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公开(公告)号：CN112000584A
公开(公告)日：2020-11-27
申请号：CN202011160052.7
申请日：2020-10-27
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明涉及程序调试技术领域，提供一种基于IDE调试框架的用于CPU程序的调试方法、调试系统以及存储介质。所述调试方法包括：根据CPU程序的调试状态创建与所述调试状态相对应的启动程序；判断所述启动程序的类型，根据所述启动程序的类型确定是否创建调试程序。本发明基于IDE调试框架改进用于CPU程序的调试方法，对调试的启动程序进行分类，根据启动程序的类型确定是否创建调试程序。在CPU程序处于调试状态时，在用户错误操作或多次点击Debug按钮情况下能够对已创建的调试程序进行保护，使IDE开发环境容错性更好，保证IDE开发环境处于健康状态，大大提升研发效率。
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公开(公告)号：CN108959980B
公开(公告)日：2020-10-27
申请号：CN201810826635.5
申请日：2018-07-25
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院
IPC: G06F21/75
Abstract: 本发明公开了一种安全芯片的公钥防护方法及公钥防护系统。该公钥防护方法包括以下内容：在公钥运算启动前，计算并存储所述安全芯片的配置寄存器中的所有初值的校验值；在公钥运算启动后，实时对所述安全芯片的配置寄存器中的值进行校验，若校验失败，则终止运算并报错。所述安全芯片的公钥防护方法，能够在不增加公钥算法的运算时间的前提下，实时对公钥算法模块的整个流程进行故障攻击的检测。
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公开(公告)号：CN111355225A
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：CN202010244294.8
申请日：2020-03-31
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
Abstract: 本发明提供一种电源钳位电路，属于集成电路芯片静电释放保护技术领域。所述电源钳位电路包括检测模块、启动模块以及泄放模块，还包括：反馈模块；所述检测模块包括电阻以及电容；所述反馈模块串联于所述电阻与所述电容之间；所述反馈模块包括第一二极管以及第二PMOS晶体管；所述第二PMOS晶体管的源极与所述电阻的第一端以及所述第一二极管的正极相连，所述第二PMOS晶体管的漏极与所述第一二极管的负极相连，所述第二PMOS晶体管的栅极与所述启动模块以及所述泄放模块相连。本发明通过增加反馈模块，在电源钳位电路导通时增加检测模块的阻抗，增大RC时间常数，延长泄放模块的导通时间，将静电荷彻底释放；在电源钳位电路不导通时，降低漏电流。
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公开(公告)号：CN110768671A
公开(公告)日：2020-02-07
申请号：CN201910990297.3
申请日：2019-10-17
Applicant: 西安交通大学 , 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: H03M1/10
Abstract: 本发明公开了一种用于逐次逼近型模数转换器的片外校准方法及系统，包括：包括以下步骤：向待校准ADC输入一正弦波；所述正弦波的频率与待校准ADC的采样频率满足相干采样的关系；采集待校准ADC的比较器的输出码值，根据比较器的输出码值计算获得所述正弦波数字码值；通过校准算法校准获得的所述正弦波数字码值，得到待校准ADC的电容阵列实际权重，将所述电容阵列实际权重写入待校准ADC的权重寄存器，完成校准；所述校准算法中，通过待校准ADC的信噪失真比的大小来衡量电容权重的失配程度。本发明能够在不影响ADC的正常工作模式下且无需要进行额外功能配置下，通过计算调节电容权重的方式，达到高精度的模数转换。
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公开(公告)号：CN110649924A
公开(公告)日：2020-01-03
申请号：CN201911032351.X
申请日：2019-10-28
Applicant: 西安交通大学 , 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本发明属于模拟集成电路设计领域，公开了一种逐次逼近型模数转换器的数字自校准装置及方法，数字自校准装置包括校准开关、比较器和逻辑控制单元；数字自校准方法包括采样，选取首位校准电容单元进行电荷重分配，通过逻辑控制电容的下极板接地或者基准电压之间的切换，逐次逼近首位校准电容单元进行电荷重分配带来的电压差，通过比较器的输出进行量化计算，按照量化结果进行校准计算，得到校准结果作为校准权重值，存在寄存器中用于模数转换器征程工作使用，重复进行完成所有高位电容的校准。本方法通过复用计算电路，减少了电路面积，同时保证了模数转换器的高精度量化。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110636030A
公开(公告)日：2019-12-31
申请号：CN201810645786.0
申请日：2018-06-21
Applicant: 全球能源互联网研究院有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司 , 国网冀北电力有限公司 , 国家电网有限公司
IPC: H04L29/06
Abstract: 本发明提供了一种电力移动终端的层次化安全管控方法及系统，所述方法包括：判断电力移动终端接收的安全策略是否符合完整性要求，同时判断所述安全策略是否与已执行的安全策略存在冲突，最后根据所述安全策略与所述已执行的安全策略的优先级选择需要执行的安全策略并监测反馈策略的执行状态；在下发所述安全策略之前，还包括通过定义策略的类型，违规响应动作和优先级生成所述安全策略。本发明可以应用于目前营销、运检等不同专业的电力移动作业终端中，确保终端依据制定的安全管控策略工作合规，实时阻断各类异常，解决电力移动作业终端面临的集中安全管理难题，确保电力移动作业终端安全稳定运行。
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公开(公告)号：CN110504185A
公开(公告)日：2019-11-26
申请号：CN201910798587.8
申请日：2019-08-27
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC: H01L21/66
Abstract: 本发明公开了一种ESD保护单元的测试及加固方法，ESD保护单元设置在待测试芯片中，包括：对待测试芯片施加ESD放电应力；对待测试芯片的管脚进行监测，根据监测结果判断是否为ESD失效；若判断结果为ESD失效，则对待测试芯片进行开封，通过结构分析确定待测试芯片的ESD保护单元中的失效点；对ESD保护单元中的失效点进行加固仿真测试；在测试结果满足要求时，对待测试芯片进行加固；对加固后的芯片重新施加ESD放电应力，并进行监测，直至结果判断为ESD有效为止。本实施例提供的ESD保护单元的测试及加固方法，通过EDA软件对ESD保护单元进行仿真测试，保证芯片通过ESD设计要求并在正常工作状态下具备较高的鲁棒性。
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公开(公告)号：CN109977023A
公开(公告)日：2019-07-05
申请号：CN201910266964.3
申请日：2019-04-03
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明公开了一种支持调试权限控制的CPU芯片仿真器，包括：仿真器硬件以及仿真器软件。仿真器硬件包括主板，主板包括电源模块、芯片原型及调试线，且芯片原型内置有调试权限控制模块；以及仿真器软件通过调试线与仿真器硬件通信连接，且仿真器软件内置有调试权限操作模块；其中，仿真器软件通过调试权限操作模块对仿真器硬件中的调试权限控制模块进行操作，从而实现对仿真器硬件的调试权限的打开或关闭。借此，本发明的支持调试权限控制的CPU芯片仿真器，结构简单合理，仿真器软件和仿真器硬件的握手操作实现机制更安全。
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公开(公告)号：CN105183978B
公开(公告)日：2019-01-01
申请号：CN201510557112.1
申请日：2015-09-02
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国家电网公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国网浙江省电力公司
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种芯片设计阶段可靠性评估方法和装置，其中，该方法包括：根据确定的芯片功能划分功能模块，并根据所述功能模块的需求进行网表设计；根据BSIM器件模型对所述网表进行前仿真，当前仿真结果满足所述功能模块的需求时，进行版图绘制；在版图绘制完成后，提取布线后的寄生的电容和电阻，根据BSIM器件模型对提取后的网表进行后仿真；当后仿真结果满足所述功能模块的需求时，根据预先建立的老化BSIM器件模型再次进行仿真；当再次仿真结果满足所述功能模块的需求时，则进行制版流片。本发明的芯片设计阶段可靠性评估方法和装置，与传统的开发流程相比，可以缩小产品的开发周期，减少修改光刻板的次数，进而降低开发成本。
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公开(公告)号：CN109100635A
公开(公告)日：2018-12-28
申请号：CN201810756556.1
申请日：2018-07-11
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院
IPC: G01R31/28 , G01R31/317
Abstract: 本发明公开了一种对多通道金属屏蔽布线层进行完整性检测的电路及方法。该电路包括随机数产生电路和信号比对电路。随机数产生电路用于产生随机数序列，每一路随机数均通过两个传输通道进行传输，所述两个传输通道分别为所述多通道金属屏蔽布线层和所述芯片的下层金属线；信号比对电路对所述两个传输通道输出至所述信号比对电路的随机数信号进行比对，当比对失败的次数超过一定数值，则认为该芯片的多通道金属屏蔽布线层受到攻击并产生报警信号。所述对多通道金属屏蔽布线层进行完整性检测的电路及方法能够准确地检测多通道金属屏蔽布线层是否受到攻击，避免走线内信号干扰造成的误判。
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