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公开(公告)号：CN104375078A
公开(公告)日：2015-02-25
申请号：CN201410637934.6
申请日：2014-11-06
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G01R31/317
Abstract: 一种扫描测试锁存器宏单元及扫描测试方法，本发明的扫描测试设计方法通过定制的扫描测试宏单元，并结合特殊的设计流程，能够利用普通针对D触发器的扫描测试设计方法产生针对锁存器单元的基于结构的ATPG测试向量，解决现有基于锁存器设计的数字专用集成电路不易进行可测性设计开发，测试向量故障覆盖率低，时序分析复杂的问题，大幅度提高了芯片测试的故障覆盖率，保证了芯片测试的有效性和完备性，主要应用于基于锁存器设计的数字专用集成电路的测试向量开发。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN205564744U
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201521101385.7
申请日：2015-12-25
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 一种具有两路低时序偏差BIU的ARINC 659总线控制电路，将两路ARINC 659接口单元、一个8051单片机，一路I2C、一路UART、一路SPI和一路CAN总线接口集成在同一总线控制电路上；在该电路的物理实现过程中，在管脚排布阶段将两路BIU的管脚进行对称排布，将其它功能模块的管脚按照功能类别和工作频率排布，在版图布局阶段将两路BIU的逻辑单元和存储单元进行对称布局，并将其它逻辑功能模块根据工作频率分别布局。本实用新型的总线控制电路大幅度提高了单一芯片的集成度，其管脚排布和版图布局方法有效解决了两路ARINC 659BIU的时序偏差问题，大幅度减少芯片内部的布线交叉，降低了不同工作频率模块之间的干扰，保证总线控制电路工作的稳定可靠。
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公开(公告)号：CN102541474A
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201110459238.7
申请日：2011-12-29
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天科技集团公司第九研究院第七七二研究所
IPC: G06F3/06
Abstract: 本发明公开了一种USB读卡控制器，包括：数据缓冲区管理模块、实现设备的端点层的USB设备接口模块、对存储卡操作流程进行控制的存储卡接口模块、对数据进行读写控制的数据读写控制模块。采用本发明减小了USB读卡控制器的电路规模，并且提高了数据的传输速率。
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公开(公告)号：CN102542110A
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201110459205.2
申请日：2011-12-29
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天科技集团公司第九研究院第七七二研究所
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种应用于移动存储SOC芯片的仿真验证方法。包括：建立存储器模块的步骤；建立兼容性产生机制的步骤；建立检测点的步骤和产生激励数据进行检测的步骤。采用本发明实现对移动存储SOC芯片的功能验证。
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公开(公告)号：CN102541474B
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201110459238.7
申请日：2011-12-29
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天科技集团公司第九研究院第七七二研究所
IPC: G06F3/06
Abstract: 本发明公开了一种USB读卡控制器，包括：数据缓冲区管理模块、实现设备的端点层的USB设备接口模块、对存储卡操作流程进行控制的存储卡接口模块、对数据进行读写控制的数据读写控制模块。采用本发明减小了USB读卡控制器的电路规模，并且提高了数据的传输速率。
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公开(公告)号：CN102542110B
公开(公告)日：2014-04-09
申请号：CN201110459205.2
申请日：2011-12-29
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 中国航天科技集团公司第九研究院第七七二研究所
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种应用于移动存储SOC芯片的仿真验证方法。包括：建立存储器模块的步骤；建立兼容性产生机制的步骤；建立检测点的步骤和产生激励数据进行检测的步骤。采用本发明实现对移动存储SOC芯片的功能验证。
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