速度快且操作方便。

    基于无线控制的电气解耦型微推进器推力测量装置及方法

    公开(公告)号:CN114152379A

    公开(公告)日:2022-03-08

    申请号:CN202111350501.9

    申请日:2021-11-15

    Abstract: 本发明公开了一种基于无线控制的电气解耦型微推进器推力测量装置及方法,装置包括:扭摆模块、供气模块、液体导电装置、无线控制模块和角度测量模块;微推进器安装在摆架上构成推力测试台架,其有绕水平轴和竖直轴转动两种工作模式。液体导电装置包括液态金属、固定架和基座,固定架安装在摆架上,外界和摆架的电源线通过与液态金属接触实现连通。供气模块包括贮气瓶、调节阀、控制模块和气管,气体通过气管对微推进器供气。无线控制模块通过信号线与供气模块和微推进器的控制模块连接,接收外界无线信号控制微推进器和供气模块工作。本发明解决了微推进器与外界的电气管路耦合,提升推力测量装置推力测量结果的精度。

    一种基于毫克级扭秤测量检验质量表面电势的装置和方法

    公开(公告)号:CN119959634A

    公开(公告)日:2025-05-09

    申请号:CN202510443717.1

    申请日:2025-04-10

    Abstract: 本申请属于精密测量领域,具体公开一种基于毫克级扭秤测量检验质量表面电势的装置和方法。通过本申请,采用毫克级扭秤代替传统扭秤,相比于传统扭秤,毫克级扭秤转动惯量更小,力矩传感热噪声低,力矩探测水平优于10‑18 Nm/Hz0.5,具有极高的探测灵敏度;采用微米级带电微球代替源导体探针作为激励源,空间分辨率可达到微米量级。由于悬浮带电微球的电荷量少,体积小,对待测检验质量表面的电势影响小,可忽略不计,兼顾较高空间分辨率;采用光学模块代替微位移平台,提供带电微球悬浮的光阱梯度力,并改变悬浮带电微球的位置,使其正对检验质量表面的不同区域。悬浮微球仅与光子相互作用,减少微球与其它物体的机械接触,降低摩擦效应,提高探测的准确率。

    一种在轨检验质量捕获控制模拟装置及其控制方法

    公开(公告)号:CN118753538B

    公开(公告)日:2025-03-11

    申请号:CN202411023322.8

    申请日:2024-07-29

    Abstract: 本申请属于空间引力波探测技术领域,具体公开了一种在轨检验质量捕获控制模拟装置及其控制方法。该装置包括真空机构、控制器、承载平台以及设置于真空机构内部的检验质量、扭摆机构、捕获定位机构、电容控制单元和位移测量模块;扭摆机构用以悬挂检验质量,电容控制单元包括间隔布置在检验质量四周的多个电容极板,用于通过施加静电力控制检验质量进行移动;位移测量模块在检验质量受到外部扰动时,测量检验质量相对于原始位置的位移信息,进而控制器基于该位移信息,控制电容控制单元和捕获定位机构对检验质量的位姿进行调整。通过本申请,可以有效模拟在轨状态下对受到干扰的检验质量的捕获控制,且提升了对检验质量进行捕获控制的精度。

    一种在轨检验质量捕获控制模拟装置及其控制方法

    公开(公告)号:CN118753538A

    公开(公告)日:2024-10-11

    申请号:CN202411023322.8

    申请日:2024-07-29

    Abstract: 本申请属于空间引力波探测技术领域,具体公开了一种在轨检验质量捕获控制模拟装置及其控制方法。该装置包括真空机构、控制器、承载平台以及设置于真空机构内部的检验质量、扭摆机构、捕获定位机构、电容控制单元和位移测量模块;扭摆机构用以悬挂检验质量,电容控制单元包括间隔布置在检验质量四周的多个电容极板,用于通过施加静电力控制检验质量进行移动;位移测量模块在检验质量受到外部扰动时,测量检验质量相对于原始位置的位移信息,进而控制器基于该位移信息,控制电容控制单元和捕获定位机构对检验质量的位姿进行调整。通过本申请,可以有效模拟在轨状态下对受到干扰的检验质量的捕获控制,且提升了对检验质量进行捕获控制的精度。

    一种溯源到万有引力定律的重力仪标定方法

    公开(公告)号:CN118244377B

    公开(公告)日:2024-07-26

    申请号:CN202410658233.4

    申请日:2024-05-27

    Abstract: 本申请属于重力测量技术领域,具体公开了一种溯源到万有引力定律的重力仪标定方法,该方法在一套测G装置上采用周期法和角加速度法两种测G方法对引力场装置所用的引力源进行测G溯源,该引力场装置采用不同吸引质量配置产生水平方向均匀、竖直方向轴对称的引力场,引力加速度变化及其不确定度均在其设定范围内,能有效提高重力仪标定的可靠性,实现对重力仪的高精度标定。本申请区别于传统重力仪标定方法,通过高精度测G溯源,可验证引力场装置中引力源各项参数的可靠性和准确性,提供一条与电磁力解耦的,可溯源至万有引力定律的重力仪标定方法和技术,并通过更换配置的方法,可大幅度提高其精度以及适用范围。

    一种亚微米精度非接触式球内外表面间距测量的装置

    公开(公告)号:CN114199150A

    公开(公告)日:2022-03-18

    申请号:CN202111389764.0

    申请日:2021-11-22

    Abstract: 本发明公开了一种亚微米精度非接触式球内外表面间距测量的装置,包括:标准具、激光模块、光路模块、图像采集处理模块和光路对准模块;激光模块用于发射并测量波长可溯源的激光光束;标准具放置于待测球体内侧或外侧,用于反射激光并与球面反射光形成干涉条纹;光路模块用于实现激光光束的反射与对准;图像采集处理模块用于接收所述干涉条纹,存储并处理采集的干涉条纹图像;光路对准模块用于调节球心连线与所述激光光束的平行。本发明通过标准具角度二维调制技术确定球内表面间距极小值和外表面间距极大值,结合球直径,实现球心间距的亚微米精度测量。由内、外表面间距分别得到的球心间距,两结果相互验证,提高测量结果可靠性。

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